Aspects structuraux et electriques de l'implantation ionique de Bore dans des couches de diamant

Aspects structuraux et electriques de l'implantation ionique de Bore dans des couches de diamant PDF Author: Frederic Fontaine
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 198

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Book Description
LE BUT DE CETTE THESE EST D'ETUDIER LES ASPECTS STRUCTURAUX ET ELECTRIQUES DE L'IMPLANTATION IONIQUE DE BORE DANS DES COUCHES DE DIAMANT. LA THESE DEBUTE PAR LA PRESENTATION DES TECHNIQUES D'ELABORATIONS DES COUCHES ET PAR L'ETUDE DE L'INFLUENCE DE QUELQUES PARAMETRES EXPERIMENTAUX. LES NOTIONS DE BASE DE L'IMPLANTATION IONIQUE ET UN RAPIDE HISTORIQUE DE L'APPLICATION DE CETTE TECHNIQUE AU DIAMANT FONT L'OBJET DU SECOND CHAPITRE. DANS LE TROISIEME CHAPITRE, LES CARACTERISATIONS STRUCTURALES ET ELECTRIQUES DES COUCHES NON RECUITES DANS UN PREMIER TEMPS, PUIS RECUITES DANS UN DEUXIEME TEMPS, MONTRENT LA STABILITE DE LEURS PROPRIETES INTRINSEQUES. L'INFLUENCE DE L'IMPLANTATION IONIQUE DE BORE SUR LES PROPRIETES STRUCTURALES ET ELECTRIQUES DE COUCHES NON RECUITES EST ETUDIEE AU QUATRIEME CHAPITRE. NOUS MONTRONS QU'IL EXISTE UNE DOSE D'IMPLANTATION SEUIL, AU DELA DE LAQUELLE LA ZONE IMPLANTEE SUBIT UNE TRANSFORMATION DE PHASE, DU DIAMANT VERS LE CARBONE AMORPHE. LE SIGNAL RPE ETROIT PROVIENT DE DEFAUTS SITUES DANS LE VOLUME DES CRISTALLITES ET LE SIGNAL RPE LARGE PROVIENT DE DEFAUTS SITUES AUX JOINTS DE GRAINS. LA METHODE DE RECUIT PAR ENCAPSULATION DE NITRURE DE SILICIUM EST PRESENTEE AU CINQUIEME CHAPITRE. CETTE TECHNIQUE PERMET DE RECUIRE LES COUCHES DE DIAMANT SOUS ARGON A 1300C PENDANT AU MOINS 6 HEURES, TOUT EN CONSERVANT L'INTEGRITE DE LA COUCHE. DANS LE DERNIER CHAPITRE, NOUS MENONS L'ETUDE DE L'INFLUENCE DU RECUIT SUR LES COUCHES IMPLANTEES. NOUS MONTRONS QUE LES ATOMES DE BORE NE DIFFUSENT PAS, PUIS QUE LA GUERISON DES DEFAUTS D'IMPLANTATION EST SUFFISANTE POUR PERMETTRE LE DOPAGE DES COUCHES DE DIAMANT. NOUS TERMINONS EN DEVELOPPANT UN MODELE DE LA COMPENSATION PRENANT EN COMPTE L'IONISATION PARTIELLE DE NIVEAU COMPENSATEUR AINSI QUE L'EXISTENCE D'UN FACTEUR DE DEGENERESCENCE NETTEMENT PLUS ELEVE QUE SA VALEUR CLASSIQUE

Aspects structuraux et electriques de l'implantation ionique de Bore dans des couches de diamant

Aspects structuraux et electriques de l'implantation ionique de Bore dans des couches de diamant PDF Author: Frederic Fontaine
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Languages : fr
Pages : 198

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LE BUT DE CETTE THESE EST D'ETUDIER LES ASPECTS STRUCTURAUX ET ELECTRIQUES DE L'IMPLANTATION IONIQUE DE BORE DANS DES COUCHES DE DIAMANT. LA THESE DEBUTE PAR LA PRESENTATION DES TECHNIQUES D'ELABORATIONS DES COUCHES ET PAR L'ETUDE DE L'INFLUENCE DE QUELQUES PARAMETRES EXPERIMENTAUX. LES NOTIONS DE BASE DE L'IMPLANTATION IONIQUE ET UN RAPIDE HISTORIQUE DE L'APPLICATION DE CETTE TECHNIQUE AU DIAMANT FONT L'OBJET DU SECOND CHAPITRE. DANS LE TROISIEME CHAPITRE, LES CARACTERISATIONS STRUCTURALES ET ELECTRIQUES DES COUCHES NON RECUITES DANS UN PREMIER TEMPS, PUIS RECUITES DANS UN DEUXIEME TEMPS, MONTRENT LA STABILITE DE LEURS PROPRIETES INTRINSEQUES. L'INFLUENCE DE L'IMPLANTATION IONIQUE DE BORE SUR LES PROPRIETES STRUCTURALES ET ELECTRIQUES DE COUCHES NON RECUITES EST ETUDIEE AU QUATRIEME CHAPITRE. NOUS MONTRONS QU'IL EXISTE UNE DOSE D'IMPLANTATION SEUIL, AU DELA DE LAQUELLE LA ZONE IMPLANTEE SUBIT UNE TRANSFORMATION DE PHASE, DU DIAMANT VERS LE CARBONE AMORPHE. LE SIGNAL RPE ETROIT PROVIENT DE DEFAUTS SITUES DANS LE VOLUME DES CRISTALLITES ET LE SIGNAL RPE LARGE PROVIENT DE DEFAUTS SITUES AUX JOINTS DE GRAINS. LA METHODE DE RECUIT PAR ENCAPSULATION DE NITRURE DE SILICIUM EST PRESENTEE AU CINQUIEME CHAPITRE. CETTE TECHNIQUE PERMET DE RECUIRE LES COUCHES DE DIAMANT SOUS ARGON A 1300C PENDANT AU MOINS 6 HEURES, TOUT EN CONSERVANT L'INTEGRITE DE LA COUCHE. DANS LE DERNIER CHAPITRE, NOUS MENONS L'ETUDE DE L'INFLUENCE DU RECUIT SUR LES COUCHES IMPLANTEES. NOUS MONTRONS QUE LES ATOMES DE BORE NE DIFFUSENT PAS, PUIS QUE LA GUERISON DES DEFAUTS D'IMPLANTATION EST SUFFISANTE POUR PERMETTRE LE DOPAGE DES COUCHES DE DIAMANT. NOUS TERMINONS EN DEVELOPPANT UN MODELE DE LA COMPENSATION PRENANT EN COMPTE L'IONISATION PARTIELLE DE NIVEAU COMPENSATEUR AINSI QUE L'EXISTENCE D'UN FACTEUR DE DEGENERESCENCE NETTEMENT PLUS ELEVE QUE SA VALEUR CLASSIQUE

Contribution a l'etude du dopage bore, azote et phosphore dans le diamant

Contribution a l'etude du dopage bore, azote et phosphore dans le diamant PDF Author: Jean-Pierre Lagrange
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 212

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LE DIAMANT EST UN SEMI-CONDUCTEUR A LARGE BANDE INTERDITE (5.4 EV) TRES PROMETTEUR EN ELECTRONIQUE A HAUTE TEMPERATURE ET DE FORTE PUISSANCE. CEPENDANT, SON UTILISATION EST LIMITEE PAR L'ABSENCE D'UN DOPAGE DE TYPE N. NOUS AVONS ETUDIE DANS CETTE THESE LE DOPAGE AU BORE DU DIAMANT (TYPE P), ET L'INCORPORATION DE PHOSPHORE ET D'AZOTE DANS LE DIAMANT PAR IMPLANTATION IONIQUE. NOUS AVONS ELABORE DES COUCHES MINCES DE DIAMANT PAR DEPOT CHIMIQUE EN PHASE VAPEUR ASSISTE PAR PLASMA MICRO-ONDE. NOUS AVONS UTILISE DANS NOTRE ETUDE DIVERSES TECHNIQUES DE CARACTERISATION : SPECTROSCOPIE DE DIFFUSION RAMAN, RESONANCE PARAMAGNETIQUE ELECTRONIQUE, RESISTIVITE EN FONCTION DE LA TEMPERATURE (DE 100K A 1000K), EFFET HALL, COURANTS THERMO-STIMULES, THERMOLUMINESCENCE. LES RESULTATS OBTENUS MONTRENT QUE LE DOPAGE AU BORE EST AUJOURD'HUI BIEN MAITRISE. DES MESURES ELECTRIQUES SUR UNE LARGE GAMME DE CONCENTRATION (DE 5 10#1#6 A 8 10#2#0 B.CM#-#3) MONTRENT TROIS REGIMES DE CONDUCTION DIFFERENTS : CONDUCTION PAR SAUT PAR PLUS PROCHE VOISIN, CONDUCTION PAR LA BANDE DE VALENCE, CONDUCTION METALLIQUE. NOUS AVONS MONTRE POUR LA PREMIERE FOIS UNE SATURATION DE LA CONDUCTIVITE ET UNE ENERGIE D'ACTIVATION A HAUTE TEMPERATURE E#A/2 TYPIQUE D'UN TAUX DE DEFAUTS COMPENSATEURS INFERIEUR A 10%. NOUS AVONS MONTRE QUE L'IMPLANTATION EST LA METHODE LA PLUS EFFICACE POUR INCORPORER DE L'AZOTE EN SITE SUBSTITUTIONNEL DANS LE DIAMANT. NEANMOINS, L'INCORPORATION D'AZOTE SEMBLE INDUIRE INDIRECTEMENT DES DEFAUTS PARAMAGNETIQUES DANS LE DIAMANT. NOUS AVONS AUSSI MONTRE QUE L'INCORPORATION DE PHOSPHORE EN SITE SUBSTITUTIONNEL EST POSSIBLE. NOUS AVONS DEFINI UN SEUIL D'AMORPHISATION COMPRIS ENTRE 3 ET 4 10#1#4 P.CM#-#2. TOUTEFOIS, UN NOUVEAU DEFAUT PARAMAGNETIQUE QUI SEMBLE ETRE INDUIT PAR LE PHOSPHORE APPARAIT APRES RECUIT. LA CONDUCTION EST ENCORE DOMINEE PAR LES DEFAUTS CREES PAR L'IMPLANTATION IONIQUE. CES RESULTATS SONT TRES PROMETTEURS POUR DES APPLICATIONS FUTURES EN MICROELECTRONIQUE.

The Boundaries of the West African Craton

The Boundaries of the West African Craton PDF Author: Nasser Ennih
Publisher: Geological Society of London
ISBN: 9781862392519
Category : Science
Languages : en
Pages : 552

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ZnO Thin Films

ZnO Thin Films PDF Author: Paolo Mele
Publisher:
ISBN: 9781536160864
Category : Zinc oxide thin films
Languages : en
Pages : 0

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Zinc oxide (ZnO) is an n-type semiconductor with versatile applications such as optical devices in ultraviolet region, piezoelectric transducers, transparent electrode for solar cells and gas sensors. This book "ZnO Thin Films: Properties, Performance and Applications" gives a deep insight in the intriguing science of zinc oxide thin films. It is devoted to cover the most recent advances and reviews the state of the art of ZnO thin films applications involving energy harvesting, microelectronics, magnetic devices, photocatalysis, photovoltaics, optics, thermoelectricity, piezoelectricity, electrochemistry, temperature sensing. It serves as a fundamental information source on the techniques and methodologies involved in zinc oxide thin films growth, characterization, post-deposition plasma treatments and device processing. This book will be invaluable to the experts to consolidate their knowledge and provide insight and inspiration to beginners wishing to learn about zinc oxide thin films.

Physical Properties of Amorphous Materials

Physical Properties of Amorphous Materials PDF Author: David Adler
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 1489922601
Category : Science
Languages : en
Pages : 448

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The Institute for Amorphous Studies was founded in 1982 as the international center for the investigation of amorphous mate rials. It has since played an important role in promoting the und er standing of disordered matter in general. An Institute lecture series on "Fundamentals of Amorphous Materials and Devices" was held during 1982-83 with distinguished speakers from universities and industry. These events were free and open to the public ,and were attended by many representatives of the scientific community. The lectures themselves were highly successful inasmuch as they provided not only formal instruction but also an opportunity for vigorous and stimulating debate. That last element could not be captured within the pages of a book I but the lectures concentrated on the latest advances in the field I which is why their essential contents are he re reproduced in collective form. Together they constitute an interdisciplinary status report of the field. The speakers brought many different viewpoints and a variety of back ground experiences io bear on the problems involved I but though language and conventions vary I the essential unity of the concerns is very clear I as indeed are the ultimate benefits of the many-sided approach.