Contribution à l'étude des phénomènes de diffraction des rayons X, des électrons rapides et du profil Compton pour les atomes

Contribution à l'étude des phénomènes de diffraction des rayons X, des électrons rapides et du profil Compton pour les atomes PDF Author: Marguerite Cornille
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Application des phénomènes de diffraction des rayons X et des électrons à l'étude de la structure électronique des molécules

Application des phénomènes de diffraction des rayons X et des électrons à l'étude de la structure électronique des molécules PDF Author:
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Application des phénomènes de diffraction des rayons X et des électrons à l'étude de la structure électronique des molécules

Application des phénomènes de diffraction des rayons X et des électrons à l'étude de la structure électronique des molécules PDF Author: Claude Henri Eugène Tavard
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Pages : 103

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Contribution à l'étude de la densité électronique des composés ioniques par diffusion inélastique des rayons X

Contribution à l'étude de la densité électronique des composés ioniques par diffusion inélastique des rayons X PDF Author: Christophe Fluteaux
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Pages : 161

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Les travaux de J.M. Gillet et P. Becker ont montré qu'il était possible d'affiner des profils Compton directionnels d'isolants sur des paramètres tels que la forme des orbitales atomiques et les coefficients de couplage entre sites. Cette méthode testée sur LiH a permis de mettre en évidence la sensibilité des anisotropies Compton vis-à-vis du degré de covalence effective du matériau. Afin de généraliser la procédure d'affinement des profils directionnels d'isolants, plus particulièrement des oxydes et parce que ce compose trouve un intérêt particulier dans l'industrie du verre, nous nous sommes intéressés a l'oxyde de magnésium. Nous avons donc effectue une série de mesures de profils Compton directionnels de MgO sur la ligne ID15B a l'ESRF. Apres des tests de reproductibilité, nous avons pu mettre en évidence un écart isotrope significatif entre des profils expérimentaux de bonne qualité et des profils théoriques issus d'un calcul Hartree-Fock sur crystal92. Cette différence se retrouve également lors de l'étude des mesures d'Aikala effectuées aux sur MgO. Il serait donc intéressant d'étudier ce phénomène, ce qui met sans doute en jeu des effets au-delà de l'approximation a électrons indépendants. Les paramètres relatifs au matériau s'obtiennent par l'affinement d'un modèle de fonction d'onde sur la densité d'impulsion. Nous avons mis au point une méthode de reconstruction analytique de la densité a partir des profils directionnels. Cette méthode permet de minimiser les artefacts de calculs présents dans les méthodes existantes. Il est possible d'étendre cette méthode a des composes d'autres natures en utilisant par exemple d'autres fonctions que les fonctions gaussiennes. Nous avons également mené une expérience de diffusion X sur un composé dans un état excité. Cette expérience a pour but de tester la théorie développée par J.M. Gillet et P. Becker. L'échantillon est soumis simultanément a une excitation laser résonnante et au rayonnement X. L'objectif est de remonter à la densité électronique de transition entre les deux états résonnants. Ce dispositif a été testé sur des échantillons de K2NaCrF 6. Les propriétés physiques de ce composé n'ont pas permis une acquisition systématique du signal. Nous envisageons des composés a durée de vie de l'état excité plus longue.

Contribution à l'étude du phénomène de double réflexion en diffraction des rayons X

Contribution à l'étude du phénomène de double réflexion en diffraction des rayons X PDF Author: Jean-Jacques Couderc (physicien.)
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Languages : fr
Pages : 102

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Contribution à l'étude du phénomène de double réflexion en diffraction des rayons X

Contribution à l'étude du phénomène de double réflexion en diffraction des rayons X PDF Author: Jean-Jacques Couderc
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Languages : fr
Pages : 102

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Physique - Cristallographie et diffraction - Application à la diffraction électronique - Cours et exercices corrigés

Physique - Cristallographie et diffraction - Application à la diffraction électronique - Cours et exercices corrigés PDF Author: Esnouf Claude
Publisher: Editions Ellipses
ISBN: 2340092000
Category : Science
Languages : fr
Pages : 241

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Consacré à la diffraction par les cristaux, l'ouvrage développe en application une présentation théorique et technologique des techniques basées sur la seule diffraction des électrons. Destiné d'abord aux seconds cycles des Universités et aux Écoles d'ingénieurs, il ne fait appel qu'aux notions de physique exposées en classes préparatoires. Il permet néanmoins une lecture à deux niveaux : un niveau découverte et un niveau approfondissement (sans toutefois aller jusqu'à présenter des développements très en pointe), pour des lecteurs désireux de compléter leur formation initiale ou de revisiter des méthodes plus actuelles. L'ouvrage comporte cinq chapitres : • Le premier chapitre est un rappel des notions de cristallographie, avec pour objectif pragmatique d'accéder à la lecture des Tables Internationales de Cristallographie, qui regroupent toutes les notions utiles à l'analyse des clichés de diffraction. • Le deuxième chapitre développe les phénomènes spécifiques de diffraction due au rayonnement électronique. • Le troisième présente les instruments utilisés, leurs caractéristiques et leur environnement technologique. • Les deux derniers chapitres exposent les différentes méthodes de diffraction en transmission (chap. 4) et en réflexion (chap. 5). • Une série d'exercices et leurs solutions concluent l'ouvrage.

Contribution à l'étude de la diffraction des électrons lents sur la face (111) de l'argent

Contribution à l'étude de la diffraction des électrons lents sur la face (111) de l'argent PDF Author: Denis Lafeuille
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Languages : fr
Pages : 155

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Contribution à l'étude de l'influence des impuretés de substitution sur le profil des raies de diffraction X ; Interprétation par la théorie dynamique de la réflexion des rayons X ; Application à la diffusion du bore et du phosphore dans le silicium

Contribution à l'étude de l'influence des impuretés de substitution sur le profil des raies de diffraction X ; Interprétation par la théorie dynamique de la réflexion des rayons X ; Application à la diffusion du bore et du phosphore dans le silicium PDF Author: Jacques Burgeat
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Languages : fr
Pages : 386

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Contribution à l'étude de la distribution de densité de charge par diffraction X dans les matériaux optiquement non linéaires

Contribution à l'étude de la distribution de densité de charge par diffraction X dans les matériaux optiquement non linéaires PDF Author: Claudie Le Henaff
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Category :
Languages : fr
Pages : 235

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Le présent travail s'inscrit dans le cadre de l'étude des matériaux dotés de propriétés remarquables en optique non linéaire, et en particulier des matériaux utilisés pour le doublage de fréquence de radiations lasers. Nous nous sommes intéressés à deux de ces matériaux. Le premier, l'arséniate de potassium et de titanyl KTiOAsO4 (KTA) est isotype du phosphate de potassium et de titanyl KTiOPO4 (KTP), qui est une référence dans le domaine. Le second composé est le triborate de lithium LiB3O5 (LBO), présentant un intérêt particulier du fait de sa large fenêtre de transparence, permettant d'étendre le spectre des radiations utilisables. Le but de cette étude est de déterminer de manière précise la distribution de densité électronique de valence, à partir de mesures de diffraction aux rayons X à haute résolution, afin de mettre en évidence les systèmes d'électrons responsables des propriétés non linéaires de ces matériaux. Nous avons également réalisé une approche par calcul ab-initio d'un modèle du triborate de lithium LBO, nous permettant la comparaison des densités électroniques de déformation expérimentale et théorique. Dans cette approche, nous avons également mené une tentative de détermination des coefficients du tenseur de susceptibilité électrique du second ordre.