Contribution a l'etude et au developpement de techniques d'analyse de testabilite de descriptions comportementales de circuits PDF Download
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Author: Marc Boumedine
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Languages : fr
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Author: Marc Boumedine
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Author: Marc Boumedine
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Pages : 186
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CE MEMOIRE CONCERNE L'ETUDE ET LE DEVELOPPEMENT DE TECHNIQUES D'ANALYSE DE TESTABILITE DE DESCRIPTIONS COMPORTEMENTALES DE CIRCUITS. CES TECHNIQUES ONT POUR OBJECTIF DE REDUIRE LE COUT DU PROCESSUS DE GENERATION DE SEQUENCES DE TEST COMPORTEMENTAL. CE COUT ETANT DIRECTEMENT LIE A LA COMPLEXITE DES DESCRIPTIONS COMPORTEMENTALES ET A LA COMPLEXITE DE LA STRATEGIE DE GENERATION DES SEQUENCES DE TEST COMPORTEMENTAL, LES TECHNIQUES PRESENTEES ONT ETE ADAPTEES DES DOMAINES DU TEST DU LOGICIEL ET DU TEST DU MATERIEL. ELLES ONT ETE DEVELOPPEES AU SEIN D'UN ENVIRONNEMENT DE TESTABILITE COMPORTEMENTALE NOMME BETIE. CE DERNIER CONTIENT LES TROIS OUTILS SUIVANTS: UN OUTIL DE MESURE DE COMPLEXITE DE DESCRIPTIONS COMPORTEMENTALES, UN OUTIL D'IDENTIFICATION DE FRAGMENTS DE DESCRIPTIONS A AMELIORER ET UN OUTIL DE MESURE DE TESTABILITE DE DESCRIPTIONS COMPORTEMENTALES
Author: Sylvain Demarty
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Languages : fr
Pages : 223
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Ce document de thèse présente une contribution théorique et expérimentale à l’analyse de cartes de circuit imprimé pour comprendre leur comportement électromagnétique. En particulier, le travail réalisé au cours de ce projet de recherche se rattache au domaine technique et scientifique de la compatibilité électromagnétique (CEM). C’est dans ce cadre que l’étude s’est découpée en deux thématiques : la conception d’un banc de mesure de champ proche électromagnétique et de ses sondes associées, et la mise en œuvre d’un logiciel d’analyse numérique disposé au calcul de couplage entre pistes de circuits imprimés. Le premier axe a fait l’objet d’une phase de développement, de calibration des sondes passives puis de validation du banc. Le deuxième axe de recherche est fondé sur l’application de la théorie des lignes qui a été déclinée pour développer un logiciel dédié à l’ingénieur. Les résultats théoriques ont été validés avec un cas réel expérimental et une étude paramétrique a été menée pour démontrer ses dispositions.
Author: Hervé Fleury
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Languages : fr
Pages : 128
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LES TECHNOLOGIES ACTUELLES PERMETTENT LA MISE SUR LE MARCHE DE CIRCUITS COMPLEXES COMPRENANT PLUSIEURS MILLIONS DE TRANSISTORS. DES OUTILS GENERENT DIRECTEMENT L'ARCHITECTURE D'UN CIRCUIT A PARTIR D'UNE DESCRIPTION COMPORTEMENTALE DE CELUI-CI. LA DESCRIPTION INITIALE DU CIRCUIT EST, QUANT A ELLE, BASE SUR UN LANGAGE PROCHE DES LANGAGES DE PROGRAMMATION INFORMATIQUE. APRES PLUSIEURS ETAPES D'OPTIMISATIONS ET DE SIMPLIFICATIONS, UNE DESCRIPTION PLUS PROCHE DE LA REALITE PHYSIQUE EST GENEREE : LA DESCRIPTION DE BAS NIVEAU. LE COMPOSANT DOIT ENFIN SUIVRE UN PROCESSUS DE FABRICATION AVANT DE POUVOIR ETRE MIS SUR LE MARCHE. IL EST ENSUITE IMPORTANT DE TRIER LES CIRCUITS CORRECTES DES CIRCUITS COMPORTANT DES DEFAUTS : C'EST L'ETAPE DE TEST. PAR CONTRE, LA FONCTION REALISEE PAR LES CIRCUITS ACTUELS EST SI COMPLEXE QU'IL FAUDRAIT PLUSIEURS MILLIER D'ANNEES POUR LA TESTER DE FACON EXHAUSTIVE. ON UTILISE DONC UN MODELE DE FAUTE AFIN DE GENERER UN JEU DE TEST A PARTIR D'UNE DESCRIPTION DU CIRCUIT. LA TESTABILITE D'UN CIRCUIT PEUT ETRE DEFINIE COMME ETANT LA FACILITE A GENERER UN JEU DE TEST QUI COUVRE EFFICACEMENT LE MODELE DE FAUTE CONSIDERE. A L'HEURE ACTUELLE, LA GENERATION DES TESTS ET L'AMELIORATION DE LA TESTABILITE D'UN CIRCUIT SE FONT SUR DES DESCRIPTIONS DE BAS NIVEAU DE CE DERNIER. DANS CE MEMOIRE, NOUS PROPOSONS UNE NOUVELLE METHODE, BASEE SUR LA TECHNIQUE DE SCAN, QUI PERMETTE D'AMELIORER LA TESTABILITE D'UN CIRCUIT A PARTIR DE SA DESCRIPTION COMPORTEMENTALE. UTILISER UN TEL NIVEAU DE DESCRIPTION PERMET D'OBTENIR UNE METHODE QUI SOIT PLUS GENERIQUE ET QUI PRENNE EN COMPTE LES ASPECTS DE TESTABILITE PLUS TOT DANS LE PROCESSUS DE CONCEPTION. CETTE METHODE EST COMPLETEE PAR UNE TECHNIQUE DE SCAN PARTIEL APPLICABLE ELLE AUSSI A PARTIR D'UNE DESCRIPTION COMPORTEMENTALE. LA METHODE PRESENTEE A ETE APPLIQUEE A DES CIRCUITS DE COMMUNICATION UTILISES DANS LES RESEAUX HAUT DEBIT AINSI QU'A DES CIRCUITS DE REFERENCE POUR L'EVALUATION DES OUTILS DE TEST. SA MISE EN UVRE SUR DE TELS CIRCUITS DONNE DE BONS RESULTATS PAR RAPPORT AUX TECHNIQUES ACTUELLES QUI TRAITENT LA TESTABILITE A PARTIR DE DESCRIPTIONS DE BAS NIVEAU.
Author: Anne-Lise Courbis
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Languages : fr
Pages : 209
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LA CONCEPTION DE CIRCUITS DIGITAUX A HAUTE ECHELLE D'INTEGRATION POSE LE PROBLEME DE LA GENERATION DE SEQUENCES DE TEST A PARTIR DE DESCRIPTIONS COMPORTEMENTALES. NOUS PRESENTONS, DANS CE MEMOIRE, UNE TECHNIQUE DE GENERATION AUTOMATIQUE DE SEQUENCES DE TEST PAR DETECTION DE PANNES. CETTE TECHNIQUE REPOSE D'UNE PART, SUR LA DEFINITION D'UN MODELE COMPORTEMENTAL, SUPPORT D'APPLICATION DU GENERATEUR, ET D'AUTRE PART SUR L'ENUMERATION D'HYPOTHESES DE PANNES COMPORTEMENTALES. UNE PANNE UNIQUE ETANT INJECTEE SUR UN ELEMENT DU MODELE COMPORTEMENTAL, SA DETECTION IMPLIQUE PLUSIEURS ETAPES: SENSIBILISER L'ELEMENT EN PANNE DE FACON A PRODUIRE LOCALEMENT UN EFFET DE PANNE, PUIS PROPAGER CET EFFET JUSQU'A UNE SORTIE PRIMAIRE. CES ETAPES POSENT DES PROBLEMES DE DEFINITION ET E RESOLUTION DE CONTRAINTES, CES CONTRAINTES ETANT POSITIONNEES SUR DES ELEMENTS DU MODELE POUR MANIFESTER OU PROPAGER LOCALEMENT UN EFFET DE PANNE. POUR CHACUN DES PROBLEMES, NOUS PROPOSONS DONC UN PRINCIPE DE RESOLUTION. NOUS NOUS INTERESSONS ENSUITE A LA MISE EN UVRE DE LA TECHNIQUE DE GENERATION SELON UN POINT DE VUE PRATIQUE. DANS CET OBJECTIF, NOUS UTILISONS LES CONCEPTS DE CONSTRUCTION ET DE PARCOURS D'ARBRES DE REDUCTION QUI ONT ETE FORMALISES DANS LE DOMAINE DE L'INTELLIGENCE ARTIFICIELLE. CETTE ETUDE AYANT CONDUIT AU DEVELOPPEMENT D'UN PROTOTYPE, NOUS EN PRESENTERONS SON ARCHITECTURE GENERALE
Author: Catherine Godlewski
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Languages : fr
Pages : 0
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Ce travail porte sur l'analyse et l'étude du comportement de circuits intégrés en technologie CMOS soumis à un impact laser. Une méthodologie d'implémentation d'un impact laser a été développée et améliorée. Ainsi, elle est applicable à n'importe quelle description électrique d'un circuit CMOS, qu'il soit digital ou analogique. Ce procédé est conçu pour permettre aux concepteurs de circuits intégrés pouvant être soumis à des attaques laser, de tester leur circuit en simulation avant leur fabrication et de démontrer leur robustesse.Notre étude s'est focalisée sur le développement d'un outil de simulation intégrant un modèle électrique de l'impact laser sur les transistors MOS afin de reproduire de façon qualitative le comportement du circuit face à un impact laser (attaque semi-invasive en face arrière du circuit), et ce quelques soient ses propriétés physiques.Une première partie d'état de l'art est consacrée à la synthèse des différentes attaques sur circuits sécurisées que l'on peut rencontrer dans le domaine de la microélectronique, telles que les attaques semi-invasives, non invasives ou invasives par exemple. Une seconde partie théorique dédiée à l'interaction laser-silicium au niveau physique nous permet d'étudier les différents acteurs mis en jeu (propriétés physiques du laser - puissance, diamètre et profil du faisceau), avant de les importer comme paramètres dans le domaine électrique.Cette étude se poursuit alors par l'élaboration d'un modèle électrique et d'une méthodologie de simulation dont le but est de permettre de reproduire le comportement de n'importe quel circuit impacté par un laser. Le flot de modélisation passe ainsi en revue l'ensemble des paramètres contrôlables en entrée, qu'il s'agisse des propriétés physiques du laser, traduites dans le domaine électrique, ou encore de la réalité géométrique du circuit impacté, quel que soit sa complexité. Par ailleurs, la flexibilité de cette approche permet de s'adapter à toute évolution du modèle de l'impact laser en lui-même. Il est ainsi possible de simuler un impact intégrant ou non tout ou partie des phénomènes parasites déclenchés par le photocourant. Enfin, il couvre aussi bien des analyses de comportement dans le domaine statique, que dans celui temporel, où la durée d'impulsion du laser prend toute son importance.Afin de démontrer la cohérence de cette méthodologie face à nos attentes théoriques, le comportement de transistors NMOS, PMOS et un inverseur CMOS ont été étudiés au niveau simulation. Cette étude préliminaire nous a permis de calibrer et de valider notre modèle et sa méthodologie d'utilisation avec la théorie attendue: création d'un photocourant proportionnel au potentiel appliqué sur la jonction de drain et couplé au potentiel photoélectrique ainsi qu'à la surface impactée, déclenchement des bipolaires parasites latéraux, etc.... L'analyse sur un inverseur CMOS bufférisé ou non nous donne encore plus d'informations quant aux analyses dynamiques ou statiques : un impact sur un état statique (0 ou 1) ne peut entraîner que des fautes fonctionnelles, alors qu'un impact sur une transition ralentit ou accélère le signal en sortie, au risque de générer une faute fonctionnelle.Enfin, l'étude de différents circuits complexes sur silicium face à plusieurs types de faisceau laser nous a permis de confronter notre méthodologie à la mesure. Une chaîne d'inverseurs, une bascule de type D, et un circuit de verrouillage ont ainsi été impactés. Les résultats observés en simulation sont cohérents avec la mesure, notamment du point de vue comportemental et fonctionnel.
Author: Daniel Etiemble
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Languages : fr
Pages : 4
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Etude des principes généraux du fonctionnement des circuits logiques. Analyse des modèles physiques statiques et dynamiques idéaux pour les circuits logiques, compte tenu du bruit. Evaluation des caractéristiques statistiques et dynamiques de la logique considerée par rapport aux modèles idéaux. Présentation de la logique TTL bas niveau. Etudes statique et dynamique. Propagation des signaux dans les circuits logiques. Etude des bascules. Application et developpement de la logique TTL bas niveau dans le domaine de la logique ternaire
Author: Mohamed Abid (professeur d'électronique).)
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Languages : fr
Pages : 233
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LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE DOCUMENT A ETE REALISE AU SEIN DU GERII, DANS LE CADRE D'UNE COLLABORATION MENEE AVEC LE GROUPE D'EXPERTS 9 DE L'UNION TECHNIQUE DE L'ELECTRICITE SUR LA NORMALISATION DES OUTILS DE CONTROLE. IL CONCERNE L'ETUDE ET LA REALISATION D'UN OUTIL INFORMATIQUE, INTEGRE AU PROJET SOLINE, PERMETTANT LA COMPREHENSION ET LA VALIDATION DES SEQUENCES DE TEST DES CIRCUTIS INTEGRES COMPLEXES. L'ANALYSE CRITIQUE DES DIFFERENTES METHODES DE GENERATION DES SEQUENCES DE TEST FONCTIONNEL DES CIRCUITS COMPLEXES MONTRE LA NECESSITE DE VALIDER CES SEQUENCES APRES LEUR ELABORATION. L'APPROCHE UTILISEE ICI EST BASEE SUR L'IDENTIFICATION DU CIRCUIT ETUDIE A PARTIR DES RELATIONS ENTREES/SORTIES DEFINIES PAR LA SEQUENCE DE TEST: LES SOLUTIONS (MODELISEES PAR DES GRAPHES CARTESIENS) DEDUITES DE L'IDENTIFICATION SONT COMPAREES AU MODELE BON. PLUSIEURS JEUX DE CONTRAINTES PERMETTENT D'ADAPTER L'ANALYSE AU NIVEAU DE CONNAISSANCE APPORTEE PAR LE MODELE DU CIRCUIT. LE LOGICIEL REALISE A ETE UTILISE POUR VALIDER UNE SEQUENCE DE TEST D'UN CIRCUIT INTEGRE REEL (6800). NOUS CONCLUONS SUR LA FAISABILITE D'UNE TELLE APPROCHE QUI MET EN UVRE DES PROCESSUS COMBINATOIRES COMPLEXES
Author: Barbara Oakley PhD
Publisher: St. Martin's Essentials
ISBN: 1250799384
Category : Education
Languages : en
Pages : 128
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Book Description
A book for learners of all ages containing the best and most updated advice on learning from neuroscience and cognitive psychology. Do you spend too much time learning with disappointing results? Do you find it difficult to remember what you read? Do you put off studying because it’s boring and you’re easily distracted? This book is for you. Dr. Barbara Oakley and Olav Schewe have both struggled in the past with their learning. But they have found techniques to help them master any material. Building on insights from neuroscience and cognitive psychology, they give you a crash course to improve your ability to learn, no matter what the subject is. Through their decades of writing, teaching, and research on learning, the authors have developed deep connections with experts from a vast array of disciplines. And it’s all honed with feedback from thousands of students who have themselves gone through the trenches of learning. Successful learners gradually add tools and techniques to their mental toolbox, and they think critically about their learning to determine when and how to best use their mental tools. That allows these learners to make the best use of their brains, whether those brains seem “naturally” geared toward learning or not. This book will teach you how you can do the same.
Author: North Atlantic Treaty Organization. Advisory Group for Aerospace Research and Development. Flight Vehicle Integration Panel. Symposium
Publisher:
ISBN:
Category : Helicopters
Languages : en
Pages : 402
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