Contraintes résiduelles et microstructure dans des films minces de tungstène

Contraintes résiduelles et microstructure dans des films minces de tungstène PDF Author: Nicolas Durand
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Languages : fr
Pages : 76

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NOUS PRESENTONS UNE ETUDE DES CONTRAINTES RESIDUELLES DANS DES FILMS MINCES DE 100 NM DE TUNGSTENE PULVERISE. QUATRE DEPOTS REALISES DANS LES MEMES CONDITIONS OPERATOIRES, NE DIFFERENT QUE TRES LEGEREMENT PAR LEUR MICROSTRUCTURE. ILS SONT CARACTERISES PAR DES CONTRAINTES COMPRESSION DE GRANDE AMPLITUDE (-4.5 GPA), UNE MICROSTRUCTURE NANOCRISTALLINE ET UNE STRUCTURE INTRA-GRANULAIRE TRES ELOIGNEE DU TUNGSTENE MASSIF. DEUX DEPOTS ASSISTES A L'AR 120 KEV PENDANT LE DEPOT POSSEDENT DES CONTRAINTES PLUS FAIBLES (-1.7 GPA) ET UNE MICROSTRUCTURE PLUS PROCHE DE CELLE DU MASSIF. AUCUNE INFLUENCE DE LA NATURE DU SUBSTRAT SUR LA MICROSTRUCTURE ET SUR LES CONTRAINTES INTRINSEQUES DES FILMS N'A ETE OBSERVEE. L'IRRADIATION IONIQUE DES FILMS A MIS EN EVIDENCE UNE RELAXATION RAPIDE ET TOTALE DES CONTRAINTES CORRELEE A UNE FORTE DECROISSANCE DU PARAMETRE CRISTALLIN LIBRE DES CONTRAINTES ET DES MICRODEFORMATIONS. DANS LE MEME TEMPS, UNE CROISSANCE DES GRAINS A ETE OBSERVEE. L'INFLUENCE DE LA MASSE ET DE L'ENERGIE DES IONS D'IRRADIATION EST RELATIVEMENT FAIBLE: PLUS LA MASSE DE L'ION EST ELEVEE, ET PLUS SON ENERGIE EST GRANDE, PLUS LA RELAXATION (ET L'ENSEMBLE DES EVOLUTIONS) EST DE GRANDE AMPLITUDE

Contraintes résiduelles et microstructure dans des films minces de tungstène

Contraintes résiduelles et microstructure dans des films minces de tungstène PDF Author: Nicolas Durand
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Pages : 76

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NOUS PRESENTONS UNE ETUDE DES CONTRAINTES RESIDUELLES DANS DES FILMS MINCES DE 100 NM DE TUNGSTENE PULVERISE. QUATRE DEPOTS REALISES DANS LES MEMES CONDITIONS OPERATOIRES, NE DIFFERENT QUE TRES LEGEREMENT PAR LEUR MICROSTRUCTURE. ILS SONT CARACTERISES PAR DES CONTRAINTES COMPRESSION DE GRANDE AMPLITUDE (-4.5 GPA), UNE MICROSTRUCTURE NANOCRISTALLINE ET UNE STRUCTURE INTRA-GRANULAIRE TRES ELOIGNEE DU TUNGSTENE MASSIF. DEUX DEPOTS ASSISTES A L'AR 120 KEV PENDANT LE DEPOT POSSEDENT DES CONTRAINTES PLUS FAIBLES (-1.7 GPA) ET UNE MICROSTRUCTURE PLUS PROCHE DE CELLE DU MASSIF. AUCUNE INFLUENCE DE LA NATURE DU SUBSTRAT SUR LA MICROSTRUCTURE ET SUR LES CONTRAINTES INTRINSEQUES DES FILMS N'A ETE OBSERVEE. L'IRRADIATION IONIQUE DES FILMS A MIS EN EVIDENCE UNE RELAXATION RAPIDE ET TOTALE DES CONTRAINTES CORRELEE A UNE FORTE DECROISSANCE DU PARAMETRE CRISTALLIN LIBRE DES CONTRAINTES ET DES MICRODEFORMATIONS. DANS LE MEME TEMPS, UNE CROISSANCE DES GRAINS A ETE OBSERVEE. L'INFLUENCE DE LA MASSE ET DE L'ENERGIE DES IONS D'IRRADIATION EST RELATIVEMENT FAIBLE: PLUS LA MASSE DE L'ION EST ELEVEE, ET PLUS SON ENERGIE EST GRANDE, PLUS LA RELAXATION (ET L'ENSEMBLE DES EVOLUTIONS) EST DE GRANDE AMPLITUDE

REALISATION ET ANALYSE DES PROPRIETES DES COUCHES MINCES DE NITRURE DE TUNGSTENE UTILISEES COMME BARRIERE ANTIDIFFUSION DANS LES CIRCUITS ELECTRONIQUES

REALISATION ET ANALYSE DES PROPRIETES DES COUCHES MINCES DE NITRURE DE TUNGSTENE UTILISEES COMME BARRIERE ANTIDIFFUSION DANS LES CIRCUITS ELECTRONIQUES PDF Author: LOUBNA.. BOUKHRIS
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 200

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CE TRAVAIL A POUR OBJET LA REALISATION ET LA CARACTERISATION DES COUCHES MINCES DE NITRURE DE TUNGSTENE PAR PULVERISATION DIODE CONTINUE. AU COURS DE CETTE ETUDE NOUS AVONS EXAMINE L'INFLUENCE DES DIFFERENTS PARAMETRES DE LA DECHARGE SUR LES PROPRIETES DES COUCHES DEPOSEES. L'EMPLOI DE DIVERSES METHODES D'ANALYSES, XPS, RBS ET DIFFRACTION DE RAYONS X A PERMIS D'IDENTIFIER LES DIFFERENTS PRODUITS OBTENUS NOTAMMENT : - LEURS STRUCTURES (LES PHASES PRESENTES, ORIENTATIONS PREFERENTIELLES, TAILLE DES GRAINS ET CONTRAINTES) - LEURS COMPOSITIONS (NATURE ET LIAISON DES ESPECES CONSTITUANT LA COUCHE). L'ETUDE DE LA CONDUCTIVITE ELECTRIQUE DES COUCHES A ETE CORRELEE A LA COMPOSITION ET A LA MICROSTRUCTURE DES FILMS. LE COMPORTEMENT DES FILMS VIS A VIS DU RECUIT THERMIQUE ET LES PERFORMANCES DE CES FILMS EN TANT QUE BARRIERES ANTI-DIFFUSION ENTRE LE SUBSTRAT (SI) ET LE MATERIAU DE METALLISATION (AL OU CU) ONT ETE EGALEMENT ETUDIES. CE TRAVAIL A PERMIS DE DEFINIR LES CONDITIONS POUR OBTENIR LES FILMS LES PLUS PERFORMANTS ET PERMETTANT UN BON RECOUVREMENT DE MARCHE GRAVEES SUR LE SILICIUM D'UN FACTEUR D'ASPECT DE L'ORDRE DE 0,86.

JPIII

JPIII PDF Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Physics
Languages : fr
Pages : 636

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Physics Briefs

Physics Briefs PDF Author:
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ISBN:
Category : Physics
Languages : en
Pages : 1256

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Journal de physique

Journal de physique PDF Author:
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ISBN:
Category : Physics
Languages : en
Pages : 1076

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Annales de chimie--science des matériaux

Annales de chimie--science des matériaux PDF Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Chemistry
Languages : en
Pages : 1028

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EPJ AP

EPJ AP PDF Author:
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ISBN:
Category : Physics
Languages : en
Pages : 758

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Rayons X et Matière

Rayons X et Matière PDF Author: Norbert Broll
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ISBN:
Category : Electronic books
Languages : fr
Pages : 592

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RX 2001

RX 2001 PDF Author: Alain Cornet
Publisher:
ISBN:
Category : X-ray spectroscopy
Languages : fr
Pages : 564

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Metals Abstracts

Metals Abstracts PDF Author:
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ISBN:
Category : Metallurgy
Languages : en
Pages : 740

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