DIFFRACTION DES RAYONS X PAR LES SOLIDES POLYCRISTALLINS. ASPECTS METHODOLOGIQUES DE LA DIFFRACTOMETRIE SEQUENTIELLE ET ANALYSE STRUCTURALE ET MICROSTRUCTURALE DE SOLIDES INORGANIQUES PDF Download
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Author: JACQUES.. PLEVERT
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 222
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Book Description
LE DIAGRAMME DE POUDRE OBTENU PAR LA DIFFRACTION DES RAYONS X EST SUSCEPTIBLE DE FOURNIR DES INFORMATIONS D'ORDRE STRUCTURAL ET D'ORDRE MICROSTRUCTURAL DES LORS QU'IL EST POSSIBLE D'Y EXTRAIRE LES COMPOSANTS INDIVIDUELS DES PICS DE BRAGG. L'INNOVATION INSTRUMENTALE ET L'EXPLOITATION DES DIFFRACTOGRAMMES A L'AIDE DE METHODES DE FITTING ONT ENTRE AUTRES CONDUIT A L'EMERGENCE DE CETTE DISCIPLINE. ELLE EST APTE DORENAVANT A DETERMINER L'ARRANGEMENT ATOMIQUE DE STRUCTURES CRISTALLINES. DE MEME, L'APPARITION DE DETECTEURS A LOCALISATION SPACIALE FAVORISE LE SUIVI DE L'EVOLUTION STRUCTURALE OU MICROSTRUCTURALE DES ECHANTILLONS SOUS L'INFLUENCE D'UN PARAMETRE DE PERTURBATION. NEANMOINS, LE DEVELOPPEMENT DE LA DIFFRACTION SEQUENTIALISEE INTRODUIT DES POINTS DELICATS DANS L'INTERPRETATION DES DIAGRAMMES 3D LORS DE TRANSFORMATIONS DE PHASES. IL S'AGIT DES EFFETS D'ORIENTATION PREFERENTIELLE DE CRISTALLITES SUR LA VARIATION DE L'INTENSITE INTEGREE DES RAIES DE DIFFRACTION LORS D'UNE TRANSFORMATION DE PHASE ALLOTROPIQUE D'UN IODURE DE CESIUM ET CADMIUM, ET DES EFFETS DE LA RECRISTALLISATION DURANT LA DECOMPOSITION THERMIQUE D'UN NOUVEL HYDROXY-NITRATE DE CADMIUM. UN AUTRE POINT TRAITE DE LA DETERMINATION DE LA STRUCTURE DE CET HYDROXY-NITRATE DE CADMIUM PAR DIFFRACTION CONVENTIONNELLE EN INTEGRANT LES EFFETS MICROSTRUCTURAUX DU COMPOSE DANS LA PHASE D'AFFINEMENT. ENFIN, LES EFFETS MICROSTRUCTURAUX INDUISENT UNE GRANDE VARIETE DE FORME DE RAIES. QUELQUES PROFILS DE RAIES SONT PRESENTES A PARTIR D'EXEMPLES SELECTIONNES. UN EXAMEN PLUS ATTENTIF DES PROFILS SUPRA-LORENTZIENS PERMET DE PROPOSER UNE EXPLICATION SUR LEUR ORIGINE
Author: JACQUES.. PLEVERT
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Languages : fr
Pages : 222
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LE DIAGRAMME DE POUDRE OBTENU PAR LA DIFFRACTION DES RAYONS X EST SUSCEPTIBLE DE FOURNIR DES INFORMATIONS D'ORDRE STRUCTURAL ET D'ORDRE MICROSTRUCTURAL DES LORS QU'IL EST POSSIBLE D'Y EXTRAIRE LES COMPOSANTS INDIVIDUELS DES PICS DE BRAGG. L'INNOVATION INSTRUMENTALE ET L'EXPLOITATION DES DIFFRACTOGRAMMES A L'AIDE DE METHODES DE FITTING ONT ENTRE AUTRES CONDUIT A L'EMERGENCE DE CETTE DISCIPLINE. ELLE EST APTE DORENAVANT A DETERMINER L'ARRANGEMENT ATOMIQUE DE STRUCTURES CRISTALLINES. DE MEME, L'APPARITION DE DETECTEURS A LOCALISATION SPACIALE FAVORISE LE SUIVI DE L'EVOLUTION STRUCTURALE OU MICROSTRUCTURALE DES ECHANTILLONS SOUS L'INFLUENCE D'UN PARAMETRE DE PERTURBATION. NEANMOINS, LE DEVELOPPEMENT DE LA DIFFRACTION SEQUENTIALISEE INTRODUIT DES POINTS DELICATS DANS L'INTERPRETATION DES DIAGRAMMES 3D LORS DE TRANSFORMATIONS DE PHASES. IL S'AGIT DES EFFETS D'ORIENTATION PREFERENTIELLE DE CRISTALLITES SUR LA VARIATION DE L'INTENSITE INTEGREE DES RAIES DE DIFFRACTION LORS D'UNE TRANSFORMATION DE PHASE ALLOTROPIQUE D'UN IODURE DE CESIUM ET CADMIUM, ET DES EFFETS DE LA RECRISTALLISATION DURANT LA DECOMPOSITION THERMIQUE D'UN NOUVEL HYDROXY-NITRATE DE CADMIUM. UN AUTRE POINT TRAITE DE LA DETERMINATION DE LA STRUCTURE DE CET HYDROXY-NITRATE DE CADMIUM PAR DIFFRACTION CONVENTIONNELLE EN INTEGRANT LES EFFETS MICROSTRUCTURAUX DU COMPOSE DANS LA PHASE D'AFFINEMENT. ENFIN, LES EFFETS MICROSTRUCTURAUX INDUISENT UNE GRANDE VARIETE DE FORME DE RAIES. QUELQUES PROFILS DE RAIES SONT PRESENTES A PARTIR D'EXEMPLES SELECTIONNES. UN EXAMEN PLUS ATTENTIF DES PROFILS SUPRA-LORENTZIENS PERMET DE PROPOSER UNE EXPLICATION SUR LEUR ORIGINE
Author: Jean-Pierre Eberhart
Publisher:
ISBN:
Category : Diffraction
Languages : fr
Pages : 532
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Author: Claude Esnouf
Publisher: EPFL Press
ISBN: 2880748844
Category : Crystallography
Languages : fr
Pages : 598
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Book Description
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.
Author: Eric J. Mittemeijer
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 9783540405191
Category : Science
Languages : en
Pages : 588
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Overview of diffraction methods applied to the analysis of the microstructure of materials. Since crystallite size and the presence of lattice defects have a decisive influence on the properties of many engineering materials, information about this microstructure is of vital importance in developing and assessing materials for practical applications. The most powerful and usually non-destructive evaluation techniques available are X-ray and neutron diffraction. The book details, among other things, diffraction-line broadening methods for determining crystallite size and atomic-scale strain due, e.g. to dislocations, and methods for the analysis of residual (macroscale) stress. The book assumes only a basic knowledge of solid-state physics and supplies readers sufficient information to apply the methods themselves.
Author: Lev S. Zevin
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 1461395356
Category : Science
Languages : en
Pages : 389
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One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.
Author: W. Hoppe
Publisher: Elsevier
ISBN: 1483158411
Category : Science
Languages : en
Pages : 125
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Advances in Structure Research by Diffraction Methods: Volume 5 presents discussions on application of diffraction methods in structure research. The book provides the aspects of structure research using various diffraction methods. The text contains 2 chapters. Chapter 1 reviews the general theory and experimental methods used in the study of all types of amorphous solid, by both X-ray and neutron diffraction, and the detailed bibliography of work on inorganic glasses. The second chapter discusses electron diffraction, one of the major methods of determining the structures of molecules in the gas phase. Chemists and molecular physicists will find the book a great source of information.
Author: Myeongkyu Lee
Publisher: CRC Press
ISBN: 1315361973
Category : Science
Languages : en
Pages : 302
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X-ray diffraction is a useful and powerful analysis technique for characterizing crystalline materials commonly employed in MSE, physics, and chemistry. This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 2 describes how the X-ray diffraction can be applied for characterizing such various forms of materials as thin films, single crystals, and powders. The third section of the book covers applications of X-ray diffraction. The book presents a number of examples to help readers better comprehend the subject. X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications also • provides background knowledge of diffraction to enable nonspecialists to become familiar with the topics • covers the practical applications as well as the underlying principle of X-ray diffraction • presents appropriate examples with answers to help readers understand the contents more easily • includes thin film characterization by X-ray diffraction with relevant experimental techniques • presents a huge number of elaborately drawn graphics to help illustrate the content The book will help readers (students and researchers in materials science, physics, and chemistry) understand crystallography and crystal structures, interference and diffraction, structural analysis of bulk materials, characterization of thin films, and nondestructive measurement of internal stress and phase transition. Diffraction is an optical phenomenon and thus can be better understood when it is explained with an optical approach, which has been neglected in other books. This book helps to fill that gap, providing information to convey the concept of X-ray diffraction and how it can be applied to the materials analysis. This book will be a valuable reference book for researchers in the field and will work well as a good introductory book of X-ray diffraction for students in materials science, physics, and chemistry.
Author: B. K. Tanner
Publisher: Elsevier
ISBN: 1483187683
Category : Science
Languages : en
Pages : 189
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X-Ray Diffraction Topography presents an elementary treatment of X-ray topography which is comprehensible to the non-specialist. It discusses the development of the principles and application of the subject matter. X-ray topography is the study of crystals which use x-ray diffraction. Some of the topics covered in the book are the basic dynamical x-ray diffraction theory, the Berg-Barrett method, Lang's method, double crystal methods, the contrast on x-ray topography, and the analysis of crystal defects and distortions. The crystals grown from solution are covered. The naturally occurring crystals are discussed. The text defines the meaning of melt, solid state and vapour growth. An analysis of the properties of inorganic crystals is presented. A chapter of the volume is devoted to the characteristics of metals. Another section of the book focuses on the production of ice crystals and the utilization of oxides as laser materials. The book will provide useful information to chemists, scientists, students and researchers.
Author: Ron Jenkins
Publisher: Wiley-Interscience
ISBN:
Category : Science
Languages : en
Pages : 440
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Introduction to X-ray Powder Diffractometry fully updates the achievements in the field over the past fifteen years and provides a much-needed explanation of the state-of-the-art techniques involved in characterizing materials. It covers the latest instruments and methods, with an emphasis on the fundamentals of the diffractometer, its components, alignment, calibration, and automation. While the material is presented in an orderly progression, beginning with basic concepts and moving on to more complex material, each chapter stands on its own and can be studied independently or used as a professional reference. More than 230 illustrations and tables demonstrate techniques and clarify complex material.
Author: Anne-Marie Levelut
Publisher:
ISBN: 9782271149206
Category :
Languages : fr
Pages : 0
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Book Description
Les cristaux liquides sont des substances qui présentent un ou plusieurs états de la matière intermédiaires entre le solide cristallin et le liquide usuel. Ces états cristaux-liquides se caractérisent par les organisations spécifiques à l'échelle microscopique de leurs constituants : molécules, polymères, nanoparticules... Les cristaux liquides se retrouvent fréquemment dans la vie courante, par exemple dans les dispositifs d'affichage, détergents, matériaux composites, structures biologiques. Ils font l'objet d'une recherche active dont l'un des buts est de déterminer leur structure pour les identifier. Ces études structurales sont le plus souvent effectuées par diffusion de rayonnements, en particulier de rayons X. C'est cette diffusion de rayons X qui fait l'objet de cet ouvrage, qui comporte deux tomes. Le premier tome présentait une introduction aux notions fondamentales de diffusion de rayonnement et décrivait en détail l'état cristal-liquide le plus courant, appelé "nématique". Ce second tome est consacré à des états cristaux-liquides plus ordonnés dans lesquels les constituants possèdent, outre l'ordre d'orientation, un ordre de position. Suivant que cet ordre de position se développe dans une, deux ou trois dimensions de l'espace, ces états cristaux-liquides sont respectivement appelés "smectiques", "colonnaires" ou "réseaux tridimensionnels de défauts". Une première partie (la troisième de l'ouvrage) traite des états smectiques, des plus organisés, très proches des cristaux usuels, aux plus désordonnés, appelés smectiques liquides colonnaires. La dernière partie expose l'étude structurale de réseaux tridimensionnels de défauts : cristaux d'interfaces et réseaux spécifiques des molécules chirales. Enfin, une annexe récapitule l'identification par diffusion de rayons X des nombreuses structures des cristaux liquides et une autre en propose une classification uniquement basée sur les propriétés de symétrie.
