Circuits dédiés à l'étude des mécanismes de vieillissement dans les technologies CMOS avancées PDF Download
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Author: Marine Saliva
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Languages : fr
Pages : 0
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Book Description
Dans la chaine de développement des circuits, une attention particulière doit être portée sur le comportement en fiabilité des dispositifs MOS comme briques de base des circuits avancés CMOS lors du développement d'une technologie. Au niveau du dispositif, les comportements des différents mécanismes de dégradation sont caractérisés. A l'opposé dans le prototype final, le produit est caractérisé dans des conditions accélérées de vieillissement, mais seuls des paramètres macroscopiques peuvent être extraits. Un des objectifs de cette thèse a été de faire le lien entre le comportement en fiabilité d'un circuit ou système et ses briques élémentaires. Le second point important a consisté à développer des solutions de tests dites 'intelligentes' afin d'améliorer la testabilité et le gain de place des structures, pour mettre en évidence le suivi du vieillissement des circuits et la compensation des dégradations. Une autre famille de solutions a consisté à reproduire directement dans la structure l'excitation ou la configuration réelle vue par les dispositifs ou circuits élémentaires lors de leur vie d'utilisation (lab in situ).
Author: Marine Saliva
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Languages : fr
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Book Description
Dans la chaine de développement des circuits, une attention particulière doit être portée sur le comportement en fiabilité des dispositifs MOS comme briques de base des circuits avancés CMOS lors du développement d'une technologie. Au niveau du dispositif, les comportements des différents mécanismes de dégradation sont caractérisés. A l'opposé dans le prototype final, le produit est caractérisé dans des conditions accélérées de vieillissement, mais seuls des paramètres macroscopiques peuvent être extraits. Un des objectifs de cette thèse a été de faire le lien entre le comportement en fiabilité d'un circuit ou système et ses briques élémentaires. Le second point important a consisté à développer des solutions de tests dites 'intelligentes' afin d'améliorer la testabilité et le gain de place des structures, pour mettre en évidence le suivi du vieillissement des circuits et la compensation des dégradations. Une autre famille de solutions a consisté à reproduire directement dans la structure l'excitation ou la configuration réelle vue par les dispositifs ou circuits élémentaires lors de leur vie d'utilisation (lab in situ).
Author: Damien Lachenal
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Languages : fr
Pages : 215
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Book Description
L'intégration de transistors haute tension sur une base CMOS afin de créer des systèmes sur puce plus complets implique une augmentation des problèmes de fiabilité dont l'origine provient des forts champs électriques utilisés vis-à-vis de l'épaisseur d'oxyde de grille déposée. Ce manuscrit de thèse évalue la fiabilité du transistor NLDMOS en technologie SOI pour différentes conditions de stress (Ibmax, Vgmax, ON, OFF à fort Vds). Selon le type de stress appliqué, la localisation des états d'interfaces est différente. Les différentes cinétiques de dégradation du courant linéaire ont été modélisées grâce à l'enrichissement du modèle R-D ainsi que par la mise en place d'une nouvelle méthode permettant d'extraire rapidement avec plus de précision les durées de vie et tensions maximums applicables sur le drain. Finalement, l'évaluation de la fiabilité d'un circuit analogique basée sur le vieillissement du NLDMOS a été réalisée à partir des modèles semi-empiriques proposés.
Author: Yoann Mamy Randriamihaja
Publisher:
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Languages : fr
Pages : 0
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Book Description
L'étude de la fiabilité représente un enjeu majeur de la qualification des technologies de l'industrie de la microélectronique. Elle est traditionnellement étudiée en suivant la dégradation des paramètres des transistors au cours du temps, qui sert ensuite à construire des modèles physiques expliquant le vieillissement des transistors. Nous avons fait le choix dans ces travaux d'étudier la fiabilité des transistors à l'échelle microscopique, en nous intéressant aux mécanismes de ruptures de liaisons atomiques à l'origine de la création des défauts de l'oxyde de grille. Nous avons tout d'abord identifié la nature des défauts et modéliser leurs dynamiques de capture de charges afin de pouvoir reproduire leur impact sur des mesures électriques complexes. Cela nous a permis de développer une nouvelle méthodologie de localisation des défauts, le long de l'interface Si-SiO2, ainsi que dans le volume de l'oxyde. La mesure des dynamiques de créations de défauts pour des stress de type porteurs chauds et menant au claquage de l'oxyde de grille nous a permis de développer des modèles de dégradation de l'oxyde, prédisant les profils de défauts créés à l'interface et dans le volume de l'oxyde. Nous avons enfin établi un lien précis entre l'impact de la dégradation d'un transistor sur la perte de fonctionnalité d'un circuit représentatif du fonctionnement d'un produit digital.L'étude et la modélisation de la fiabilité à l'échelle microscopique permet d'avoir des modèles plus physiques, offrant ainsi une plus grande confiance dans les extrapolations de durées de vie des transistors et des produits.
Author: Norbert Streitz
Publisher: Springer
ISBN: 3540727272
Category : Computers
Languages : en
Pages : 314
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Book Description
This book examines how the computer, as we currently know it, will be replaced by a new generation of technologies, moving computing off the desktop and ultimately integrating it with real world objects and everyday environments. It provides a unique combination of concepts, methods and prototypes of ubiquitous and pervasive computing reflecting the current interest in smart environments and ambient intelligence.
Author: Alain Hébert
Publisher: Presses inter Polytechnique
ISBN: 2553014368
Category : Nuclear physics
Languages : en
Pages : 426
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Author: James J. Duderstadt
Publisher: John Wiley & Sons
ISBN:
Category : Science
Languages : en
Pages : 630
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Book Description
Problems after each chapter
Author: Yousry Azmy
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 9048134110
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 476
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Book Description
Nuclear engineering has undergone extensive progress over the years. In the past century, colossal developments have been made and with specific reference to the mathematical theory and computational science underlying this discipline, advances in areas such as high-order discretization methods, Krylov Methods and Iteration Acceleration have steadily grown. Nuclear Computational Science: A Century in Review addresses these topics and many more; topics which hold special ties to the first half of the century, and topics focused around the unique combination of nuclear engineering, computational science and mathematical theory. Comprising eight chapters, Nuclear Computational Science: A Century in Review incorporates a number of carefully selected issues representing a variety of problems, providing the reader with a wealth of information in both a clear and concise manner. The comprehensive nature of the coverage and the stature of the contributing authors combine to make this a unique landmark publication. Targeting the medium to advanced level academic, this book will appeal to researchers and students with an interest in the progression of mathematical theory and its application to nuclear computational science.
Author: Serge Marguet
Publisher: Springer
ISBN: 3319595601
Category : Science
Languages : en
Pages : 1462
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Book Description
This comprehensive volume offers readers a progressive and highly detailed introduction to the complex behavior of neutrons in general, and in the context of nuclear power generation. A compendium and handbook for nuclear engineers, a source of teaching material for academic lecturers as well as a graduate text for advanced students and other non-experts wishing to enter this field, it is based on the author’s teaching and research experience and his recognized expertise in nuclear safety. After recapping a number of points in nuclear physics, placing the theoretical notions in their historical context, the book successively reveals the latest quantitative theories concerning: • The slowing-down of neutrons in matter • The charged particles and electromagnetic rays • The calculation scheme, especially the simplification hypothesis • The concept of criticality based on chain reactions • The theory of homogeneous and heterogeneous reactors • The problem of self-shielding • The theory of the nuclear reflector, a subject largely ignored in literature • The computational methods in transport and diffusion theories Complemented by more than 400 bibliographical references, some of which are commented and annotated, and augmented by an appendix on the history of reactor physics at EDF (Electricité De France), this book is the most comprehensive and up-to-date introduction to and reference resource in neutronics and reactor theory.
Author: Laure Beyala
Publisher: Elsevier
ISBN: 0081023723
Category : Medical
Languages : en
Pages : 186
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Book Description
Connected objects today present a range of opportunities in medicine. We live in a new digital era where the monitoring and analysis of one's own health information no longer belongs solely to the realm of science fiction. The success of these new devices resides in their usage, which integrates seamlessly into the daily life of the user in order to continually collect the maximum amount of data. These medical connected devices therefore constitute a new hope in transforming user experience as well as the care pathway. They offer a better level of support and a better quality of life for those suffering from chronic illnesses or mental, sensorial or physical disabilities. However, these solutions also pose systematic problems, especially regarding the risks linked to their usage. This book presents a cartography which clearly details all the potential risk scenarios linked to the usage of connected devices as well as the actions which should be undertaken to promote balanced governance and guarantee the development of high-quality medical devices. - Aims to help the reader understand the difference between a connected object and a medical connected device - Identifies and evaluates all the potential risks and perspectives associated with the use of connected medical devices - Shows how to make a comprehensive risk analysis with standards like ISO 31000 and 14971
Author: Harry Farrar
Publisher: ASTM International
ISBN: 0803118996
Category : Nuclear reactors
Languages : en
Pages : 854
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Book Description
Proceedings of the 8th ASTM-Euratom Symposium, held in Vail, Colorado, Aug.-Sept. 1993, to provide a forum for experts to discuss their latest results under the broad theme of dosimetry for the correlation of radiation effects. Preceded by a summary of the keynote presentations and followed by summa
