Test de circuit intégrés par faisceau d'électrons PDF Download
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Author: Hélène Frémont
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 402
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Book Description
LE TRAVAIL PRESENTE COMPORTE UNE ETUDE THEORIQUE ET EXPERIMENTALE DE LA MESURE DE POTENTIEL SOUS FAISCEAU D'ELECTRONS A TRAVERS LES COUCHES ISOLANTES, PAR LA TECHNIQUE DU COUPLAGE CAPACITIF. UNE EXTENSION DU "MODE IMAGE" (RELEVE QUALITATIF) AU "MODE MESURE" (RELEVE QUANTITATIF) EST PRESENTEE. LES PHENOMENES DE CHARGE DES ISOLANTS ET D'ETALEMENT DE POTENTIEL ENTRE PISTES METALLIQUES SONT ANALYSES, ET LEUR IMPACT SUR LES PERFORMANCES EST EVALUE, A LA FOIS PAR MESURE DIRECTE ET PAR SIMULATIONS NUMERIQUES EN DEUX DIMENSIONS
Author: Hélène Frémont
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 402
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Book Description
LE TRAVAIL PRESENTE COMPORTE UNE ETUDE THEORIQUE ET EXPERIMENTALE DE LA MESURE DE POTENTIEL SOUS FAISCEAU D'ELECTRONS A TRAVERS LES COUCHES ISOLANTES, PAR LA TECHNIQUE DU COUPLAGE CAPACITIF. UNE EXTENSION DU "MODE IMAGE" (RELEVE QUALITATIF) AU "MODE MESURE" (RELEVE QUANTITATIF) EST PRESENTEE. LES PHENOMENES DE CHARGE DES ISOLANTS ET D'ETALEMENT DE POTENTIEL ENTRE PISTES METALLIQUES SONT ANALYSES, ET LEUR IMPACT SUR LES PERFORMANCES EST EVALUE, A LA FOIS PAR MESURE DIRECTE ET PAR SIMULATIONS NUMERIQUES EN DEUX DIMENSIONS
Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Aeronautics
Languages : en
Pages : 562
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Author: PASCALE.. VERGUIN DULIEUX
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 157
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L'EVOLUTION DRASTIQUE DE LA TECHNOLOGIE DE FABRICATION DES CIRCUITS INTEGRES REND DIFFICILE L'UTILISATION DES OUTILS D'ANALYSE CLASSIQUES. PARMI CES DERNIERS, LES CRISTAUX LIQUIDES PERMETTENT NEANMOINS LA LOCALISATION D'UN DEFAUT PHYSIQUE OU ELECTRIQUE SUR CIRCUIT INTEGRE. CETTE ETUDE A POUR OBJET DE PRECISER DANS QUELLES LIMITES ET SOUS QUELLES CONDITIONS LA METHODE DE TEST PAR CRISTAUX LIQUIDES RESTE VIABLE DANS UN ENVIRONNEMENT INDUSTRIEL. COMPAREE AUX OUTILS D'ANALYSE ACTUELLEMENT DISPONIBLES, CETTE METHODE, QUI AUTORISE A LA FOIS LA DETECTION DE POINTS CHAUDS ET LA VISUALISATION EN CONTRASTE DE POTENTIEL D'UN CIRCUIT EN FONCTIONNEMENT, REVELE UN TAUX DE COUVERTURE DE DEFAUTS ELEVE. SA LIMITE D'UTILISATION EN FREQUENCE EN FAIT UN OUTIL COMPLEMENTAIRE DU TEST PAR FAISCEAU D'ELECTRONS. MAIS LA MISE EN UVRE DES CRISTAUX LIQUIDES SOULEVE LES PROBLEMES DE LA FIABILITE ET DE LA REPRODUCTIBILITE DES MANIPULATIONS. AINSI, LA PRESENCE D'UN RELIEF EN SURFACE DU CIRCUIT SOUS TEST POURRA NUIRE A L'INTERPRETATION. DE MEME, LES ETAPES DE PREPARATION DE L'EXPERIENCE POURRONT METTRE EN PERIL LE CIRCUIT, SOUVENT UNIQUE, PRESENTANT LA DEFAILLANCE. AUSSI S'EFFORCERA-T-ON AU COURS DE CE TRAVAIL DE METTRE EN PLACE DES PROCEDES BIEN MAITRISES QUI MINIMISERONT LES RISQUES D'ERREURS. LA METHODE DE TEST PAR CRISTAUX LIQUIDES EST SUFFISAMMENT ATTRACTIVE POUR QUE L'ON S'ATTACHE A LA RENDRE FIABLE. ELLE PERMET EN EFFET LE TEST IN SITU DES COMPOSANTS DEFAILLANTS, CE QUI EVITE DE REPRODUIRE ARTIFICIELLEMENT LES CONDITIONS D'APPARITION DU DEFAUT AU RISQUE DE LE FAIRE DISPARAITRE, ET QUI AUTORISE L'UTILISATION DU PROGRAMME DE TEST NON MODIFIE D'UNE CARTE ELECTRONIQUE COMPLETE. C'EST CE QUI FAIT LA PARTICULARITE DE LA METHODE PAR RAPPORT AUX AUTRES DISPONIBLES ACTUELLEMENT. C'EST AUSSI L'ARGUMENT QUI A MOTIVE NOTRE CHOIX DANS UN CONTEXTE DE FABRICATION DE CARTES ELECTRONIQUES COMPLEXES
Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Beam optics
Languages : en
Pages : 216
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Author: F. Lombardi
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 9400914172
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 531
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This volume contains a collection of papers presented at the NATO Advanced Study Institute on ·Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI" held at Villa Olmo, Como (Italy) June 22 -July 3,1987. High Density technologies such as Very-Large Scale Integration (VLSI), Wafer Scale Integration (WSI) and the not-so-far promises of Ultra-Large Scale Integration (ULSI), have exasperated the problema associated with the testing and diagnosis of these devices and systema. Traditional techniques are fast becoming obsolete due to unique requirements such as limited controllability and observability, increasing execution complexity for test vector generation and high cost of fault simulation, to mention just a few. New approaches are imperative to achieve the highly sought goal of the • three months· turn around cycle time for a state-of-the-art computer chip. The importance of testing and diagnostic processes is of primary importance if costs must be kept at acceptable levels. The objective of this NATO-ASI was to present, analyze and discuss the various facets of testing and diagnosis with respect to both theory and practice. The contents of this volume reflect the diversity of approaches currently available to reduce test and diagnosis time. These approaches are described in a concise, yet clear way by renowned experts of the field. Their contributions are aimed at a wide readership: the uninitiated researcher will find the tutorial chapters very rewarding. The expert wiII be introduced to advanced techniques in a very comprehensive manner.
Author: Philippe Perdu
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 490
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NOUS UTILISONS LE CONTRASTE DE POTENTIEL LORS DE L'ANALYSE DE DEFAILLANCE DE CIRCUITS INTEGRES. CE CONTRASTE RESULTE DE L'OBSERVATION D'UN CIRCUIT INTEGRE EN FONCTIONNEMENT DANS UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE. LE RELEVE DE TENSIONS CONTINUES EST PERTURBE PAR L'ACCUMULATION DE CHARGES POSITIVES DANS LA COUCHE DE PASSIVATION DES CIRCUITS INTEGRES. L'ANALYSE DE CE PHENOMENE DE CHARGE, MONTRE LES LIMITES DU MODELE DE LA BARRIERE DE POTENTIEL. NOUS AVONS ETABLI UN MODELE ELECTROSTATIQUE BASE SUR LE CALCUL DU CHAMP ELECTRIQUE EN TOUT POINT DE L'ISOLANT ET DE LA CHAMBRE DU MICROSCOPE. PAR SES EFFETS SUR LA TRAJECTOIRE DES ELECTRONS SECONDAIRES, CE CHAMP MODIFIE LE SPECTRE ET LE TAUX DE REEMISSION. LES VALEURS THEORIQUES OBTENUES CORRESPONDENT AUX VALEURS EXPERIMENTALES ET MONTRENT QU'UN CONTRASTE DE POTENTIEL STATIQUE PEUT ETRE RELEVE SI LA COUCHE DE PASSIVATION EST RECOUVERTE D'UNE COUCHE CONDUCTRICE. LE SONT DES SOLUTIONS POSSIBLES POUR ELIMINER CETTE CHARGE, NOUS POUVONS GRAVER LA COUCHE DE PASSIVATION OU LA COUVRIR D'UNE COUCHE ANTISTATIQUE. LA GRAVURE SECHE, MOINS RISQUEE QUE LA GRAVURE PAR VOIE HUMIDE, PEUT INDUIRE DES DERIVES PARAMETRIQUES, FORMER DES TRANCHEES ET GRAVER DES JOINTS DE GRAIN. LE DEPOT DE LIQUIDE PRESENTE UNE FAIBLE REPRODUCTIBILITE, UN EFFET LIMITE DANS LE TEMPS ET UNE POLLUTION DU CIRCUIT. LES DEPOTS DE CARBONE PAR EVAPORATION SONT REPRODUCTIBLES, UNIFORMES ET OPTIMISABLES. ILS N'ALTERENT NI LE CIRCUIT NI SON COMPORTEMENT ELECTRIQUE. ILS NE SONT PAS EFFICACES DANS TOUS LES CAS. A L'AIDE DE TROIS PLANS D'EXPERIENCES, L'ETUDE DES CONSEQUENCES DES TECHNIQUES DE PREPARATION SUR LA SENSIBILITE DU COMPOSANT A L'IRRADIATION CAUSEE PAR LE FAISCEAU D'ELECTRONS PRIMAIRES MONTRE QUE LES CIRCUITS GRAVES SONT LES PLUS SENSIBLES
Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Science
Languages : en
Pages : 1736
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Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Electronics
Languages : en
Pages : 300
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Author:
Publisher:
ISBN:
Category : Research
Languages : en
Pages : 1220
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Sections 1-2. Keyword Index.--Section 3. Personal author index.--Section 4. Corporate author index.-- Section 5. Contract/grant number index, NTIS order/report number index 1-E.--Section 6. NTIS order/report number index F-Z.
Author: Yves Arden
Publisher: Psychology Press
ISBN: 0415112257
Category : English language
Languages : en
Pages : 866
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Book Description
The French-English volume of this highly acclaimed set consists of some 100,000 keywords in both French and English, drawn from the whole range of modern applied science and technical terminology. Covers over 70 subject areas, from engineering and chemistry to packaging, transportation, data processing and much more.
