Author: Raoul Velazco
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : en
Pages : 250
Book Description
Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Test Et Diagnostic de Circuits Intégrés Programmables
Author: Raoul Velazco
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Category :
Languages : en
Pages : 250
Book Description
Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
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Languages : en
Pages : 250
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Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Test et diagnostic de circuits intégrés programmables
Author: Raúl Velazco
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ISBN:
Category : Integrated circuits
Languages : en
Pages : 0
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Category : Integrated circuits
Languages : en
Pages : 0
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Scientific and Technical Aerospace Reports
Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Aeronautics
Languages : en
Pages : 564
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Category : Aeronautics
Languages : en
Pages : 564
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Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité
Author: École polytechnique (Montréal, Québec) Département de génie électrique et de génie informatique
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Category :
Languages : fr
Pages : 225
Book Description
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Category :
Languages : fr
Pages : 225
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Government Reports Annual Index
Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Government reports announcements & index
Languages : en
Pages : 1400
Book Description
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Category : Government reports announcements & index
Languages : en
Pages : 1400
Book Description
Diagnostic des réseaux d'interconnexions programmables dans les circuits intégrés à l'échelle de la tranche de silicium
Author: Sion Gontran
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : en
Pages : 104
Book Description
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Category :
Languages : en
Pages : 104
Book Description
Government Reports Announcements & Index
Author:
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ISBN:
Category : Science
Languages : en
Pages : 1424
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ISBN:
Category : Science
Languages : en
Pages : 1424
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Test par faisceau d'électrons et analyse d'images
Author: Jean-Philippe Pierrel
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 516
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CE TRAVAIL PORTE SUR L'ETUDE ET LA MISE EN UVRE D'UN SYSTEME INDUSTRIEL D'ANALYSE DE DEFAILLANCES DE CIRCUITS INTEGRES, EN L'ABSENCE DE DONNEES DE CONCEPTION, ET BASE SUR LE TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS. LE PRINCIPE CONSISTE A COMPARER LES INFORMATIONS ELECTRIQUES (IMAGES STROBOSCOPIQUES ET COURBES) ISSUES DU COMPOSANT DEFAILLANT A CELLES D'UN CIRCUIT DE REFERENCE. LE DEVELOPPEMENT DE CES TECHNIQUES DE TEST A NECESSITE L'AUTOMATISATION DES PROCEDURES D'ACQUISITION. POUR RESOUDRE LE PROBLEME MAJEUR DE LA PROCEDURE DE COMPARAISON, A SAVOIR LE RECYCLAGE SPATIAL, NOUS AVONS MIS EN UVRE DES TECHNIQUES BASEES SUR LA CORRELATION D'IMAGES. CES TRAVAUX ONT DEBOUCHE SUR LA PRESENTATION DU SYSTEME DE DIAGNOSTIC ET DE RESULTATS OBTENUS AU COURS D'ANALYSES
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ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 516
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CE TRAVAIL PORTE SUR L'ETUDE ET LA MISE EN UVRE D'UN SYSTEME INDUSTRIEL D'ANALYSE DE DEFAILLANCES DE CIRCUITS INTEGRES, EN L'ABSENCE DE DONNEES DE CONCEPTION, ET BASE SUR LE TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS. LE PRINCIPE CONSISTE A COMPARER LES INFORMATIONS ELECTRIQUES (IMAGES STROBOSCOPIQUES ET COURBES) ISSUES DU COMPOSANT DEFAILLANT A CELLES D'UN CIRCUIT DE REFERENCE. LE DEVELOPPEMENT DE CES TECHNIQUES DE TEST A NECESSITE L'AUTOMATISATION DES PROCEDURES D'ACQUISITION. POUR RESOUDRE LE PROBLEME MAJEUR DE LA PROCEDURE DE COMPARAISON, A SAVOIR LE RECYCLAGE SPATIAL, NOUS AVONS MIS EN UVRE DES TECHNIQUES BASEES SUR LA CORRELATION D'IMAGES. CES TRAVAUX ONT DEBOUCHE SUR LA PRESENTATION DU SYSTEME DE DIAGNOSTIC ET DE RESULTATS OBTENUS AU COURS D'ANALYSES
Structure et fonctionnement des circuits intégrés programmables
Author: Wladimir Mercouroff
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ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 94
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Languages : fr
Pages : 94
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Test des circuits intégrés numériques
Author:
Publisher: Ed. Techniques Ingénieur
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 14
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Publisher: Ed. Techniques Ingénieur
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Languages : fr
Pages : 14
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