Author: ALAIN.. ROLLAND
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Languages : fr
Pages : 16
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DANS CE MEMOIRE, NOUS PRESENTONS UN MODELE ANALYTIQUE SIMPLE DU FONCTIONNEMENT STATIQUE ET DYNAMIQUE DU TRANSISTOR EN COUCHES MINCES A BASE DE SILICIUM AMORPHE HYDROGENE. NOUS MONTRONS QU'IL EST INDISPENSABLE DE PRENDRE EN COMPTE LA CONTRIBUTION DES ETATS PROFONDS (LIAISONS PENDANTES) POUR ETABLIR LES RELATIONS COURANT TENSION, EN PARTICULIER DANS LE REGIME DE FAIBLE ACCUMULATION. LES EFFETS LIES A LA REDUCTION DE L'EPAISSEUR DE LA COUCHE DE SILICIUM AMORPHE ET A LA QUALITE DE L'INTERFACE SUBSTRAT-SEMICONDUCTEUR SONT ANALYSES AU PLAN EXPERIMENTAL A PARTIR DE MESURES EFFECTUEES SUR DES STRUCTURES MIS ET SUR DES TFT POUR DIFFERENTES EPAISSEURS DE LA COUCHE SEMICONDUCTRICE AINSI QU'AU PLAN THEORIQUE A PARTIR D'UNE APPROCHE NUMERIQUE. ENFIN UNE DERNIERE PARTIE DE CE TRAVAIL EST CONSACREE A UN EXEMPLE D'UTILISATION DU MODELE PROPOSE POUR LE TFT DANS LE CADRE DE L'ADRESSAGE D'ECRANS PLATS A CRISTAUX LIQUIDES A MATRICE ACTIVE DE TRANSISTORS
Author: Thierry Leroux
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Languages : fr
Pages : 205
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CE MEMOIRE PRESENTE UN MODELE ANALYTIQUE DU COMPORTEMENT STATIQUE ET DYNAMIQUE DES TRANSISTORS COUCHES MINCES A BASE DE SILICIUM AMORPHE HYDROGENE. CETTE ANALYSE BASEE SUR L'HYPOTHESE D'UNE DISTRIBUTION EXPONENTIELLE D'ETATS LOCALISES EN BORD DE BANDE PERMET D'EN EXPLIQUER LES CARACTERISTIQUES. PAR AILLEURS, LES EXPRESSIONS DEVELOPPEES SONT CONFRONTEES AUX RESULTATS EXPERIMENTAUX OBTENUS GRACE A DIVERSES METHODES DE CARACTERISATION (MESURES STATIQUES, ETUDE DE CAPACITES MIS, MESURE DE LA REPONSE DU TCM EN REGIME TRANSITOIRE,...), CE QUI NOUS A PERMIS DE DETERMINER TOUS LES PARAMETRES INTERVENANT DANS LE MODELE. LE DERNIER CHAPITRE DE CE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE DE QUELQUES APPLICATIONS DU MODELE PRESENTE ( ETUDE D'INVERSEURS NONEE, SIMULATION) ET EN DEMONTRE L'UTILITE
Author: SANDRINE.. MARTIN
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Languages : fr
Pages : 189
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NOUS PRESENTONS DANS CE MEMOIRE UNE ANALYSE BIDIMENSIONNELLE DU COMPORTEMENT DES TRANSISTORS EN COUCHES MINCES A BASE DE SILICIUM AMORPHE HYDROGENE. CETTE ETUDE EST EFFECTUEE A LA FOIS SUR LE PLAN EXPERIMENTAL ET SUR LE PLAN THEORIQUE GRACE AU DEVELOPPEMENT D'UN SIMULATEUR NUMERIQUE BIDIMENSIONNEL PRENANT EN COMPTE LES SPECIFICITES DU SILICIUM AMORPHE, ET PLUS PARTICULIEREMENT LA DENSITE D'ETATS DANS LA BANDE INTERDITE. CE SIMULATEUR NOUS PERMET DE METTRE EN EVIDENCE LES MECANISMES PHYSIQUES MIS EN JEU DANS DIFFERENTS REGIMES DE FONCTIONNEMENT DU TRANSISTOR, A LA FOIS DANS L'OBSCURITE ET SOUS ECLAIREMENT. LORSQUE LE TFT EST DANS L'ETAT PASSANT, NOUS POUVONS OBSERVER UNE DEGRADATION SIGNIFICATIVE DES PERFORMANCES DU TRANSISTOR EN TERME DE MOBILITE D'EFFET DE CHAMP, QUI EST ATTRIBUEE A L'EXISTENCE DE RESISTANCES D'ACCES AU CANAL DE CONDUCTION DEPUIS LES CONTACTS DE SOURCE ET DE DRAIN. APRES AVOIR ANALYSE L'ORIGINE PHYSIQUE DE TELLES RESISTANCES PARASITES, NOUS PRESENTONS LEUR SENSIBILITE AUX PARAMETRES GEOMETRIQUES ET PHYSIQUES DU TFT. EN CE QUI CONCERNE LE COMPORTEMENT DU TFT SOUS ECLAIREMENT, NOUS METTONS TOUT D'ABORD EN EVIDENCE DIFFERENTS REGIMES DE FONCTIONNEMENT SELON LES PLAGES DE TENSION DE GRILLE CONSIDEREES. PUIS NOUS PRECISIONS LA NATURE PHYSIQUE DU COURANT DANS CHACUN DE CES REGIMES ET LE ROLE DES CONDITIONS DE POLARISATION ET D'ECLAIREMENT DU COMPOSANT, AINSI QUE L'INFLUENCE DES PARAMETRES GEOMETRIQUES ET DES CARACTERISTIQUES PHYSIQUES INTERNES DU TFT. ENFIN, NOUS METTONS A PROFIT L'ANALYSE DU COMPORTEMENT DU TFT SOUS ECLAIREMENT POUR ETUDIER LA STABILITE ELECTRIQUE DU COMPOSANT. PLUS PRECISEMENT, NOUS MONTRONS QU'IL EST POSSIBLE, GRACE A L'ETUDE DU COMPORTEMENT DU TFT SOUS ECLAIREMENT AVANT ET APRES CONTRAINTE, DE SEPARER LES EFFETS DE MODIFICATIONS DE LA QUALITE ELECTRONIQUE DE LA COUCHE DE SILICIUM DE CEUX DUS A L'INJECTION DE CHARGE DANS L'ISOLANT DE GRILLE
Author: Thierry Leroux
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Languages : fr
Pages : 0
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CE MEMOIRE PRESENTE UN MODELE ANALYTIQUE DU COMPORTEMENT STATIQUE ET DYNAMIQUE DES TRANSISTORS COUCHES MINCES A BASE DE SILICIUM AMORPHE HYDROGENE. CETTE ANALYSE BASEE SUR L'HYPOTHESE D'UNE DISTRIBUTION EXPONENTIELLE D'ETATS LOCALISES EN BORD DE BANDE PERMET D'EN EXPLIQUER LES CARACTERISTIQUES. PAR AILLEURS, LES EXPRESSIONS DEVELOPPEES SONT CONFRONTEES AUX RESULTATS EXPERIMENTAUX OBTENUS GRACE A DIVERSES METHODES DE CARACTERISATION (MESURES STATIQUES, ETUDE DE CAPACITES MIS, MESURE DE LA REPONSE DU TCM EN REGIME TRANSITOIRE,...), CE QUI NOUS A PERMIS DE DETERMINER TOUS LES PARAMETRES INTERVENANT DANS LE MODELE. LE DERNIER CHAPITRE DE CE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE DE QUELQUES APPLICATIONS DU MODELE PRESENTE ( ETUDE D'INVERSEURS NONEE, SIMULATION) ET EN DEMONTRE L'UTILITE.
Author: FRANCOIS.. ROY
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Languages : fr
Pages : 193
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ANALYSE DE L'EVOLUTION EN FONCTIONNEMENT DES TRANSISTORS COUCHES MINCES A BASE DE SILICIUM AMORPHE HYDROGENE. CETTE ETUDE, BASEE SUR L'EVOLUTION DU COMPORTEMENT ELECTRIQUE, A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE: LA CREATION DE LIAISONS BRISEES DANS LA ZONE ACTIVE DU TRANSISTOR ET CORRESPONDANT A LA DISTRIBUTION DES NIVEAUX LOCALISES T3 DANS LA BANDE INTERDITE DU A-SI:H; L'AUGMENTATION DES ETATS DE SURFACE A L'INTERFACE SIO2/A-SI:H; L'AUGMENTATION DE LA TEMPERATURE CARACTERISTIQUE DE LA DISTRIBUTION EXPONENTIELLE D'ETATS DE QUEUE DE BANDE. LE CHOIX DE LA PROCEDURE EXPERIMENTALE A PERMIS DE MONTRER QUE LE PROCESSUS: EST NON ACTIVE THERMIQUEMENT, INDUIT PAR LES PORTEURS LIBRES ACCUMULES DANS LE CANAL SOUS EFFET DE CHAMP ET QUE LA CINETIQUE DE CE MECANISME SUIT UNE LOI EN "TEMPS **(1/3"). PAR AILLEURS, L'ETUDE D'UN TRANSISTOR AMBIPOLAIRE MONTRE QUE LA DEGRADATION SOUS CONTRAINTE ELECTRIQUE EST UNE COMPOSANTE DE L'EFFET STAEBLER-WRONSKI. L'ACCUMULATION D'ELECTRONS LIBRES OU DE TROUS LIBRES CONDUIT, INDEPENDAMENT, A L'AUGMENTATION DES LIAISONS BRISEES
Author: PHILIPPE.. VITROU
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Languages : fr
Pages : 195
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CETTE THESE PORTE SUR L'ETUDE DE LA STABILITE ELECTRIQUE DES TRANSISTORS EN COUCHES MINCES A BASE DE SILICIUM AMORPHE (TFT A-SI:H). DANS UNE PREMIERE PARTIE NOUS NOUS INTERESSONS A LA STABILITE ELECTRIQUE DES TFTS EN REGIME CONTINU. NOUS DEFINISSONS DIFFERENTS PRINCIPES EXPERIMENTAUX PERMETTANT DE MESURER LA CINETIQUE DU DECALAGE DE TENSION DE SEUIL ET NOUS LES UTILISONS POUR CARACTERISER LA STABILITE ELECTRIQUE DE NOS ECHANTILLONS DANS DE LARGES PLAGES DE TENSION ET DE TEMPERATURE. GRACE A UN PROGRAMME DE SIMULATION NUMERIQUE NOUS ETUDIONS, DE MANIERE THEORIQUE, L'INFLUENCE D'UNE TENSION DE CONTRAINTE SUR LA MODIFICATION DE LA DENSITE D'ETATS PROFONDS DE LA COUCHE DE SILICIUM AMORPHE ET SUR LA CARACTERISTIQUE DE TRANFERT D'UN TFT. EN TENANT COMPTE DE L'ASPECT TRANSISTOIRE DE LA MODIFICATION DE DENSITE D'ETATS, NOUS MONTRONS QUE LES DECALAGES DE TENSION DE SEUIL OBSERVES A LA SUITE D'UNE CONTRAINTE POSITIVE ET D'UNE FAIBLE CONTRAINTE NEGATIVE SONT DUS RESPECTIVEMENT A UNE CREATION ET UNE GUERISON DE DEFAUTS DANS LA COUCHE DE SILICIUM AMORPHE. D'AUTRE PART, DANS LE CAS D'UNE FORTE CONTRAINTE NEGATIVE, NOUS MONTRONS QU'AU MECANISME DE MODIFICATION DE LA DENSITE D'ETATS EVOQUE PRECEDEMMENT, SE SUPERPOSE UNE INJECTION DE TROUS DANS L'ISOLANT DE GRILLE. ENFIN, UNE DEUXIEME PARTIE, PLUS APPLIQUEE A L'ADRESSAGE D'ECRANS PLATS A CRISTAUX LIQUIDES, CONCERNE L'ETUDE DE LA STABILITE ELECTRIQUE DES TFTS EN REGIME DYNAMIQUE. NOUS ETABLISSONS UN MODELE PERMETTANT D'OBTENIR UNE LOI PREDICTIVE DE LA CINETIQUE DU DECALAGE DE TENSION DE SEUIL DANS CE REGIME DE FONCTIONNEMENT. NOUS VALIDONS UN TEST DE VIEILLISSEMENT ELECTRIQUE ACCELERE QUI PERMET DE PREVOIR LE COMPORTEMENT A LONG TERME DES TFTS ET D'ESTIMER LA DUREE DE VIE DE NOS ECRANS EN TERME DE DERIVE DES TRANSISTORS
Author: MUSTAPHA.. SAHNOUNE
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Languages : fr
Pages : 138
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L'OBJET DE CETTE THESE EST L'AMELIORATION DES CARACTERISTIQUES ELECTRIQUES D'UN TRANSISTOR BIPOLAIRE A EMETTEUR EN SILICIUM AMORPHE HYDROGENE DOPE AU PHOSPHORE ET LA MODELISATION DU COURANT BASE D'UNE TELLE STRUCTURE. AYANT ANALYSE ET REUSSI A DISCRIMINER LES POINTS TECHNOLOGIQUES IMPORTANTS INFLUENCANT LE COMPORTEMENT ELECTRIQUE, EN PARTICULIER LA QUALITE DES OXYDES D'ISOLATION ET DE LA BASE MONOCRISTALLINE AVANT DEPOT ET LA CONDUCTIVITE DE LA COUCHE DE A-SI:H, NOUS AVONS PU AMELIORER LE PROCEDE DE REALISATION. AINSI NOUS AVONS OBTENU DE MEILLEURES PERFORMANCES ELECTRIQUES DES TRANSISTORS, TOUT PARTICULIEREMENT UN GAIN EN COURANT DE L'ORDRE DE 1400 POUR UN NOMBRE DE GUMMEL DANS LA BASE DE 2,4.10#1#1 S.CM##4 ET UN COEFFICIENT D'IDEALITE DE L'ORDRE DE 1,5 POUR LE COURANT BASE DE L'HETEROJONCTION EMETTEUR-BASE. POUR CE FAIRE, NOUS AVONS FAIT APPEL A UN MODELE SEMI-ANALYTIQUE DU COURANT BASE DU TRANSISTOR QUI A PERMIS D'OBTENIR UNE BONNE CONCORDANCE ENTRE LES COURANTS SIMULES ET EXPERIMENTAUX. L'ANALYSE DES EFFETS DES ETATS D'INTERFACES A L'HETEROJONCTION EMETTEUR-BASE SUR LE COURANT I#B, ET DONC SUR LE FACTEUR D'IDEALITE, A PERMIS DE CONFIRMER UN CERTAIN NOMBRE DE RESULTATS ELECTRIQUES ET DONC D'ANALYSER L'INFLUENCE DES PARAMETRES TECHNOLOGIQUES CRITIQUES SUR LES PERFORMANCES DU COMPOSANT
Author: FRANCIS.. PETINOT
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Languages : fr
Pages : 235
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CE TRAVAIL CONTRIBUE A LA COMPREHENSION DU FONCTIONNEMENT DES TRANSISTORS EN COUCHES MINCES (TFT) EN SILICIUM POLYCRISTALLIN EN VUE DE LEUR INTEGRATION DANS UNE MATRICE ACTIVE D'ECRAN LCD. DEUX POINTS SONT PARTICULIEREMENT ETUDIES : L'HYDROGENATION DES TFTS ET LES MECANISMES DE DEGRADATION DE CE COMPOSANT. APRES AVOIR EXPOSE LE CONTEXTE INDUSTRIEL DE L'ETUDE, LA TECHNOLOGIE DE FABRICATION ET LA CARACTERISATION ELECTRIQUE DU TFT EN SILICIUM POLYCRISTALLIN SONT PRESENTEES. L'INFLUENCE DE LA DENSITE D'ETATS DE VOLUME DANS LA COUCHE ACTIVE POLYCRISTALLINE SUR LES CARACTERISTIQUES ELECTRIQUES DU TRANSISTOR Y EST ETUDIEE. ON DEVELOPPE ENSUITE L'ETAPE DE POST-HYDROGENATION DU TRANSISTOR POLYCRISTALLIN. APRES UNE OPTIMISATION DE CETTE ETAPE PAR PLASMA (RADIOFREQUENCE OU MICROONDE) ET DES RAPPELS SUR L'INTERACTION DE L'HYDROGENE AVEC LES DEFAUTS DANS LE SILICIUM, LE MECANISME DE DIFFUSION DE L'HYDROGENE DANS LA STRUCTURE DU TRANSISTOR POLYCRISTALLIN EST DEVELOPPE EN CORRELANT DES ANALYSES SIMS ET DES CARACTERISATIONS ELECTRIQUES SUR DES TRANSISTORS DE GEOMETRIES ET DE NATURES DIFFERENTES. L'ETUDE DE LA STABILITE ELECTRIQUE DES TFTS EN SILICIUM POLYCRISTALLIN EN REGIME SATURE, EST INTRODUITE PAR UNE ANALOGIE COMPORTEMENTALE AVEC LE TRANSISTOR MONOCRISTALLIN. APRES AVOIR PRESENTE DEUX MODELES RELATIFS A LA DEGRADATION DANS LE TRANSISTOR MONOCRISTALLIN ET A L'EFFET KINK DANS LES STRUCTURES MOS SUR ISOLANT, L'INFLUENCE DE DIFFERENTS PARAMETRES DU TRANSISTOR (HYDROGENATION, LONGUEUR DE GRILLE, TYPE DU TRANSISTOR, PRESENCE DE LDD ET CRISTALLINITE DE LA COUCHE ACTIVE) SUR SA STABILITE ELECTRIQUE Y EST DEVELOPPEE. LES CONDITIONS DE POLARISATION DES TFTS POUR OBTENIR UN FONCTIONNEMENT STABLE SONT PRESENTEES POUR LES DIFFERENTS TYPES DE TFT.
Author: ABDELMAJID.. EL GHARIB
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Languages : fr
Pages : 190
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LE BUT DE CE TRAVAIL EST LA REALISATION ET LA CARACTERISATION ELECTRIQUE DE TRANSISTORS BIPOLAIRES NPN A EMETTEUR ENTIEREMENT CONSTITUE DE SILICIUM AMORPHE HYDROGENE DOPE AU PHOSPHORE. MISE AU POINT D'UN PROCEDE DE FABRICATION. LA CARACTERISATION ELECTRIQUE DES PREMIERS TRANSISTORS A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE: L'EFFET TRANSISTOR, UN GAIN EN COURANT DE 150 AYANT ETE ATTEINT; LA NECESSITE DE DIMINUER LA RESISTIVITE DE LA COUCHE DE A-SI:H DOPE. OBTENTION D'UNE BONNE REPRODUCTIBILITE ET D'UNE MEILLEURE CONDUCTIVITE EN JOUANT SUR LES PARAMETRES DE DEPOT. UN MODELE SIMPLE DE CONDUCTION A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE LES PARAMETRES PHYSIQUES IMPORTANTS QUI PEUVENT AMELIORER LES CARACTERISTIQUES ELECTRIQUES DES TRANSISTORS. DE NOUVEAUX TRANSISTORS ONT ETE FABRIQUES EN TENANT COMPTE DE CES RESULTATS. L'ANALYSE DE LEUR COMPORTEMENT ELECTRIQUE MONTRE QUE LA RESISTIVITE DE LA COUCHE DE A-SI:H JOUE UN ROLE PREPONDERANT. UNE ETUDE EN FONCTION DU DOPAGE DE LA BASE A MONTRE QUE LES GAINS OBTENUS ETAIENT SYSTEMATIQUEMENT SUPERIEURS A LEUR CONTREPARTIE A EMETTEUR EN SILICIUM MONOCRISTALLIN
Author: L. Jeannerot
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Languages : fr
Pages : 62
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