Etude par microscopie électronique et diffraction des rayons X, des configurations et densités de dislocations, des probabilités et énergies de défauts d'empilement d'alliages à base de cuivre PDF Download
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Author: Daniel Rondot
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 118
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Author: Daniel Rondot
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Category :
Languages : fr
Pages : 118
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Author: Hélène Varlet
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 138
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Le travail présenté dans ce mémoire vise à mieux comprendre les mécanismes mis en jeu lors de la relaxation de couches épitaxiées GaInAs déposées sur substrat GaAs vicinal {111}. L'angle de coupe, nécessaire pour garantir une croissance bidimensionnelle de la couche, est à l'origine d'une forte anisotropie de relaxation. Une méthode de caractérisation par diffraction des rayons X, ne nécessitant aucune hypothèse préalable sur l'état de contrainte, a été développée pour déterminer précisément la composition chimique et l'état de relaxation des couches. Elle a permis de montrer, pour des couches d'épaisseur de l'ordre du micromètre, qu'il existe une importante rotation des plans cristallins de la couche et que la relaxation se produit très majoritairement suivant la direction de l'angle de coupe. Les observations fournies par la microscopie électronique viennent confirmer ce résultat. La relaxation plastique se produit par génération de fautes d'empilement intrinsèques bordées par des dislocations partielles. Pour expliquer les mécanismes ayant conduit à cette anisotropie, l'effet des bords de marches et la nature des défauts sont considérés.
Author: Jean-Pierre Eberhart
Publisher:
ISBN:
Category : Diffraction
Languages : fr
Pages : 532
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Author: Alice Becquart-Gallissian
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 112
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L'oxydation interne est un moyen idéal pour suivre une réaction de précipitation à partir des premiers stades Jusqu'à a phase oxyde. Nous avons ainsi étudié les mécanismes de formation et la morphologie de l' oxyde, précipités de MgO ou bandes d'oxydes parallèles à la surface lors de cette reaction dans les alliages Ag-Mg. Les techniques principales d'investigations ont été la microscopie electronique en Transmission Conventionnelle (METC) et Haute Résolution (METHR), Spectrométrie de pertes d'énergie des électrons (EELS), la Diffraction de rayons X la Microscope électronique à balayage (MEB) et la Spectrométrie de rayons X en dispersion d énergie (EDS). Nous avons mis en évidence, pour la première fois, l'existence de deux types de précipitation : inter et intragranulaire dans ce système. De plus, nous avons montré que le meilleur moyen d obtenir des interfaces métal/oxyde bien définies, passe par la formation de précipités cohérents et leur croissance. On obtient ainsi des précipités de forme octaédrique présentant des plans d' accolement (111) avec la matrice. L'analyse chimique par EELS montre l' existence des liaisons de type Ag-O-Mg à l'interface...
Author: Jean-Pierre Eberhart
Publisher: Bordas Editions
ISBN: 9782040187972
Category : Electron microscopy
Languages : fr
Pages : 614
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Author: Frank Montheillet
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 0
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![Contribution à l'étude par diffraction des rayons x et microscopie électronique des défauts de réseau dans les alliages [alpha] Cu-Sn après déformation plastique PDF](https://books.google.com/books/content/images/frontcover/rI25HAAACAAJ?fife=w80-h100)
Author: Jean Mignot
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 125
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