Contribution à l'étude du rayonnement de fluorescence dans le domaine des rayons X mous PDF Download
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Author: Christiane Senemaud
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 143
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Author: Christiane Senemaud
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 143
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Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Aeronautics
Languages : en
Pages : 340
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Author: François J.. Wuilleumier
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 248
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Author: ERIC.. ZIEGLER
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 189
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DES EMPILEMENTS DE COUCHES ALTERNEES A FAIBLE ET A FORTE DENSITES D'ELECTRONS DIFFUSEURS UTILISANT LA DIFFRACTION DE BRAGG PERMETTENT D'OBTENIR DES MIROIRS AVEC UN COEFFICIENT DE REFLEXION SIGNIFICATIF. ON A REALISE PAR PULVERISATION CATHODIQUE DES DEPOTS DE CARBONE ET DE TUNGSTENE DE L'ORDRE DE LA DIZAINE D'ANGSTROMS. LA SPECTROSCOPIE D'ELECTRONS ET LA REFLEXION DE RAYONS X RASANTS ONT PERMIS DE DEFINIR DES CONDITIONS DE REALISATION DE COUCHES PRESENTANT LES DENSITES ATTENDUES ET DE FAIBLE RUGOSITE. LA SIMULATION DU SIGNAL D'UN ELLIPSOMETRE AU COURS DE LA CROISSANCE D'UNE MULTICOUCHE MONTRE QUE L'ON PEUT UTILISER UN TEL CONTROLE IN SITU POUR ASSURER LA CROISSANCE D'UNE CENTAINE DE COUCHES
Author: Gilles Senemaud
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 102
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Author: PASCAL.. POPULUS
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 212
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POUR LES RAYONS X, L'INDICE DE REFRACTION DES MATERIAUX EST TRES LEGEREMENT INFERIEUR A L'UNITE. IL EXISTE DE CE FAIT UN ANGLE CRITIQUE EN DESSOUS DUQUEL LES PHOTONS SONT TOTALEMENT REFLECHIS. NOUS AVONS DEVELOPPE DES APPLICATIONS ANALYTIQUES DE CETTE PROPRIETE EN UTILISANT LES PARTICULARITES DU RAYONNEMENT SYNCHROTRON. LA SENSIBILITE DE L'ANALYSE PAR FLUORESCENCE X DISPERSIVE EN ENERGIE (EDXRF) EST LIMITEE PAR LE FOND CONTINU, DUS AUX PHOTONS DIFFUSES, QUI MASQUE LE SIGNAL DE FLUORESCENCE. SELON LA TECHNIQUE TXRF, ON IRRADIE L'ECHANTILLON SOUS UN ANGLE INFERIEUR A L'ANGLE CRITIQUE. LES PHOTONS INCIDENTS SUBISSENT LA REFLEXION TOTALE ET, PAR CONSEQUENT, SEULE LA FLUORESCENCE EST DETECTEE. AVEC LE DISPOSITIF QUE NOUS AVONS CONSTRUIT, NOUS AVONS QUANTIFIE DES ELEMENTS PRESENTS EN ULTRA-TRACES DANS DIVERSES MATRICES. PARALLELEMENT, LA PROFONDEUR DE PENETRATION DES RAYONS X CHANGE RAPIDEMENT AU VOISINAGE DE L'ANGLE CRITIQUE. NOUS AVONS AINSI DETERMINE DES PROFILS DE CONCENTRATION SOUS LA SURFACE D'ECHANTILLONS EN ETUDIANT LA VARIATION DU SIGNAL DE FLUORESCENCE X EN FONCTION DE L'ANGLE D'INCIDENCE ET COMPARE CETTE TECHNIQUE A D'AUTRES. LA REFLEXION TOTALE PEUT AUSSI ETRE UTILISEE POUR GUIDER LES PHOTONS X. NOUS AVONS AINSI CONSTRUIT UN MICROSPECTROMETRE EN DISPOSANT UN POLYCAPILLAIRE EN FACE D'UN DETECTEUR SI(LI) ET REALISE DES EXPERIENCES DE MICROANALYSES ELEMENTAIRES. NOUS AVONS COMPARE CE DISPOSITIF A LA MICROSONDE REALISEE A PARTIR D'UNE LENTILLE DE BRAGG-FRESNEL. DES MODIFICATIONS ONT ETE APPORTEES A CE MONTAGE POUR EN ACCROITRE LES PERFORMANCES ET ETENDRE LE CHAMP D'APPLICATION. CES TRAVAUX ONT PERMIS, ENTRE AUTRE, D'AUGMENTER D'UN FACTEUR 8 LE FLUX DU FAISCEAU FOCALISE ET D'AMELIORER LE CONTRASTE AUTOUR DU POINT FOCAL DE 6 A 70. LA MICROFLUORESCENCE X PERMET DE REALISER DES CARTES DE REPARTITION ELEMENTAIRE ET AINSI FAIRE DES CORRELATIONS. DESORMAIS, NOUS POUVONS AUSSI EFFECTUER DES ANALYSES PAR MICRODIFFRACTION X POUR DETERMINER LA STRUCTURE DES ECHANTILLONS.
Author:
Publisher: Ed. Techniques Ingénieur
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 18
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Author: Jacques Mihura
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 186
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Author: Marc Olivier Frégeau
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 139
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L'étude de la réaction ^238U+^64Ni à 6,6 MeV par nucléon nous a permis d'identifier des rayons X caractéristiques de l'élément Z = 120. Ces X caractéristiques ont été trouvés en coïncidence avec des fragments de fission des noyaux composés de 120 protons formés au cours de la réaction. La multiplicité de ces rayonnements nous a permis d'extraire des informations sur la probabilité de formation par fusion noyau Z=120 ainsi que sur le temps de fission de ce noyau.
Author: Jean Devaux
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages :
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