Elaboration d'une méthodologie de localisation de défauts sur circuits intégrés logiques par test sous faisceau d'électrons ; application à différentes fonctions électroniques PDF Download
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Author: François Marc
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Languages : fr
Pages : 190
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Book Description
UNE METHODOLOGIE ANALYTIQUE DE LOCALISATION DE DEFAUT PAR TEST SOUS FAISCEAU D'ELECTRONS POUR LES CIRCUITS INTEGRES LOGIQUES, APPLICABLE DANS LES SITUATIONS DE CONNAISSANCE MINIMALE DU CIRCUIT, A ETE DEVELOPPEE. CETTE METHODOLOGIE CONSISTE EN UNE DECOMPOSITION DE CHAQUE OBJECTIF EN OBJECTIFS PLUS SIMPLES, ASSOCIEE A UN CHOIX RIGOUREUX DES TECHNIQUES D'OBSERVATION ET DES SEQUENCES DE TEST EN FONCTION DU CIRCUIT TESTE, DU TESTEUR UTILISE, DES PHENOMENES PHYSIQUES LIMITANT LES PERFORMANCES, ET SURTOUT DE L'OBJECTIF. L'INTERET D'UNE TECHNIQUE DE LOCALISATION RAPIDE DE FONCTIONS INTERNES QUELCONQUES A CONDUIT AU DEVELOPPEMENT DE LA SELECTION DE SIGNAUX, PARTICULIEREMENT PERFORMANTE DANS CE DOMAINE. L'APPLICATION DE LA METHODOLOGIE A DES FAMILLES FONCTIONNELLES COURANTES A ENTRAINE LA CONSTRUCTION DE METHODOLOGIES SPECIFIQUES EXPLOITANT LES PARTICULARITES DE CES CIRCUITS. L'EFFICACITE ET LA RAPIDITE DE LA METHODOLOGIE SONT DEMONTREES PAR DES CAS REELS D'ANALYSES
Author: François Marc
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Languages : fr
Pages : 190
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UNE METHODOLOGIE ANALYTIQUE DE LOCALISATION DE DEFAUT PAR TEST SOUS FAISCEAU D'ELECTRONS POUR LES CIRCUITS INTEGRES LOGIQUES, APPLICABLE DANS LES SITUATIONS DE CONNAISSANCE MINIMALE DU CIRCUIT, A ETE DEVELOPPEE. CETTE METHODOLOGIE CONSISTE EN UNE DECOMPOSITION DE CHAQUE OBJECTIF EN OBJECTIFS PLUS SIMPLES, ASSOCIEE A UN CHOIX RIGOUREUX DES TECHNIQUES D'OBSERVATION ET DES SEQUENCES DE TEST EN FONCTION DU CIRCUIT TESTE, DU TESTEUR UTILISE, DES PHENOMENES PHYSIQUES LIMITANT LES PERFORMANCES, ET SURTOUT DE L'OBJECTIF. L'INTERET D'UNE TECHNIQUE DE LOCALISATION RAPIDE DE FONCTIONS INTERNES QUELCONQUES A CONDUIT AU DEVELOPPEMENT DE LA SELECTION DE SIGNAUX, PARTICULIEREMENT PERFORMANTE DANS CE DOMAINE. L'APPLICATION DE LA METHODOLOGIE A DES FAMILLES FONCTIONNELLES COURANTES A ENTRAINE LA CONSTRUCTION DE METHODOLOGIES SPECIFIQUES EXPLOITANT LES PARTICULARITES DE CES CIRCUITS. L'EFFICACITE ET LA RAPIDITE DE LA METHODOLOGIE SONT DEMONTREES PAR DES CAS REELS D'ANALYSES
Author: Raoul Velazco
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Languages : en
Pages : 250
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Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Author: Romain Desplats
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Languages : fr
Pages : 264
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CE MEMOIRE PRESENTE DES METHODES ET TECHNIQUES INNOVANTES POUR LA LOCALISATION DE DEFAUTS DANS LES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES DONT LE DESSIN DES MASQUES EST INCONNU. LES AVANCEES PROPOSEES REPONDENT A UN BESOIN RENCONTRE POUR L'ANALYSE DE DEFAILLANCE DES CIRCUITS COMMERCIAUX ET PROGRAMMABLES. UNE REVUE DE L'ETAT DE L'ART DES TECHNIQUES DE LOCALISATION PAR CONTRASTE DE POTENTIEL A MIS EN EVIDENCE L'ABSENCE DE TECHNIQUES OU METHODES POUR REPONDRE EFFICACEMENT ET DANS DES DELAIS BREFS A CE DEFI DE LOCALISATION. LE LOGICIEL IMAGE FAULT ANALYSIS (IFA) IMPLANTE SUR LES TESTEURS PAR FAISCEAU D'ELECTRONS IDS 5000 OFFRE LES BASES D'UNE METHODE DE LOCALISATION PAR COMPARAISON D'IMAGES ENTRE UN CIRCUIT DEFAILLANT ET UN CIRCUIT DE REFERENCE. EN S'APPUYANT SUR IFA, NOUS AVONS EVALUE DE FACON PRATIQUE ET THEORIQUE LA DUREE DE LOCALISATION ET LES PARAMETRES MIS EN JEUX, TELS QUE LA SURFACE DU CIRCUIT, LE NOMBRE DE VECTEURS ET LE TEMPS DE CHANGEMENT DE CIRCUITS. BASEES SUR CETTE ETUDE, NOUS AVONS DEVELOPPE DEUX APPROCHES : IFA DICHOTOMIE QUI RAMENE LA DUREE DE LOCALISATION DE PLUSIEURS MOIS AVEC IFA AUTOMATIQUE (METHODE DE BASE SUR L'IDS) A MOINS D'UNE SEMAINE (28 H MACHINE) POUR UN CIRCUIT PROGRAMMABLE FPGA D'UNE TAILLE DE 1 CM#2 ET IFA BACKTRACING QUI REDUIT CETTE DUREE A MOINS DE HUIT HEURES POUR LE MEME CIRCUIT DANS LE CAS D'UN FONCTIONNEMENT MARGINAL (LE MEME CIRCUIT PEUT ETRE MIS DANS UNE CONFIGURATION DEFAILLANTE OU FONCTIONNELLE). POUR ALLER PLUS LOIN ET REDUIRE ENCORE LA DUREE DE LA LOCALISATION, DES INFORMATIONS SUPPLEMENTAIRES ONT ALORS ETE INJECTEES PERMETTANT LE DEVELOPPEMENT D'APPROCHES NOVATRICES TELLES QUE : - LA LOCALISATION ASSISTEE PAR LE TEST I#D#D#Q, - LA LOCALISATION ASSISTEE PAR LA SIMULATION ELECTRIQUE POUR LE TEST INTERNE, - LA LOCALISATION ASSISTEE PAR LA GENERATION D'UN PSEUDO-LAYOUT. CETTE DERNIERE APPROCHE, DANS LE CAS D'UN CIRCUIT A1280 PERMET, GRACE A LA TECHNIQUE DE LA SELECTION DE SIGNAUX (QUE NOUS AVONS IMPLANTEE SUR L'IDS), DE S'AFFRANCHIR DE LA CONTRAINTE DU MODE IMAGE POUR ACCEDER AUX OUTILS DE NAVIGATION, SIMULATION ET MESURE COMME POUR UN ASIC POUR LEQUEL LE DESSIN DES MASQUES EST ACCESSIBLE.
Author: Magdalena Sienkiewicz
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Languages : fr
Pages : 0
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Cette thèse s'inscrit dans le domaine de la localisation de défauts de type «soft» dans les Circuits Intégrés (CI) analogiques et mixtes à l'aide des techniques dynamiques de stimulation laser en faible perturbation. Les résultats obtenus à l'aide de ces techniques sont très complexes à analyser dans le cas des CI analogiques et mixtes. Ce travail porte ainsi particulièrement sur le développement d'une méthodologie facilitant l'analyse des cartographies laser. Cette méthodologie est basée sur la comparaison de résultats de simulations électriques de l'interaction faisceau laser-CI avec des résultats expérimentaux (cartographies laser). L'influence des phénomènes thermique et photoélectrique sur les CI (niveau transistor) a été modélisée et simulée. La méthodologie a été validée tout d'abord sur des structures de tests simples avant d'être utilisée sur des CI complexes que l'on trouve dans le commerce.
Author: Francis Jouaville
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Languages : fr
Pages : 144
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Author: Philippe Chardon
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Languages : fr
Pages : 314
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LA COMPLEXITE CROISSANTE DES CIRCUITS LOGIQUES VLSI INDUIT DE GRANDES DIFFICULTES POUR LA LOCALISATION DES DEFAUTS LORSQU'ILS SONT DETECTES PAR UN TEST LOGIQUE OU BOOLEEN. PLUSIEURS TRAVAUX CONCERNENT CE PROBLEME, MAIS AUCUN NE PREND EN COMPTE DE MANIERE SYSTEMATIQUE LA CONNAISSANCE DE HAUT NIVEAU SUR LA STRUCTURE ET LE COMPORTEMENT DU CIRCUIT. UNE PROPRIETE FONDAMENTALE DE L'ALGEBRE DE BOOLE SUR LA DIFFERENCE BOOLEENNE EST ENSUITE UTILISEE POUR DEMONTRER UN THEOREME INDISPENSABLE AU DIAGNOSTIC. L'ASPECT MODULE EST ALORS ABORDE EN ETUDIANT LES CONSEQUENCES DE LA PRESENCE D'UNE PANNE SIMPLE AU SEIN D'UN MODULE ISOLE. DES PROPRIETES SONT DECRITES ET DEVELOPPEES DANS CE SENS. AVEC CETTE BASE, ON ETEND ENSUITE LE PROBLEME DU DIAGNOSTIC A UN CIRCUIT QUI EST DEFINI COMME UN ENSEMBLE DE MODULES RELIES PAR DES CHEMINS DE PROPAGATION. APRES L'ETUDE DES DIVERS TYPE DE CHEMINS FONCTIONNELS, UNE METHODE TOPOLOGIQUE EST UTILISEE POUR GENERER L'ENSEMBLE DES MODULES SUSPECTS. UNE DISTINCTION EST FAITE ENTRE LES CIRCUITS DITS ARBORESCENTS ET LES CIRCUITS EN TREILLIS AVEC L'ETUDE DE LEURS PROPRIETES RESPECTIVES POUR ABOUTIR AU DERNIER CHAPITRE A L'ELABORATION D'UNE METHODOLOGIE DE DIAGNOSTIC AVEC L'ALGORITHME DE LOCALISATION. ENFIN, APRES UNE DESCRIPTION DE CETTE METHODOLOGIE, DES EXEMPLES SONT PRESENTES
Author: Jean-Luc Pélissier
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Languages : fr
Pages : 216
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LE MEMOIRE DE THESE FAIT LE POINT SUR L'ANALYSE DE LA DEFAILLANCE, SES IMPLICATIONS ECONOMIQUES, SON INTERET POUR LE DEVELOPPEMENT DES CIRCUITS INTEGRES VLSI. L'AUTEUR SOULIGNE LES IMPERFECTIONS DES TECHNIQUES CLASSIQUES D'INVESTIGATION TRADITIONNELLEMENT APPLIQUEES A CETTE ANALYSE. IL MONTRE L'INTERET DE L'ANALYSE SANS CONTACT PAR FAISCEAU D'ELECTRONS, ET DANS LES DIFFERENTES UTILISATIONS DE CETTE METHODE, IL MONTRE QUELLES EN SONT LES POTENTIALITES. IL CHOISIT ALORS D'EN PRIVILEGIER UNE, ET L'AUTOMATIQUE. CETTE AUTOMATISATION PRESENTE DEUX ASPECTS. L'UN EST LIE A LA GESTION D'UN PARC DE MATERIEL IMPORTANT ET L'AUTEUR DEVELOPPE LE LOGICIEL NECESSAIRE A SON FONCTIONNEMENT ET A SA MAINTENANCE, L'AUTRE CONCERNE L'ANALYSE ET LE TRAITEMENT DES RESULTATS SOUS FORME D'ANALYSE ET DE TRAITEMENT D'IMAGES
Author: Félix Beaudoin
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Languages : fr
Pages : 206
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Ce travail de recherche élabore une stratégie d'analyse orientée sur le test par la face arrière des composants microélectroniques. En premier lieu y est présenté l'état de l'art des techniques de localisation de défaut adaptées par la face arrière, ainsi que les méthodes de préparation des échantillons. Le travail s'intéresse particulièrement à la stimulation thermique laser, et une étude des différents phénomènes thermiques induits dans les métaux par le faisceau laser est présentée. Il est par la suite question de l'implantation de la stimulation thermique laser sur un système industriel qui intègre un microscope confocal à balayage laser infrarouge. L'application de cette technique pour détecter des défauts dans les éléments métalliques et non-métalliques est démontrée sur un circuit test et sur plusieurs circuits VLSI défaillants. Finalement, ce travail présente un premier répertoire d'application de la stimulation thermique laser dans un processus d'analyse de défaillance.
Author: Corinne Daujan
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Languages : fr
Pages : 158
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LE DEVELOPPEMENT DE LA MICROELECTRONIQUE A ETE CONSIDERABLE DEPUIS CES DIX DERNIERES ANNEES. IL SE TRADUIT PAR DES TAILLES DE COMPOSANTS EN CONSTANTE DIMINUTION OFFRANT DES POSSIBILITES D'INTEGRATION, POUR LES CIRCUITS INTEGRES, A TRES GRANDE ECHELLE. CETTE EVOLUTION A EU LIEU CONJOINTEMENT AVEC, ENTRE AUTRE, LE DEVELOPPEMENT DE NOUVEAUX LOGICIELS DE CAO, ET DE METHODES DE SIMULATION DE FAUTES DESTINEES A ANTICIPER LES CONSEQUENCES DES DEFAUTS DE PROCESS ET FACILITER AINSI L'INTERPRETATION DE CERTAINS RESULTATS DANS LA PHASE DE TEST DU CIRCUIT. CES METHODES, TRES AU POINT DANS LE DOMAINE DIGITAL, ONT PRIS UN CERTAIN RETARD DANS LE DOMAINE DE L'ANALOGIQUE DU A LA COMPLEXITE DE CELUI-CI. CE MANUSCRIT A POUR BUT DE PROPOSER UNE METHODE DE SIMULATION DE FAUTES ET D'ISOLATION DE FAUTES POUR LES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, BASES SUR LA TECHNIQUE DU DICTIONNAIRE DE FAUTES. ELLE EST ENTIEREMENT AUTOMATISABLE CAR NOUS AVONS CHOISI DE TRAITER LES DONNEES DE FACON BINAIRE. SON APPLICATION SUR DES CIRCUITS CONCRETS, PREALABLEMENT CONCUS POUR DES APPLICATIONS SPECIFIQUES, A PERMIS DE DETERMINER LES AVANTAGES AINSI QUE LES LIMITES DE CETTE METHODE.
Author: Claude Cohen-Tannoudji
Publisher: John Wiley & Sons
ISBN: 3527345558
Category : Science
Languages : en
Pages : 790
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Book Description
This new, third volume of Cohen-Tannoudji's groundbreaking textbook covers advanced topics of quantum mechanics such as uncorrelated and correlated identical particles, the quantum theory of the electromagnetic field, absorption, emission and scattering of photons by atoms, and quantum entanglement. Written in a didactically unrivalled manner, the textbook explains the fundamental concepts in seven chapters which are elaborated in accompanying complements that provide more detailed discussions, examples and applications. * Completing the success story: the third and final volume of the quantum mechanics textbook written by 1997 Nobel laureate Claude Cohen-Tannoudji and his colleagues Bernard Diu and Franck Laloë * As easily comprehensible as possible: all steps of the physical background and its mathematical representation are spelled out explicitly * Comprehensive: in addition to the fundamentals themselves, the books comes with a wealth of elaborately explained examples and applications Claude Cohen-Tannoudji was a researcher at the Kastler-Brossel laboratory of the Ecole Normale Supérieure in Paris where he also studied and received his PhD in 1962. In 1973 he became Professor of atomic and molecular physics at the Collège des France. His main research interests were optical pumping, quantum optics and atom-photon interactions. In 1997, Claude Cohen-Tannoudji, together with Steven Chu and William D. Phillips, was awarded the Nobel Prize in Physics for his research on laser cooling and trapping of neutral atoms. Bernard Diu was Professor at the Denis Diderot University (Paris VII). He was engaged in research at the Laboratory of Theoretical Physics and High Energy where his focus was on strong interactions physics and statistical mechanics. Franck Laloë was a researcher at the Kastler-Brossel laboratory of the Ecole Normale Supérieure in Paris. His first assignment was with the University of Paris VI before he was appointed to the CNRS, the French National Research Center. His research was focused on optical pumping, statistical mechanics of quantum gases, musical acoustics and the foundations of quantum mechanics.
