Études théoriques des couches minces à base d'électrocéramique

Études théoriques des couches minces à base d'électrocéramique PDF Author: Jan-Michael Albina
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 171

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Book Description
Les composants électroniques utilisant des couches minces à base d’oxydes de type perovskite sont très attractifs d’un point de vue technologique et scientifique en raison de leur fort potentiel comme solution alternative aux composés à base de Si. La fabrication et la croissance épitaxiale d’hétéro-structures en couches minces de quelques nanomètres d’épaisseur peuvent-être réalisées expérimentalement à partir de substrats monocristallins d’oxydes par des techniques, par exemple, de déposition par laser pulsé ou par épitaxie à jet moléculaire. Pour la fabrication de tels systèmes, il est important d’avoir des informations détaillées sur les structures et les barrières électroniques entre le film, le substrat et les électrodes. Des calculs par premiers principes basés sur la théorie de la fonctionnelle de la densité et utilisant une méthode à base mixte et à pseudo-potentiels ont été menés afin d’étudier les propriétés mécaniques et électroniques d’interfaces perovskite/perovskite. Les offsets de bandes entre un film diélectrique de SrTiO3 et un substrat isolant de LaAlO3 ainsi que les barrières de Schottky entre SrTiO3 et une électrode de SrRuO3 ont été calculés et analysés pour différentes terminaisons et translations latérales. En outre, pour une interface semi-cohérente SrTiO3/SrZrO3, un modèle utilisant des dislocations séparées par des régions cohérentes à été employé afin d’étudier l’influence des dislocations sur les barrières d’énergie et sur l’énergie mécanique de séparation à l’interface.Enfin l’impact de défauts structurels étendus sur les propriétés électriques de SrTiO3 à été étudié pour différentes orientations: (001), (110) et (111).

Études théoriques des couches minces à base d'électrocéramique

Études théoriques des couches minces à base d'électrocéramique PDF Author: Jan-Michael Albina
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Pages : 171

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Les composants électroniques utilisant des couches minces à base d’oxydes de type perovskite sont très attractifs d’un point de vue technologique et scientifique en raison de leur fort potentiel comme solution alternative aux composés à base de Si. La fabrication et la croissance épitaxiale d’hétéro-structures en couches minces de quelques nanomètres d’épaisseur peuvent-être réalisées expérimentalement à partir de substrats monocristallins d’oxydes par des techniques, par exemple, de déposition par laser pulsé ou par épitaxie à jet moléculaire. Pour la fabrication de tels systèmes, il est important d’avoir des informations détaillées sur les structures et les barrières électroniques entre le film, le substrat et les électrodes. Des calculs par premiers principes basés sur la théorie de la fonctionnelle de la densité et utilisant une méthode à base mixte et à pseudo-potentiels ont été menés afin d’étudier les propriétés mécaniques et électroniques d’interfaces perovskite/perovskite. Les offsets de bandes entre un film diélectrique de SrTiO3 et un substrat isolant de LaAlO3 ainsi que les barrières de Schottky entre SrTiO3 et une électrode de SrRuO3 ont été calculés et analysés pour différentes terminaisons et translations latérales. En outre, pour une interface semi-cohérente SrTiO3/SrZrO3, un modèle utilisant des dislocations séparées par des régions cohérentes à été employé afin d’étudier l’influence des dislocations sur les barrières d’énergie et sur l’énergie mécanique de séparation à l’interface.Enfin l’impact de défauts structurels étendus sur les propriétés électriques de SrTiO3 à été étudié pour différentes orientations: (001), (110) et (111).

Frontiers in Materials Processing, Applications, Research and Technology

Frontiers in Materials Processing, Applications, Research and Technology PDF Author: M. Muruganant
Publisher: Springer
ISBN: 9811048193
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 403

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Book Description
This volume comprises the select proceedings of FiMPART 2015. The volume covers advances in major areas of materials research under one umbrella. This volume covers all aspects of materials research, processing, fabrication, structure/property evaluation, applications of ferrous, non-ferrous, ceramic, polymeric materials and composites including biomaterials, materials for energy, fuel cells/hydrogen storage technologies, batteries, super-capacitors, nano-materials for energy and structural applications, aerospace structural metallic materials, bulk metallic glasses and other advanced materials. The book will be useful to researchers, students, and professional working in areas related to materials innovation and applications.

X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications

X-Ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications PDF Author: Jean Daillant
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 3540486968
Category : Science
Languages : en
Pages : 347

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Book Description
The reflection of and neutrons from surfaces has existed as an x-rays exp- imental for almost it is in the last technique fifty Nevertheless, only years. decade that these methods have become as of enormously popular probes This the surfaces and interfaces. to be due to of several appears convergence of intense different circumstances. These include the more n- availability be measured orders tron and sources that can over (so reflectivity x-ray many of and the much weaker surface diffuse can now also be magnitude scattering of thin films and studied in some the detail); growing importance multil- basic the realization of the ers in both and technology research; important which in the of surfaces and and role roughness plays properties interfaces; the of statistical models to characterize the of finally development topology its and its characterization from on roughness, dependence growth processes The of and to surface scattering experiments. ability x-rays neutro4s study four five orders of in scale of surfaces over to magnitude length regardless their and also their to ability probe environment, temperature, pressure, etc. , makes these the choice for buried interfaces often probes preferred obtaining information about the microstructure of often in statistical a global surfaces, the local This is manner to complementary imaging microscopy techniques, of such studies in the literature witnessed the veritable by explosion published the last few Thus these lectures will useful for over a resource years.