Author: Gilbert Le Gac (auteur d'une thèse de sciences.)
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ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 177
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ETUDE DU BRUIT DE FOND DE TRANSISTORS BIPOLAIRES COMPORTANT 4 PARTIES: ETUDE THEORIQUE DE LA ZONE ACTIVE DU COMPOSANT EN PRENANT EN COMPTE LES EFFETS DE LA DEFOCALISATION DES LIGNES DE COURANT EMETTEUR, PRISE EN COMPTE DES ZONES PASSIVES ET DES ELEMENTS PARASITES, DESCRIPTION DES TECHNIQUES D'IDENTIFICATION DES PARAMETRES DU MODELE ET DES METHODES DE MESURE DU FACTEUR DE BRUIT, CONFRONTATION DES RESULTATS THEORIQUES ET EXPERIMENTAUX.
Contribution à l'étude du bruit de fond des transistors bipolaires
Author: Gilbert Le Gac (auteur d'une thèse de sciences.)
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Languages : fr
Pages : 177
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ETUDE DU BRUIT DE FOND DE TRANSISTORS BIPOLAIRES COMPORTANT 4 PARTIES: ETUDE THEORIQUE DE LA ZONE ACTIVE DU COMPOSANT EN PRENANT EN COMPTE LES EFFETS DE LA DEFOCALISATION DES LIGNES DE COURANT EMETTEUR, PRISE EN COMPTE DES ZONES PASSIVES ET DES ELEMENTS PARASITES, DESCRIPTION DES TECHNIQUES D'IDENTIFICATION DES PARAMETRES DU MODELE ET DES METHODES DE MESURE DU FACTEUR DE BRUIT, CONFRONTATION DES RESULTATS THEORIQUES ET EXPERIMENTAUX.
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Languages : fr
Pages : 177
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ETUDE DU BRUIT DE FOND DE TRANSISTORS BIPOLAIRES COMPORTANT 4 PARTIES: ETUDE THEORIQUE DE LA ZONE ACTIVE DU COMPOSANT EN PRENANT EN COMPTE LES EFFETS DE LA DEFOCALISATION DES LIGNES DE COURANT EMETTEUR, PRISE EN COMPTE DES ZONES PASSIVES ET DES ELEMENTS PARASITES, DESCRIPTION DES TECHNIQUES D'IDENTIFICATION DES PARAMETRES DU MODELE ET DES METHODES DE MESURE DU FACTEUR DE BRUIT, CONFRONTATION DES RESULTATS THEORIQUES ET EXPERIMENTAUX.
Contribution à l'étude des effets de surface sur les transistors bipolaires tétrodes
Author: Michèle Roux-Nogatchewsky (auteur d'une thèse de sciences.)
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Languages : fr
Pages : 162
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ETUDE DE L'INFLUENCE D'UN RAYONNEMENT IONISANT SUR LES PROPRIETES DE BRUIT DE FOND DE TRANSISTORS. LES PROBLEMES D'IRRADIATION ET DE SURFACE SONT TRES LIES DE SORTE QUE LE RAYONNEMENT CONSTITUE UN OUTIL PERMETTANT DE MIEUX CONNAITRE LES PTES DE SURFACE ET LEUR INFLUENCE SUR LE COMPORTEMENT ELECTRIQUE DU COMPOSANT. DESCRIPTION DU PROCEDE DE FABRICATION, ET A PARTIR DE L'ANALYSE DES CARACTERISTIQUES EN REGIME STATIQUE ET DU BRUIT DE FOND AUX BF ET MF, IDENTIFICATION DES MECANISMES PHYSIQUES REGISSANT LE COMPORTEMENT DES ZONES SUPERFICIELLES ET ESTIMATION DES PARAMETRES SPECIFIQUES DE LA COUCHE D'OXYDE ET DE L'INTERFACE. INFLUENCE DU RAYONNEMENT, ETUDE DES MECANISMES DE CONDUCTION, ETUDE DES VARIATIONS DES PARAMETRES DE SURFACE INFLUENCANT LES CARACTERISTIQUES STATIQUES DU TRANSISTOR ET IDENTIFICATION DES PHENOMENES PHYSIQUES. MISE EN EVIDENCE DES EFFETS DE RADIATION SUR LES SOURCES DE BRUIT. REGLES DE POLARISATION POUR MINIMISER LES EFFETS DE RAYONNEMENTS SUR LE BRUIT DE FOND
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Languages : fr
Pages : 162
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ETUDE DE L'INFLUENCE D'UN RAYONNEMENT IONISANT SUR LES PROPRIETES DE BRUIT DE FOND DE TRANSISTORS. LES PROBLEMES D'IRRADIATION ET DE SURFACE SONT TRES LIES DE SORTE QUE LE RAYONNEMENT CONSTITUE UN OUTIL PERMETTANT DE MIEUX CONNAITRE LES PTES DE SURFACE ET LEUR INFLUENCE SUR LE COMPORTEMENT ELECTRIQUE DU COMPOSANT. DESCRIPTION DU PROCEDE DE FABRICATION, ET A PARTIR DE L'ANALYSE DES CARACTERISTIQUES EN REGIME STATIQUE ET DU BRUIT DE FOND AUX BF ET MF, IDENTIFICATION DES MECANISMES PHYSIQUES REGISSANT LE COMPORTEMENT DES ZONES SUPERFICIELLES ET ESTIMATION DES PARAMETRES SPECIFIQUES DE LA COUCHE D'OXYDE ET DE L'INTERFACE. INFLUENCE DU RAYONNEMENT, ETUDE DES MECANISMES DE CONDUCTION, ETUDE DES VARIATIONS DES PARAMETRES DE SURFACE INFLUENCANT LES CARACTERISTIQUES STATIQUES DU TRANSISTOR ET IDENTIFICATION DES PHENOMENES PHYSIQUES. MISE EN EVIDENCE DES EFFETS DE RADIATION SUR LES SOURCES DE BRUIT. REGLES DE POLARISATION POUR MINIMISER LES EFFETS DE RAYONNEMENTS SUR LE BRUIT DE FOND
Contribution à l'étude du bruit de fond des transistors à jonctions et notamment des bruits "en 1
Author: Gabriel Blasquez
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Languages : fr
Pages : 302
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Languages : fr
Pages : 302
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Contribution à l'étude du bruit de fond en 1/f des transistors au silicium
Author: Jean-Marie Ribeyrol
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Languages : fr
Pages : 96
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Languages : fr
Pages : 96
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Reliability of Electronic Components
Author: Titu I. Bajenescu
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 3642585051
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 547
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This application-oriented professional book explains why components fail, addressing the needs of engineers who apply reliability principles in design, manufacture, testing and field service. A detailed index, a glossary, acronym lists, reliability dictionaries and a rich specific bibliography complete the book.
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 3642585051
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 547
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This application-oriented professional book explains why components fail, addressing the needs of engineers who apply reliability principles in design, manufacture, testing and field service. A detailed index, a glossary, acronym lists, reliability dictionaries and a rich specific bibliography complete the book.
Contribution a l'étude du bruit de fond des transistors plans au silicium
Author: F.Xavier Mateu Pérez
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Languages : fr
Pages : 12
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Languages : fr
Pages : 12
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Contribution à l'étude du bruit de fond des transistors à jonctions et notamment des bruits “en 1
Author: J. M. Blasquez
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Languages : fr
Pages : 302
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Languages : fr
Pages : 302
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Contribution à l’étude du bruit de fond des transistors à jonctions et notamment des bruits "en 1/F" et "en creneaux"
Author: Gabriel Blasquez
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Languages : fr
Pages : 302
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Languages : fr
Pages : 302
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Contribution à l'étude du bruit de fond basse fréquence des transistors à effet de champ à grille isolée
Author: José Dépis
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Languages : fr
Pages : 314
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Pages : 314
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Contribution à l'étude de l'analyse spectrale du bruit de fond des transistors aux très hautes fréquences
Author: Alain de Cacqueray
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Languages : fr
Pages : 145
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Languages : fr
Pages : 145
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