ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES JOINTS DE GRAINS DANS LES COUCHES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN OBTENUES PAR LA METHODE RAD

ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES JOINTS DE GRAINS DANS LES COUCHES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN OBTENUES PAR LA METHODE RAD PDF Author: RAIMOND.. SHARKO
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Pages : 186

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LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE MEMOIRE S'INSCRIT DANS LE CADRE DE RECHERCHES VISANT A L'AMELIORATION DES PROPRIETES ELECTRIQUES DE PHOTOPILES REALISEES A PARTIR DE MATERIAU POLYCRISTALLIN (RAD) DONT LES JOINTS DE GRAINS CONSTITUENT LES DEFAUTS PROBABLEMENT LES PLUS NEFASTES. LES AUTEURS ONT CONFRONTE L'ASPECT STRUCTURAL DES JOINTS, AINSI QUE LEUR ENVIRONNEMENT AVEC L'ASPECT ELECTRIQUE A L'AIDE DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ET L'ANALYSE EBIC

ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES JOINTS DE GRAINS DANS LES COUCHES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN OBTENUES PAR LA METHODE RAD

ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES JOINTS DE GRAINS DANS LES COUCHES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN OBTENUES PAR LA METHODE RAD PDF Author: RAIMOND.. SHARKO
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LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE MEMOIRE S'INSCRIT DANS LE CADRE DE RECHERCHES VISANT A L'AMELIORATION DES PROPRIETES ELECTRIQUES DE PHOTOPILES REALISEES A PARTIR DE MATERIAU POLYCRISTALLIN (RAD) DONT LES JOINTS DE GRAINS CONSTITUENT LES DEFAUTS PROBABLEMENT LES PLUS NEFASTES. LES AUTEURS ONT CONFRONTE L'ASPECT STRUCTURAL DES JOINTS, AINSI QUE LEUR ENVIRONNEMENT AVEC L'ASPECT ELECTRIQUE A L'AIDE DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ET L'ANALYSE EBIC

CONTRIBUTION A L'ETUDE DES COUCHES POLYCRISTALLINES DE SILICIUM DESTINEES AUX APPLICATIONS SCOLAIRES

CONTRIBUTION A L'ETUDE DES COUCHES POLYCRISTALLINES DE SILICIUM DESTINEES AUX APPLICATIONS SCOLAIRES PDF Author: Chantal Fontaine
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DETERMINATION PRECISE DE LA DESORIENTATION ENTRE CRISTAUX, DE L'OBSERVATION DE LEURS INTERFACES ET DES DEFAUTS QU'ILS CONTIENNENT. DISCUSSION DES RESULTATS EXPERIMENTAUX EN RELATION AVEC DES ETUDES EFFECTUEES SUR LES MEMES TYPES DE MATERIAUX PAR DES TECHNIQUES DIFFERENTES

ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DES JOINTS DE GRAINS DANS LE SILICIUM

ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DES JOINTS DE GRAINS DANS LE SILICIUM PDF Author: CHRISTIANE.. DIANTEILL
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APRES AVOIR DEVELOPPE, DANS UN PREMIER CHAPITRE, LES PHENOMENES PHYSIQUES REAGISSANT LA CREATION DE PAIRES ELECTRON-TROU DANS SI PAR UN FAISCEAU D'ELECTRONS, PRESENTATION, DANS LE SECOND CHAPITRE, DES DIFFERENTS ASPECTS DES JOINTS DE GRAINS DANS SI POLYCRISTALLIN: LEUR ACTIVITE ELECTRIQUE ET LEUR STRUCTURE CRISTALLINE. LE TROISIEME CHAPITRE EST CONSACRE AU PRINCIPE DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE EN MODE DE COURANT INDUITE (EBIC), APRES AVOIR DECRIT LES CARACTERISTIQUES DE JONCTIONS 8N ON SCHOTTKY NECESSAIRES A CETTE TECHNIQUE. LE QUATRIEME CHAPITRE PRESENTE LES MATERIAUX ETUDIES AINSI QUE LES METHODES DE PREPARATION DES ECHANTILLONS POUR LA METHODE EBIC ET LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION. LE DERNIER CHAPITRE EXPOSE LES RESULTATS DE CORRELATION ENTRE L'ACTIVITE ELECTRIQUE ET LA STRUCTURE CRISTALLINE DE JOINTS DE GRAINS PARTICULIERS. ETUDE DU ROLE DES IMPURETES PAR DES RECUITS

Etude des caractéristiques cristallographiques et électriques des défauts étendus dans les couches de silicium polycristallin obtenues par la méthode R.A.D.

Etude des caractéristiques cristallographiques et électriques des défauts étendus dans les couches de silicium polycristallin obtenues par la méthode R.A.D. PDF Author: Catherine Texier
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LES COUCHES OBTENUES SONT FORMEES DE GRAINS DE GRANDES DIMENSIONS ALLONGES DANS LE SENS DU GRADIENT THERMIQUE. EXISTENCE DE JOINTS DE GRAINS, DE MACLES ET DE DISLOCATIONS A L'INTERIEUR DES GRAINS QUI SONT AUTANT DE CENTRES DE RECOMBINAISONS POSSIBLES. CARACTERISATION DES CELLULES SOLAIRES REALISEES A PARTIR DE CES COUCHES: TENSION DE CIRCUIT OUVERT V::(CO), FACTEUR DE FORME FF ET PHOTOCOURANT IPH. ETUDE QUALITATIVE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE EN MODE COURANT INDUIT, DES DEFAUTS ELECTRIQUES DES COUCHES PAR LEUR CONTRASTE. MESURE DES LONGUEURS DE DIFFUSION ET VITESSE DE RECOMBINAISON REDUITE SUR LES DEFAUTS S::(F)

ETUDE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DE JOINTS DE GRAINS DE FLEXION ET DE TORSION DANS LE SILICIUM PAR LA METHODE DES FRANGES

ETUDE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DE JOINTS DE GRAINS DE FLEXION ET DE TORSION DANS LE SILICIUM PAR LA METHODE DES FRANGES PDF Author: MARCELLINE.. DEYEME OUEDRAOGO
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DES JOINTS DE FLEXION ET DE TORSION EN ORIENTATION DE COINCIDENCE ONT ETE ETUDIES PAR LA METHODE DES FRANGES AFIN DE DETERMINER LA TRANSLATION ENTRE LES DEUX CRISTAUX ADJACENTS. LA DETERMINATION DU VECTEUR TRANSLATION DANS LA MACLE 3 211 A PERMIS DE CONFIRMER LES RESULTATS EXPERIMENTAUX (FRANGES ET MEHR) ET THEORIQUES (CALCULS ENERGETIQUES) DEJA PROPOSES ET DE MONTRER QUE CETTE TRANSLATION N'A PAS ETE SENSIBLE AU TRAITEMENT THERMIQUE EFFECTUE (950#OC-92 H). L'ANALOGIE DES CONTRASTES OBSERVES ENTRE LA MACLE ASYMETRIQUE 3 511//111 ET LA MACLE SYMETRIQUE 3 211 NOUS A AMENE A CONSIDERER QUE DANS LE JOINT 3 511//111, DES FACETTES 211 SONT A L'ORIGINE DE LA TRANSLATION. LE JOINT DE TORSION 9 OBSERVE EST FACETTE SELON LES PLANS 511 ET 410. L'EXISTENCE D'UNE TRANSLATION POUR CES FACETTES A ETE MISE EN EVIDENCE EN MET ET LA COMPARAISON ENTRE LES CONTRASTES OBSERVES SUR LES DEUX FACETTES MONTRE QU'ELLES ONT DES VECTEURS TRANSLATION DIFFERENTS. LA FACETTE 511 EST CARACTERISEE PAR UN VECTEUR TRANSLATION D'INDICES 1/67525#1//1/20102#2, DETERMINE A PARTIR DU POTENTIEL DE KEATING ET EN ACCORD AVEC LES PROFILS OBSERVES ET SIMULES

CARACTERISATION STRUCTURALE ET ELECTRIQUE DES JOINTS DE GRAINS DANS LES CELLULES SOLAIRES AU SILICIUM POLYCRISTALLIN

CARACTERISATION STRUCTURALE ET ELECTRIQUE DES JOINTS DE GRAINS DANS LES CELLULES SOLAIRES AU SILICIUM POLYCRISTALLIN PDF Author: Abdouraman Bary
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CARACTERISATION, PAR MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE ET PAR LA TECHNIQUE DU COURANT INDUIT PAR FAISCEAU ET ELECTRON, DE L'ACTIVITE ELECTRIQUE DES JOINTS DE GRAINS. ETUDE PAR MICROSCOPE ELECTRONIQUE DE TRANSMISSION, DE LEUR STRUCTURE CRISTALLOGRAPHIQUE. MISE EN EVIDENCE D'UNE CORRELATION ETROITE ENTRE L'ACTIVITE ELECTRONIQUE DES JOINTS DE GRAINS ET LEUR STRUCTURE CRISTALLOGRAPHIQUE ET LA SEGREGATION D'IMPURETES

ETUDE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES JOINTS DE GRAINS DANS LES POLYTYPES 4H ET 6H DU CARBURE DE SILICIUM

ETUDE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES JOINTS DE GRAINS DANS LES POLYTYPES 4H ET 6H DU CARBURE DE SILICIUM PDF Author: ELISABETH.. LAURENT-PINSON
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UNE ETUDES DES JOINTS DE GRAINS A ETE REALISEE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DANS LE CARBURE DE SILICIUM ALPHA. DIFFERENTES NUANCES ONT ETE ETUDIEES DONT UNE APRES DEFORMATION A 1600 C. L'ETUDE CRISTALLOGRAPHIQUE DES JOINTS DE GRAINS Q NECESSITE L'ETABLISSEMENT DES LISTES DE COINCIDENCE. LES MODELES DES RESEAUX DE COINCIDENCE ONT ALORS ETE APPLIQUES AUX DEUX POLYTYPES 4H ET 6H AINSI QU'AU CAS PARTICULIER DES JOINTS ENTRE POLYTYPES DIFFERENTS. UN NOMBRE IMPORTANT DE RELATIONS D'ORIENTATION A ETE DETERMINE EXPERIMENTALEMENT DANS LES DIFFERENTES NUANCES. UNE DESCRIPTION EN COINCIDENCE TRIDIMENSIONNELLE A PU ETRE REALISEE DANS UN NOMBRE LIMITE DE CAS ET L'ECART A LA POSITION DE COINCIDENCE EST EN GENERAL IMPORTANT. LES RESULTATS EXPERIMENTAUX ONT MONTRE L'IMPORTANCE DE LA NATURE CRISTALLOGRAPHIQUE DU PLAN DU JOINT. SI LA CONFIGURATION LA PLUS FREQUENTE EST DEFINIE PAR LE PLAN DE BASE ET UN PLAN D'INDICES ELEVES, D'AUTRES PLANS PEUVENT DONNER LIEU A DES CONFIGURATIONS DE BASSES ENERGIES. UNE BONNE CONTINUITE DES PLANS PRISMATIQUES DE PART ET D'AUTRE DE L'INTERFACE EST OBSERVEE FREQUEMMENT. L'OBSERVATION DES JOINTS DE GRAINS DANS LA NUANCE DEFORMEE A MIS EN EVIDENCE UNE MODIFICATION IMPORTANTE DU PLAN DE JOINT SE TRADUISANT PAR UN FACETTAGE TRES FREQUENT. DES RESEAUX DE DISLOCATIONS ONT ETE OBSERVES DANS LES JOINTS DE GRAINS DU MATERIQU DEFORME ET INTERPRETES COMME UNE CONSEQUENCE D'UN GLISSEMENT INTERGRANULQIRE. DES IMAGES HAUTE RESOLUTION DE QUELQUES INTERFACES ONT REVELE LA COMPLEXITE DE CELLES-CI, TRES SOUVENT MICROFACETTEES A L'ECHELLE DE LA MAILLE DU CRISTAL

ANALYSE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRANSMISSION DE JOINTS DE GRAINTS ET DE DEFAUTS DANS DU SILICIUM POLYCRISTALLIN SOUMIS A UNE OXYDATION THERMIQUE

ANALYSE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRANSMISSION DE JOINTS DE GRAINTS ET DE DEFAUTS DANS DU SILICIUM POLYCRISTALLIN SOUMIS A UNE OXYDATION THERMIQUE PDF Author: ALAIN.. MAGOARIEC
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LES DIVERSES TECHNIQUES DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRANSMISSION ONT ETE MISES EN UVRE POUR ETUDIER LES PROPRIETES STRUCTURALES DU SILICIUM POLYCRISTALLIN, MATERIAU D'UN USAGE CROISSANT DANS SES APPLICATIONS SOLAIRES ET ELECTRONIQUES. LES PROCEDES STANDARD DE REPERAGE DES DIRECTIONS CRISTALLOGRAPHIQUES, UTILISANT LES ANGLES D'INCLINAISON DE LA PLATINE PORTE-OBJET SONT GENERALEMENT LIMITES EN PRECISION. UNE ANALYSE FINE DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE, COUPLEE A UN TRAITEMENT STATISTIQUE DES RESULTATS, A PERMIS DE MONTRER QUE L'ORIENTATION RELATIVE DE DEUX GRAINS ADJACENTS PEUT-ETRE DETERMINEE AVEC UNE INCERTITUDE D'UNE MINUTE D'ARC. OUTRE SA PRECISION, CETTE TECHNIQUE PRESENTE L'INTERET D'ETRE ADAPTABLE SUR UN SYSTEME INFORMATIQUE AFIN D'ETRE AUTOMATISEE. L'OXYDATION THERMIQUE DU SILICIUM EST UNE OPERATION COURANTE DANS LA FABRICATION DES DISPOSITIFS. NOS OBSERVATIONS SUR DEUX TYPES DE MATERIAUX METTENT EN EVIDENCE UNE FORTE RELATION ENTRE LA MORPHOLOGIE DES INTERFACES ET LA QUALITE CRISTALLINE DES SUBSTRATS. DANS LE VOLUME DES MATERIAUX, UNE ATTENTION PARTICULIERE EST PORTEE A L'IDENTIFICATION DES DEFAUTS. IL RESSORT DE CES EXPERIENCES QU'A L'ISSUE DE RECUIT, LES MECANISMES DE SEGREGATION ET DE PRECIPITATION DES IMPURETES NE DONNENT PAS D'EFFETS OBSERVABLES DANS DES STRUCTURES COMPORTANT UNE FORTE DENSITE DE MACLES (111)#3, (211)#3 ET DE DEFAUTS D'EMPILEMENT

Observation en microscopie électronique de bicristaux de silicium Σ

Observation en microscopie électronique de bicristaux de silicium Σ PDF Author: Mario Martinez-Hernandez
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Pages : 163

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Après une brève revue des éléments principaux de la structure des joints et des interactions dislocations joints de grains, étude par microscopie électronique en transmission du mécanisme de déformation plastique des bicristaux du titre. Discussion des résultats obtenus

ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DE DEFAUTS GENERES LORS DE L'ELABORATION DE CELLULES SOLAIRES A PARTIR DE SILICIUM POLYCRISTALLIN RAD

ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DE DEFAUTS GENERES LORS DE L'ELABORATION DE CELLULES SOLAIRES A PARTIR DE SILICIUM POLYCRISTALLIN RAD PDF Author: TOUNES.. MOUDDA AZZEM
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Pages : 159

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DESCRIPTION DU SILICIUM POLYCRISTALLIN UTILISE A L'HEURE ACTUELLE DANS LA FABRICATION DES PHOTOPILES ET EN PARTICULIER DU SILICIUM RAD (RIBBON AGAINST DROP). LA QUALITE DES PHOTOPILES FABRIQUEES A PARTIR DE CES CRISTAUX DEPEND A LA FOIS DES DEFAUTS PRESENTS DANS LE MATERIAU DE BASE ET DES DEFAUTS SUPPLEMENTAIRES CREES LORS DES TRAITEMENTS THERMIQUES ULTERIEURS A LA CROISSANCE. ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES DEFAUTS CREES DANS LE VOLUME LORS DE L'ETAPE DE BRULAGE DU SUPPORT DANS L'OXYGENE ET DES DEFAUTS INDUITS PAR LE PROCESSUS D'ELABORATION DE LA JONCTION N**(+)/P PAR DIFFUSION DU PHOSPHORE (SOURCE POCL::(3))