Techniques de caractérisation sous vide des couches minces optiques PDF Download
Are you looking for read ebook online? Search for your book and save it on your Kindle device, PC, phones or tablets. Download Techniques de caractérisation sous vide des couches minces optiques PDF full book. Access full book title Techniques de caractérisation sous vide des couches minces optiques by Bernard Schmitt (auteur d'une thèse de physique). Download full books in PDF and EPUB format.
Author: Bernard Schmitt (auteur d'une thèse de physique)
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 180
Get Book Here
Book Description
DEVELOPPEMENT D'UNE TECHNIQUE DE DETERMINATION DE L'INDICE DE REFRACTION ET DE L'EPAISSEUR AU COURS DU DEPOT DES COUCHES. LES RESULTATS DE CES MESURES CLASSIQUES EFFECTUEES A L'AIR AU MOYEN D'UN SPECTROPHOTOMETRE DE PRECISION. APPLICATION AU CONTROLE PRECIS DE LA FABRICATION DE FILTRES MULTIDIELECTRIQUES
Author: Bernard Schmitt (auteur d'une thèse de physique)
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 180
Get Book Here
Book Description
DEVELOPPEMENT D'UNE TECHNIQUE DE DETERMINATION DE L'INDICE DE REFRACTION ET DE L'EPAISSEUR AU COURS DU DEPOT DES COUCHES. LES RESULTATS DE CES MESURES CLASSIQUES EFFECTUEES A L'AIR AU MOYEN D'UN SPECTROPHOTOMETRE DE PRECISION. APPLICATION AU CONTROLE PRECIS DE LA FABRICATION DE FILTRES MULTIDIELECTRIQUES
Author: Bernard Schmitt
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 191
Get Book Here
Book Description
Author: Patrick Chaton
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 218
Get Book Here
Book Description
DANS CE MEMOIRE LES TROIS PRINCIPALES TECHNIQUES DE CARACTERISATION OPTIQUE LA SPECTROPHOTOMETRIE, L'ELLIPSOMETRIE, L'OPTIQUE GUIDEE SONT COMPAREES. UN EFFORT EST PORTE SUR LA MESURE DE L'INHOMOGENEITE D'INDICE DE REFRACTION. IL RESSORT DE CETTE COMPARAISON QUE LA SPECTROPHOTOMETRIE ET L'ELLIPSOMETRIE SONT BIEN ADAPTEES A LA DETERMINATION DES INHOMOGENEITES D'INDICE. DEUX METHODES D'ANALYSE AUTOMATIQUE DES SPECTRES MESURES SONT DEVELOPPEES, ELLES SONT ILLUSTREES PAR L'ETUDE DES COUCHES MINCES DE DIOXYDE DE TITANE REALISEES EN PULVERISATION PAR FAISCEAUX D'IONS. A LA SUITE DE CETTE ETUDE, LES INSUFFISANCES DU MODELE DE COUCHES SONT MISES EN EVIDENCE. ON MONTRE EN PARTICULIER QUE LA QUALITE DES SUBSTRATS, ET LA MAITRISE DE L'UNIFORMITE DE DEPOT SONT INDISPENSABLES A LA REALISATION D'UNE CARACTERISATION OPTIQUE SATISFAISANTE. POUR QUALIFIER LES SUBSTRATS ET LE DEFAUT D'UNIFORMITE, UN APPAREIL DE CARTOGRAPHIE DE LA LUMIERE DIFFUSEE EST UTILISE
Author: André Ayral
Publisher:
ISBN: 9782271064301
Category : Ellipsometry
Languages : en
Pages : 181
Get Book Here
Book Description
Les couches minces ou très minces (d'épaisseurs comprises entre seulement quelques micromètres et quelques nanomètres) sont omniprésentes dans notre environnement, que ce soit à l'état naturel, dans les mondes du vivant et minéral, ou à l'état synthétique, dans les objets manufacturés : membranes biologiques, couches d'altération, revêtements de protection, films à propriétés conductrices ou isolantes, couches colorées, membranes synthétiques, capteurs. Leurs propriétés d'usage dépendent à la fois de leur composition chimique globale et de leur microstructure. L'optimisation de ces propriétés nécessite donc une caractérisation fine de la microstructure. Cependant leur faible épaisseur rend particulièrement complexe cette opération. Cet ouvrage présente différentes techniques de caractérisation fondées sur l'analyse des interactions entre la matière et un faisceau électromagnétique ou neutronique. Il expose les bases théoriques et les derniers développements des techniques ellipsométriques, de réflectométrie (X, neutronique et optique) et de diffraction des rayons X. Les auteurs des différents chapitres, spécialistes reconnus, proposent des textes synthétiques assortis de références bibliographiques à partir desquelles le lecteur pourra approfondir ses connaissances. Cet ouvrage sera ainsi fort utile à tous les ingénieurs, chercheurs et étudiants souhaitant s'initier ou se perfectionner aux techniques de caractérisation de films minces.
Author: Société Française du Vide
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages :
Get Book Here
Book Description
Author: Gilles Deniau
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 201
Get Book Here
Book Description
ON DEVELOPPE UNE METHODE D'OPTIQUE GUIDEE POUR DETERMINER LES CONSTANTES OPTIQUES DES COUCHES MINCES DIELECTRIQUES OBTENUES PAR DEPOT SOUS VIDE, QUI UTILISE LE REPERAGE DES ANGLES DE SYNCHRONISME CORRESPONDANT AUX CONDITIONS DE PROPAGATION DES MODES. RESULTATS EXPERIMENTAUX CONCERNANT DES COUCHES DE SULFURE DE ZINC ET DE DIOXYDE DE TITANE
Author: Patrick Chaton
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 0
Get Book Here
Book Description
Author: FRANCOIS.. RAOULT
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 136
Get Book Here
Book Description
DESCRIPTION DES METHODES DE MESURE ET DE CONTROLE ET DEFINITION DES CONDITIONS D'EVAPORATION APPLIQUEES A LA CROISSANCE DES COUCHES DONT ON ETUDIE LA STABILISATION PAR RECUIT SOUS VIDE. LOIS EMPIRIQUES PERMETTANT DE PREVOIR LA RESISTIVITE A TEMPERATURE AMBIANTE DES COUCHES STABILISEES ET ALLURE DES CARACTERISTIQUES DE RESISTIVITE DE CELLES-CI EN FONCTION DE LA TEMPERATURE, SELON LA NATURE DU MATERIAU EVAPORE
Author: Mohammed Regragui
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages :
Get Book Here
Book Description
Author: Annie Baudrant
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 158
Get Book Here
Book Description
