Ellipsométrie spectroscopique conventionnelle et généralisée de milieux anisotropes PDF Download
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Author: Aotmane En Naciri
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 336
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Book Description
Le travail présenté dans cette thèse est consacré au développement et à l'application de techniques d'ellipsométrie conventionnelle et généralisée pour la caractérisation de milieux anisotropes. Dans la première partie sont exposés les principaux résultats de la théorie électromagnétique des milieux anisotropes et la méthode de calcul des coefficients de réflexion à l'interface d'un milieu anisotrope uniaxe arbitraire. La seconde partie, est consacrée à l'adaptation de l'ellipsomètre à polariseur tournant à trois éléments (PRPSE) à la mesure d'échantillons anisotropes. La troisième partie est dédiée à l'extension de l'ellipsomètre (PRPSE) à l'ellipsométrie généralisée pour déterminer totalement la matrice de Jones comportant des éléments non diagonaux différents de zéro. Les outils logiciels et les procédures expérimentales permettant de remonter aux caractéristiques optiques de la surface d'un échantillon anisotrope ont été réalisés. L'application de ces deux techniques a été consacrée aux mesures d'indices principaux de réfraction complexes ordinaire et extraordinaire de l'iodure mercurique HgI2. L'évolution d'état de surface de HgI2 en fonction du temps a été analysée par l'ellipsomètre PRPSE
Author: Aotmane En Naciri
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Languages : fr
Pages : 336
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Book Description
Le travail présenté dans cette thèse est consacré au développement et à l'application de techniques d'ellipsométrie conventionnelle et généralisée pour la caractérisation de milieux anisotropes. Dans la première partie sont exposés les principaux résultats de la théorie électromagnétique des milieux anisotropes et la méthode de calcul des coefficients de réflexion à l'interface d'un milieu anisotrope uniaxe arbitraire. La seconde partie, est consacrée à l'adaptation de l'ellipsomètre à polariseur tournant à trois éléments (PRPSE) à la mesure d'échantillons anisotropes. La troisième partie est dédiée à l'extension de l'ellipsomètre (PRPSE) à l'ellipsométrie généralisée pour déterminer totalement la matrice de Jones comportant des éléments non diagonaux différents de zéro. Les outils logiciels et les procédures expérimentales permettant de remonter aux caractéristiques optiques de la surface d'un échantillon anisotrope ont été réalisés. L'application de ces deux techniques a été consacrée aux mesures d'indices principaux de réfraction complexes ordinaire et extraordinaire de l'iodure mercurique HgI2. L'évolution d'état de surface de HgI2 en fonction du temps a été analysée par l'ellipsomètre PRPSE
Author: Boris Lecourt
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Languages : fr
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Book Description
CETTE THESE EST CONSACREE AU DEVELOPPEMENT ET A L'APPLICATION DE METHODES D'ELLIPSOMETRIE CONVENTIONNELLE ET GENERALISEE POUR L'ETUDE DE FILMS MOLECULAIRES ULTRAMINCES. DANS LA PREMIERE PARTIE SONT EXPOSES LES BASES DE L'ELLIPSOMETRIE ET EN PARTICULIER LES PROBLEMES DE MODELISATION ET D'INVERSION DES DONNEES EXPERIMENTALES. LA DEUXIEME PARTIE EST DEDIEE AUX TECHNIQUES INSTRUMENTALES DE MESURES REALISEES SUR UN ELLIPSOMETRE A POLARISEUR TOURNANT (GESP5) DE LA SOCIETE SOPRA. LA TROISIEME PARTIE EST CONSACREE A LA DETERMINATION DES CONSTANTES OPTIQUES DE FILMS AUTOSUPPORTES ULTRAMINCES DE SURFACTANT ET DE CRISTAUX LIQUIDES PAR ELLIPSOMETRIE EN TRANSMISSION ET REFLECTOMETRIE AUTOUR DE L'ANGLE DE BREWSTER. ENFIN, LES DEUX DERNIERS CHAPITRES DECRIVENT UNE METHODE SPECIFIQUE D'ELLIPSOMETRIE GENERALISEE POUR LA DETERMINATION DE FAIBLES ANISOTROPIES DANS LE PLAN ET L'APPLICATION DE CETTE METHODE A L'ETUDE DE FILMS LANGMUIR-BLODGETT
Author: Boris Lecourt
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 229
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Book Description
CETTE THESE EST CONSACREE AU DEVELOPPEMENT ET A L'APPLICATION DE METHODES D'ELLIPSOMETRIE CONVENTIONNELLE ET GENERALISEE POUR L'ETUDE DE FILMS MOLECULAIRES ULTRAMINCES. DANS LA PREMIERE PARTIE SONT EXPOSES LES BASES DE L'ELLIPSOMETRIE ET EN PARTICULIER LES PROBLEMES DE MODELISATION ET D'INVERSION DES DONNEES EXPERIMENTALES. LA DEUXIEME PARTIE EST DEDIEE AUX TECHNIQUES INSTRUMENTALES DE MESURES REALISEES SUR UN ELLIPSOMETRE A POLARISEUR TOURNANT (GESP5) DE LA SOCIETE SOPRA. LA TROISIEME PARTIE EST CONSACREE A LA DETERMINATION DES CONSTANTES OPTIQUES DE FILMS AUTOSUPPORTES ULTRAMINCES DE SURFACTANT ET DE CRISTAUX LIQUIDES PAR ELLIPSOMETRIE EN TRANSMISSION ET REFLECTOMETRIE AUTOUR DE L'ANGLE DE BREWSTER. ENFIN, LES DEUX DERNIERS CHAPITRES DECRIVENT UNE METHODE SPECIFIQUE D'ELLIPSOMETRIE GENERALISEE POUR LA DETERMINATION DE FAIBLES ANISOTROPIES DANS LE PLAN ET L'APPLICATION DE CETTE METHODE A L'ETUDE DE FILMS LANGMUIR-BLODGETT.
Author: Hiroyuki Fujiwara
Publisher: Wiley
ISBN: 9780470016084
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 392
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Book Description
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields.
Author: Paolo Mele
Publisher:
ISBN: 9781536160864
Category : Zinc oxide thin films
Languages : en
Pages : 0
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Book Description
Zinc oxide (ZnO) is an n-type semiconductor with versatile applications such as optical devices in ultraviolet region, piezoelectric transducers, transparent electrode for solar cells and gas sensors. This book "ZnO Thin Films: Properties, Performance and Applications" gives a deep insight in the intriguing science of zinc oxide thin films. It is devoted to cover the most recent advances and reviews the state of the art of ZnO thin films applications involving energy harvesting, microelectronics, magnetic devices, photocatalysis, photovoltaics, optics, thermoelectricity, piezoelectricity, electrochemistry, temperature sensing. It serves as a fundamental information source on the techniques and methodologies involved in zinc oxide thin films growth, characterization, post-deposition plasma treatments and device processing. This book will be invaluable to the experts to consolidate their knowledge and provide insight and inspiration to beginners wishing to learn about zinc oxide thin films.
