CARACTERISATION DE STRUCTURES MIS PAR METHODES ELECTRIQUES ET PAR ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE PDF Download
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Author: Jean-Philippe Piel
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Category :
Languages : fr
Pages : 247
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Book Description
ON CARACTERISE A L'AIDE DE DEUX TECHNIQUES PLUSIEURS TYPES DE DEPOTS D'ISOLANTS (SIO::(2) ET SI::(3)N::(4)) SUR INP SUSCEPTIBLES DE L'INTEGRER DANS LA TECHNOLOGIE DU TRANSISTOR A EFFET CHAMP A GRILLE ISOLEE. ON EVALUE, PAR LA MESURE DE L'ADMITTANCE DES STRUCTURES MIS, LE PROFIL DE DENSITE D'ETATS D'INTERFACE PAR LA METHODE DE LA CONDUCTANCE DE NICOLLIAN ET GOETZBERGER. LA SECONDE METHODE, PAR ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE CONSISTE A ETUDIER LA REPONSE OPTIQUE DE LA STRUCTURE ISOLANT-SEMICONDUCTEUR SOUMIS A UN FAISCEAU LUMINEUX POLARISE RECTILIGNEMENT. ON DECRIT EN DETAIL L'ENSEMBLE DES CORRECTIONS A APPORTER AUX MESURES BRUTES AFIN DE TENIR COMPTE DES LIMITATIONS DE L'INSTRUMENT. LES SPECTRES EXPERIMENTAUX SONT INTERPRETES A L'AIDE D'UN MODELE MULTICOUCHE
Author: Jean-Philippe Piel
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Languages : fr
Pages : 247
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ON CARACTERISE A L'AIDE DE DEUX TECHNIQUES PLUSIEURS TYPES DE DEPOTS D'ISOLANTS (SIO::(2) ET SI::(3)N::(4)) SUR INP SUSCEPTIBLES DE L'INTEGRER DANS LA TECHNOLOGIE DU TRANSISTOR A EFFET CHAMP A GRILLE ISOLEE. ON EVALUE, PAR LA MESURE DE L'ADMITTANCE DES STRUCTURES MIS, LE PROFIL DE DENSITE D'ETATS D'INTERFACE PAR LA METHODE DE LA CONDUCTANCE DE NICOLLIAN ET GOETZBERGER. LA SECONDE METHODE, PAR ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE CONSISTE A ETUDIER LA REPONSE OPTIQUE DE LA STRUCTURE ISOLANT-SEMICONDUCTEUR SOUMIS A UN FAISCEAU LUMINEUX POLARISE RECTILIGNEMENT. ON DECRIT EN DETAIL L'ENSEMBLE DES CORRECTIONS A APPORTER AUX MESURES BRUTES AFIN DE TENIR COMPTE DES LIMITATIONS DE L'INSTRUMENT. LES SPECTRES EXPERIMENTAUX SONT INTERPRETES A L'AIDE D'UN MODELE MULTICOUCHE
Author: STEPHANE.. COLARD
Publisher:
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Category :
Languages : fr
Pages : 200
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Book Description
CE TRAVAIL CONCERNE LA CARACTERISATION PAR ELLIPSOMETRIE ET REFLECTIVITE DE COUCHES MASSIVES DE TIO#2, DE GA#0#,#5#2IN#0#,#4#8P ET DE GAN, ET D'UNE STRUCTURE MULTICOUCHE AL#0#,#3GA#0#,#7AS/GAAS. APRES L'AMELIORATION DU DISPOSITIF EXPERIMENTAL ET LE DEVELOPPEMENT DE PROGRAMMES INFORMATIQUES D'EXPLOITATION DES MESURES, NOUS NOUS SOMMES INTERESSES AU CHOIX DE L'ANGLE D'INCIDENCE. NOUS AVONS PROPOSE UN MOYEN DE CHOISIR UN OU PLUSIEURS ANGLES OPTIMUMS, C'EST A DIRE CEUX QUI MINIMISENT L'INCERTITUDE SUR LES RESULTATS. NOUS AVONS MIS AU POINT UN PROGRAMME CAPABLE DE DETERMINER LES CONDITIONS EXPERIMENTALES OPTIMALES MAIS AUSSI DE CALCULER LES LIMITES DE CARACTERISATION PAR ELLIPSOMETRIE CONNAISSANT LES INCERTITUDES EXPERIMENTALES. LES INDICES OPTIQUES DE TIO#2 ET DE GA#0#,#5#2IN#0#,#4#8P ONT ETE MESURES PRECISEMENT EN CHOISISSANT DES ANGLES D'INCIDENCE OPTIMUMS. LA PRISE EN COMPTE DE L'INHOMOGENEITE LATERALE NOUS A PERMIS DE DETERMINER AVEC PRECISION LES INDICES DE GAN DANS LA ZONE TRANSPARENTE. L'ASSOCIATION DE L'ELLIPSOMETRIE ET DE LA REFLECTIVITE PERMET D'UNE PART DE CONFRONTER LES RESULTATS ET D'AUTRE PART D'ETENDRE LES POSSIBILITES DE CARACTERISATION. NOUS AVONS AINSI PU CARACTERISER L'INDICE DE REFRACTION DE GAN EN FONCTION DE LA TEMPERATURE ENTRE 4,5 K ET 300 K, ET COMPARER LES RESULTATS D'ELLIPSOMETRIE A CEUX DE REFLECTIVITE A BASSE TEMPERATURE DANS LE CADRE DE LA CARACTERISATION D'UNE STRUCTURE MULTICOUCHE AL#0#,#3GA#0#,#7AS/GAAS.
Author: Marc Juvin
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Category :
Languages : fr
Pages : 155
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Les processus technologiques de fabrication des structures MIS sur InP, comportent généralement une étape de préparation du substrat, pendant laquelle on observe certaines modifications du matériau. Avec l'ellipsométrie spectroscopique, nous disposons d'un outil de caractérisation, capable d'analyser qualitativement et quantitativement une interface, à travers l'isolant déposé (Al2 O3). L'objet de ce travail est de présenter, après un rapide exposé des principes de base, la mise au point d'un banc automatique d'ellipsométrie spectroscopique, de type polariseur tournant. Une application à l'étude de la passivation de l'InP par un traitement thermique sous pression partielle d'Arsenic, est développée et montre une méthode de dépouillement des spectres à partir d'une modélisation simple à une ou deux couches.
Author: Keltoume Belalia
Publisher:
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Category :
Languages : fr
Pages :
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Author: Ahmed Belasri
Publisher: Springer Nature
ISBN: 9811554447
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 659
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This book highlights peer reviewed articles from the 1st International Conference on Renewable Energy and Energy Conversion, ICREEC 2019, held at Oran in Algeria. It presents recent advances, brings together researchers and professionals in the area and presents a platform to exchange ideas and establish opportunities for a sustainable future. Topics covered in this proceedings, but not limited to, are photovoltaic systems, bioenergy, laser and plasma technology, fluid and flow for energy, software for energy and impact of energy on the environment.
Author:
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ISBN:
Category : Electronics
Languages : en
Pages : 300
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Author: Seth C. Rasmussen
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 3642281834
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 89
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Glass production is thought to date to ~2500 BC and had found numerous uses by the height of the Roman Empire. Yet the modern view of glass-based chemical apparatus (beakers, flasks, stills, etc.) was quite limited due to a lack of glass durability under rapid temperature changes and chemical attack. This “brief” gives an overview of the history and chemistry of glass technology from its origins in antiquity to its dramatic expansion in the 13th century, concluding with its impact on society in general, particularly its effect on chemical practices.
Author: Gordon Haxel
Publisher:
ISBN:
Category : Electronic government information
Languages : en
Pages : 4
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Author: B. Catoire
Publisher: Springer
ISBN:
Category : Medical
Languages : en
Pages : 328
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"Publication partially sponsored by MRT (French Ministry of Research and Technology."
Author: Yutaka Yoshida
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 3642322204
Category : Science
Languages : en
Pages : 321
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Tutorials on Mössbauer Spectroscopy Since the discovery of the Mössbauer Effect many excellent books have been published for researchers and for doctoral and master level students. However, there appears to be no textbook available for final year bachelor students, nor for people working in industry who have received only basic courses in classical mechanics, electromagnetism, quantum mechanics, chemistry and materials science. The challenge of this book is to give an introduction to Mössbauer Spectroscopy for this level. The ultimate goal of this book is to give this audience not only a scientific introduction to the technique, but also to demonstrate in an attractive way the power of Mössbauer Spectroscopy in many fields of science, in order to create interest among the readers in joining the community of Mössbauer spectroscopists. This is particularly important at times where in many Mössbauer laboratories succession is at stake. This book will be used as a textbook for the tutorial sessions, organized at the occasion of the 2011 International Conference on the Application of Mössbauer Spectroscopy (ICAME2011) in Tokyo.
