Author: ERIC.. ZIEGLER
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Languages : fr
Pages : 189
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DES EMPILEMENTS DE COUCHES ALTERNEES A FAIBLE ET A FORTE DENSITES D'ELECTRONS DIFFUSEURS UTILISANT LA DIFFRACTION DE BRAGG PERMETTENT D'OBTENIR DES MIROIRS AVEC UN COEFFICIENT DE REFLEXION SIGNIFICATIF. ON A REALISE PAR PULVERISATION CATHODIQUE DES DEPOTS DE CARBONE ET DE TUNGSTENE DE L'ORDRE DE LA DIZAINE D'ANGSTROMS. LA SPECTROSCOPIE D'ELECTRONS ET LA REFLEXION DE RAYONS X RASANTS ONT PERMIS DE DEFINIR DES CONDITIONS DE REALISATION DE COUCHES PRESENTANT LES DENSITES ATTENDUES ET DE FAIBLE RUGOSITE. LA SIMULATION DU SIGNAL D'UN ELLIPSOMETRE AU COURS DE LA CROISSANCE D'UNE MULTICOUCHE MONTRE QUE L'ON PEUT UTILISER UN TEL CONTROLE IN SITU POUR ASSURER LA CROISSANCE D'UNE CENTAINE DE COUCHES
CONTRIBUTION A L'ETUDE DE LA REFLEXION DES RAYONS X MOUS
Author: ERIC.. ZIEGLER
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Languages : fr
Pages : 189
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DES EMPILEMENTS DE COUCHES ALTERNEES A FAIBLE ET A FORTE DENSITES D'ELECTRONS DIFFUSEURS UTILISANT LA DIFFRACTION DE BRAGG PERMETTENT D'OBTENIR DES MIROIRS AVEC UN COEFFICIENT DE REFLEXION SIGNIFICATIF. ON A REALISE PAR PULVERISATION CATHODIQUE DES DEPOTS DE CARBONE ET DE TUNGSTENE DE L'ORDRE DE LA DIZAINE D'ANGSTROMS. LA SPECTROSCOPIE D'ELECTRONS ET LA REFLEXION DE RAYONS X RASANTS ONT PERMIS DE DEFINIR DES CONDITIONS DE REALISATION DE COUCHES PRESENTANT LES DENSITES ATTENDUES ET DE FAIBLE RUGOSITE. LA SIMULATION DU SIGNAL D'UN ELLIPSOMETRE AU COURS DE LA CROISSANCE D'UNE MULTICOUCHE MONTRE QUE L'ON PEUT UTILISER UN TEL CONTROLE IN SITU POUR ASSURER LA CROISSANCE D'UNE CENTAINE DE COUCHES
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Languages : fr
Pages : 189
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DES EMPILEMENTS DE COUCHES ALTERNEES A FAIBLE ET A FORTE DENSITES D'ELECTRONS DIFFUSEURS UTILISANT LA DIFFRACTION DE BRAGG PERMETTENT D'OBTENIR DES MIROIRS AVEC UN COEFFICIENT DE REFLEXION SIGNIFICATIF. ON A REALISE PAR PULVERISATION CATHODIQUE DES DEPOTS DE CARBONE ET DE TUNGSTENE DE L'ORDRE DE LA DIZAINE D'ANGSTROMS. LA SPECTROSCOPIE D'ELECTRONS ET LA REFLEXION DE RAYONS X RASANTS ONT PERMIS DE DEFINIR DES CONDITIONS DE REALISATION DE COUCHES PRESENTANT LES DENSITES ATTENDUES ET DE FAIBLE RUGOSITE. LA SIMULATION DU SIGNAL D'UN ELLIPSOMETRE AU COURS DE LA CROISSANCE D'UNE MULTICOUCHE MONTRE QUE L'ON PEUT UTILISER UN TEL CONTROLE IN SITU POUR ASSURER LA CROISSANCE D'UNE CENTAINE DE COUCHES
Contribution à l'étude du phénomène de double réflexion en diffraction des rayons X
Author: Jean-Jacques Couderc (physicien.)
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Languages : fr
Pages : 102
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Pages : 102
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Contribution à l'étude du phénomène de double réflexion en diffraction des rayons X
Author: Jean-Jacques Couderc
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Languages : fr
Pages : 102
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Pages : 102
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Contribution à l'étude du rayonnement de fluorescence dans le domaine des rayons X mous
Author: Christiane Senemaud
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Languages : fr
Pages : 143
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Pages : 143
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CONTRIBUTION A L'ETUDE DE LA REFLEXION ET DE LA DIFFUSION RASANTES DES RAYONS X PAR LES SURFACES ET LES COUCHES MINCES
Author: Louis Névot
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Languages : fr
Pages : 4
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CALCUL DE L'INDICE DE REFRACTION DANS LE DOMAINE DE LONGUEUR D'ONDE DES RAYONS X. ETUDE DU DISPOSITIF EXPERIMENTAL ET ANALYSE DE QUELQUES FORMES CARACTERISTIQUES DE COURBES DE REFLEXION SPECULAIRE. INFLUENCE DES RUGOSITES SUR LA REFLEXION DES ONDES ELECTROMAGNETIQUES ET NOUVELLE METHODE D'ANALYSE DES INTERFACES RUGUEUSES ET INHOMOGENES.
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Languages : fr
Pages : 4
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CALCUL DE L'INDICE DE REFRACTION DANS LE DOMAINE DE LONGUEUR D'ONDE DES RAYONS X. ETUDE DU DISPOSITIF EXPERIMENTAL ET ANALYSE DE QUELQUES FORMES CARACTERISTIQUES DE COURBES DE REFLEXION SPECULAIRE. INFLUENCE DES RUGOSITES SUR LA REFLEXION DES ONDES ELECTROMAGNETIQUES ET NOUVELLE METHODE D'ANALYSE DES INTERFACES RUGUEUSES ET INHOMOGENES.
Contribution à l'étude de l'absorption des rayons X mous par les gaz
Author: François J.. Wuilleumier
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Languages : fr
Pages : 248
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Pages : 248
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Contribution à l'étude de l'absorption des rayons X mous par le béryllium, le carbone et différents plastiques
Author: Gilles Senemaud
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Languages : fr
Pages : 102
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Pages : 102
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Contribution à l'étude de l'influence des impuretés de substitution sur le profil des raies de diffraction X ; Interprétation par la théorie dynamique de la réflexion des rayons X ; Application à la diffusion du bore et du phosphore dans le silicium
Author: Jacques Burgeat
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Languages : fr
Pages : 386
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Pages : 386
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Contribution À l'Étude de l'État Actuel Du Problème Médical de la Quantitométrie Des Rayons X
Author: GRUYER-P.
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ISBN: 9782329178189
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Languages : fr
Pages : 98
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ISBN: 9782329178189
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Pages : 98
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Contribution à l'étude de la réflexion et de la diffusion rasantes des rayons X par les surfaces et les couches minces
Author: Louis Névot (auteur d'une thèse de sciences.)
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Languages : fr
Pages : 140
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Pages : 140
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