Validation des sequences de test des circuits integres complexes : contribution au developpement de l'outil informatique SOLINE PDF Download
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Author: Mohamed Abid (auteur en électronique).)
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Languages : fr
Pages : 0
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Author: Mohamed Abid (auteur en électronique).)
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Languages : fr
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Author: Mohamed Abid (professeur d'électronique).)
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Languages : fr
Pages : 233
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LE TRAVAIL PRESENTE DANS CE DOCUMENT A ETE REALISE AU SEIN DU GERII, DANS LE CADRE D'UNE COLLABORATION MENEE AVEC LE GROUPE D'EXPERTS 9 DE L'UNION TECHNIQUE DE L'ELECTRICITE SUR LA NORMALISATION DES OUTILS DE CONTROLE. IL CONCERNE L'ETUDE ET LA REALISATION D'UN OUTIL INFORMATIQUE, INTEGRE AU PROJET SOLINE, PERMETTANT LA COMPREHENSION ET LA VALIDATION DES SEQUENCES DE TEST DES CIRCUTIS INTEGRES COMPLEXES. L'ANALYSE CRITIQUE DES DIFFERENTES METHODES DE GENERATION DES SEQUENCES DE TEST FONCTIONNEL DES CIRCUITS COMPLEXES MONTRE LA NECESSITE DE VALIDER CES SEQUENCES APRES LEUR ELABORATION. L'APPROCHE UTILISEE ICI EST BASEE SUR L'IDENTIFICATION DU CIRCUIT ETUDIE A PARTIR DES RELATIONS ENTREES/SORTIES DEFINIES PAR LA SEQUENCE DE TEST: LES SOLUTIONS (MODELISEES PAR DES GRAPHES CARTESIENS) DEDUITES DE L'IDENTIFICATION SONT COMPAREES AU MODELE BON. PLUSIEURS JEUX DE CONTRAINTES PERMETTENT D'ADAPTER L'ANALYSE AU NIVEAU DE CONNAISSANCE APPORTEE PAR LE MODELE DU CIRCUIT. LE LOGICIEL REALISE A ETE UTILISE POUR VALIDER UNE SEQUENCE DE TEST D'UN CIRCUIT INTEGRE REEL (6800). NOUS CONCLUONS SUR LA FAISABILITE D'UNE TELLE APPROCHE QUI MET EN UVRE DES PROCESSUS COMBINATOIRES COMPLEXES
Author: Hélène Viallon
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Languages : fr
Pages : 169
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LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES PERMET DE VERIFIER LE FONCTIONNEMENT DES CIRCUITS DE PLUS EN PLUS COMPLEXES ELABORES DE NOS JOURS. EN AJOUTANT DES MODULES DE TEST SUR LES CIRCUITS INTEGRES EUX-MEMES (TEST INTEGRE), CETTE VERIFICATION PEUT ETRE EFFECTUEE A TOUS LES MOMENTS DE LA VIE DU COMPOSANT. LE BUT DE CETTE THESE EST D'AMELIORER L'ARCHITECTURE DU MODULE DE GENERATION DE VECTEURS DE TEST (GVT) QUI ASSURE LA PRODUCTION DES STIMULI DE TEST APPLIQUES AU CIRCUIT. DEUX NOUVELLES ARCHITECTURES ONT ETE PROPOSEES PERMETTANT DE METTRE EN EVIDENCE DES DEFAUTS COMME LES FAUTES DE DELAI OU DE COLLAGE DANS LES CIRCUITS SEQUENTIELS ET COMBINATOIRES. ELLES ALLIENT TOUTES LES DEUX LA GENERATION D'UNE SEQUENCE DETERMINISTE ET D'UNE SEQUENCE ALEATOIRE AFIN DE GARANTIR LE MEILLEUR TAUX DE COUVERTURE. LA PREMIERE ARCHITECTURE BASEE SUR UN CAS PARTICULIER DE MACHINE D'ETAT PRODUIT UNE SUITE ORDONNEE DE VECTEURS DE TEST DETERMINISTE COMPLETEE PAR UNE SEQUENCE ALEATOIRE. ON PEUT DONC L'UTILISER POUR METTRE EN EVIDENCE DES DEFAUTS DANS LES CIRCUITS SEQUENTIELS. LA DEUXIEME ARCHITECTURE PERMET LA DETECTION DE FAUTES DE DELAI DANS LES CIRCUITS COMBINATOIRES EN GENERANT DES PAIRES DE VECTEURS DE TEST. ELLE CONSISTE A CONSTRUIRE UN LFSR SPECIFIQUE EN FONCTION DES PAIRES DE VECTEUR A PRODUIRE. CERTAINES OPTIMISATIONS (UTILISATION DE VALEURS NON SPECIFIEES, SIMULATION INVERSE, ETUDE DES RELATIONS GVT/GENERATEURS AUTOMATIQUES DE VECTEURS DE TEST) SONT AUSSI PROPOSEES POUR REDUIRE LE COUT D'IMPLANTATION EN SURFACE TOUT EN GARANTISSANT LA QUALITE MAXIMALE DU TEST REALISE PAR LE GVT
Author:
Publisher: Ed. Techniques Ingénieur
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 14
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Author: Catherine Bellon
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 253
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Une approche fonctionnelle du test est nécessaire pour les circuits intégrés complexes. Dans une première partie, on propose une génération multi-niveaux des séquences de test, en partant de l'ensemble des activations fonctionnelles du circuit, tout en prenant en compte la structure fine des modules composant le circuit. Les méthodes proposées s'apparentent aux méthodes de test de logiciel et aux méthodes d'identification d'automates. Dans une deuxième partie, le test fonctionnel «usager» de microprocesseurs est étudié; on propose une méthode de test originale, qui prend en compte les signaux d'entrée asynchrones, et qui permet la génération automatique des programmes de test. Le testeur spécialisé et le système de génération des programmes de test sont présentés
Author: Hassan K. Reghbati
Publisher:
ISBN:
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 630
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Author: Raoul Velazco
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : en
Pages : 250
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Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils
Author: L. Harrison
Publisher:
ISBN:
Category : Air traffic control
Languages : en
Pages : 70
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Author: Ghassan Al-Hayek
Publisher:
ISBN:
Category :
Languages : fr
Pages : 146
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CETTE THESE A POUR OBJECTIF D'ELABORER UNE APPROCHE UNIFIEE POUR LA VALIDATION ET LE TEST DE CIRCUITS INTEGRES SPECIFIES AU NIVEAU FONCTIONNEL. DEUX MOTIVATIONS PRINCIPALES SONT A LA BASE DE CE TRAVAIL. D'UN COTE, LA COMPLEXITE CROISSANTE DES CIRCUITS D'ECHELLE TRES LARGE D'INTEGRATION (VLSI) REND LA GENERATION DES TESTS EN SE BASANT SUR DES MODELES DE FAUTES DE BAS NIVEAU (PAR EXEMPLE, LE NIVEAU LOGIQUE) TRES COUTEUSE. D'UN AUTRE COTE, LES PROGRES IMPORTANTS ACCOMPLIS DANS LE DOMAINE DE LA CONCEPTION ASSISTEE PAR ORDINATEUR (CAO) PERMETTENT ACTUELLEMENT DE SPECIFIER LES CIRCUITS AU NIVEAU FONCTIONNEL EN UTILISANT DES LANGAGES DEDIES TRES EVOLUES (PAR EXEMPLE, VHDL). L'APPROCHE PROPOSEE SE DEMARQUE DES METHODES DE GENERATION TRADITIONNELLES PUISQU'ELLE CONSIDERE QUE LES FAUTES ADAPTEES AU NIVEAU FONCTIONNEL SONT DES FAUTES LOGICIELLES. AINSI, CETTE THESE DEMONTRE QUE LE TEST PAR MUTATION, JUSQU'A PRESENT APPLIQUE UNIQUEMENT AU LOGICIEL, EST EGALEMENT EFFICACE AU NIVEAU MATERIEL. AU NIVEAU FONCTIONNEL, LE TEST PAR MUTATION CONSTITUE UNE METHODE DE VALIDATION EFFICACE ET SYSTEMATIQUE POUR DETECTER LES FAUTES DE CONCEPTION. IL GARANTIT UN ENSEMBLE DE CRITERES STANDARDS (PAR EXEMPLE, LA NORME IEEE-1008) TELS QUE LA COUVERTURE D'INSTRUCTIONS, DE BRANCHES, DE PREDICATS ET DE VALEURS EXTREMES. AU NIVEAU LOGIQUE, IL A ETE MONTRE QUE LE TEST PAR MUTATION (AVEC UNE BONNE ADAPTATION AU MATERIEL) EST EGALEMENT EFFICACE POUR DETECTER LES FAUTES MATERIEL. SUR UN ENSEMBLE DE CIRCUITS REPRESENTATIFS (COMBINATOIRES ET SEQUENTIELS), UNE COUVERTURE SUPERIEURE A 99% (EN MOYENNE) A ETE ASSURE SUR LES FAUTES LOGIQUES DE COLLAGE. AINSI, LE TEST PAR MUTATION PEUT ETRE A LA BASE D'UNE SOLUTION UNIQUE POUR TESTER LES CIRCUITS ELECTRONIQUES TOUT AU LONG DE LA CYCLE DE CONCEPTION.
Author: Jens Sparsø
Publisher: Springer Science & Business Media
ISBN: 1475733852
Category : Technology & Engineering
Languages : en
Pages : 348
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Principles of Asynchronous Circuit Design - A Systems Perspective addresses the need for an introductory text on asynchronous circuit design. Part I is an 8-chapter tutorial which addresses the most important issues for the beginner, including how to think about asynchronous systems. Part II is a 4-chapter introduction to Balsa, a freely-available synthesis system for asynchronous circuits which will enable the reader to get hands-on experience of designing high-level asynchronous systems. Part III offers a number of examples of state-of-the-art asynchronous systems to illustrate what can be built using asynchronous techniques. The examples range from a complete commercial smart card chip to complex microprocessors. The objective in writing this book has been to enable industrial designers with a background in conventional (clocked) design to be able to understand asynchronous design sufficiently to assess what it has to offer and whether it might be advantageous in their next design task.
