TECHNIQUES BIST POUR CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES PDF Download
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Author: JAIME.. VELASCO MEDINA
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Category :
Languages : fr
Pages : 207
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Book Description
LE DEVELOPPEMENT DES TECHNOLOGIES DE FABRICATION ET DES OUTILS DE CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES A PERMIS LA MISE EN OEUVRE D'APPLICATIONS NOUVELLES UTILISANT DES SIGNAUX-MIXTES ANALOGIQUES/NUMERIQUES, ET L'APTITUDE A INTEGRER DES SYSTEMES ANALOGIQUES ET MIXTES COMPLEXES DANS LA MEME PUCE CROIT RAPIDEMENT. DONC, LE TEST DE CES CIRCUITS NECESSITE UNE GRANDE ATTENTION, PARTICULIEREMENT SUR LE COUT DU TEST EN PRODUCTION QUI EST UN FACTEUR PROEMINENT DANS LE COUT TOTAL. EN OUTRE, LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES EST UNE TACHE TRES DIFFICILE QUI EST DEVENUE UN DOMAINE DE RECHERCHE TRES INTERESSANT DANS LES DERNIERES ANNEES. LE BUT PRINCIPAL DE CETTE THESE EST PORTE SUR LE DEVELOPPEMENT DE DEUX TECHNIQUES NOUVELLES D'AUTO-TEST INTEGRE (BIST) POUR LE TEST DES PARTIES ANALOGIQUES INTEGREES DANS LES CIRCUITS MIXTES, QUI FACILITENT LA GENERATION DU SIGNAL DE TEST ET L'OBSERVATION DU SIGNAL DE SORTIE, AUGMENTENT LA QUALITE ET LA FIABILITE DES CIRCUITS, ET REDUISENT LE COUT DE TEST. LE PREMIER OBJECTIF EST D'AMELIORER LE PROBLEME DE GENERATION DU SIGNAL DE TEST, QUI EST ACCOMPLI EN CONSIDERANT DES COURANTS COMME DES SIGNAUX DE TEST. EN UTILISANT CETTE APPROCHE, NOUS REPONDONS AUX EXIGENCES SUIVANTES : A) UNE GRANDE CONTROLABILITE DE L'APPLICATION DES SIGNAUX DE TEST, CAR ILS PEUVENT ETRE APPLIQUES INDIVIDUELLEMENT OU SIMULTANEMENT, B) L'APPLICATION DE TELS SIGNAUX DE TEST NE REQUIERT PLUS L'UTILISATION DE COMMUTATEURS, CE QUI DIMINUE LES DEGRADATIONS DES PERFORMANCES INTRODUITES PAR LE CIRCUIT DE TEST, ET C) UNE GRANDE OBSERVABILITE DE LA REPONSE DE TEST EST ACCOMPLIE, CE QUI MINIMISE LA PROBABILITE DE DECISION ERRONEE DE TEST, MAXIMISE LE TAUX DE COUVERTURE DE DEFAUTS, ET REDUIT LE TEMPS ET LE COUT DE TEST. LE DEUXIEME OBJECTIF POURSUIT L'OPTIMISATION DU PROBLEME DE LA MESURE DE LA REPONSE DE TEST, CE QUI EST ABORDE PAR L'UTILISATION DES CIRCUITS DE TRAITEMENT DE COURANT AFIN D'ANALYSER LA REPONSE DE TEST. CELA REPRESENTE CERTAINS AVANTAGES CONSIDERABLES PAR RAPPORT AUX TECHNIQUES CLASSIQUES. EN OUTRE, L'IMPACT DU CIRCUIT DE TEST SUR LES PERFORMANCES DU CIRCUIT TESTE EST NEGLIGEABLE. LE TROISIEME OBJECTIF VISE L'AUGMENTATION DE L'OBSERVABILITE DES BLOCS ANALOGIQUES DANS LES CIRCUITS MIXTES, CE QUI A ETE ACCOMPLI EN UTILISANT DES SIGNAUX AC/DC DE TEST A PARTIR DE DETECTEURS INTEGRES. LES SIGNAUX AC DE TEST PERMETTENT LA DETECTION DES ERREURS PENDANT L'OPERATION DES AMPLIFICATEURS OPERATIONNELS HAUTE-FREQUENCE. LES SIGNAUX DC DE TEST PERMETTENT DE DETECTER LES FAUTES QUI SONT DIFFICILES A DETECTER LORSQU'ON UTILISE LES SIGNAUX DE TEST SINUSOIDAUX DE TENSION. ENFIN, NOUS PROPOSONS L'INTEGRATION DES TECHNIQUES NOUVELLES DE BIST DANS UN ENVIRONNEMENT DE CAO, EN UTILISANT LES LANGAGES HAUT-NIVEAU DE DESCRIPTION COMPORTEMENTALE ANALOGIQUE.
Author: JAIME.. VELASCO MEDINA
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Languages : fr
Pages : 207
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LE DEVELOPPEMENT DES TECHNOLOGIES DE FABRICATION ET DES OUTILS DE CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES A PERMIS LA MISE EN OEUVRE D'APPLICATIONS NOUVELLES UTILISANT DES SIGNAUX-MIXTES ANALOGIQUES/NUMERIQUES, ET L'APTITUDE A INTEGRER DES SYSTEMES ANALOGIQUES ET MIXTES COMPLEXES DANS LA MEME PUCE CROIT RAPIDEMENT. DONC, LE TEST DE CES CIRCUITS NECESSITE UNE GRANDE ATTENTION, PARTICULIEREMENT SUR LE COUT DU TEST EN PRODUCTION QUI EST UN FACTEUR PROEMINENT DANS LE COUT TOTAL. EN OUTRE, LE TEST DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES EST UNE TACHE TRES DIFFICILE QUI EST DEVENUE UN DOMAINE DE RECHERCHE TRES INTERESSANT DANS LES DERNIERES ANNEES. LE BUT PRINCIPAL DE CETTE THESE EST PORTE SUR LE DEVELOPPEMENT DE DEUX TECHNIQUES NOUVELLES D'AUTO-TEST INTEGRE (BIST) POUR LE TEST DES PARTIES ANALOGIQUES INTEGREES DANS LES CIRCUITS MIXTES, QUI FACILITENT LA GENERATION DU SIGNAL DE TEST ET L'OBSERVATION DU SIGNAL DE SORTIE, AUGMENTENT LA QUALITE ET LA FIABILITE DES CIRCUITS, ET REDUISENT LE COUT DE TEST. LE PREMIER OBJECTIF EST D'AMELIORER LE PROBLEME DE GENERATION DU SIGNAL DE TEST, QUI EST ACCOMPLI EN CONSIDERANT DES COURANTS COMME DES SIGNAUX DE TEST. EN UTILISANT CETTE APPROCHE, NOUS REPONDONS AUX EXIGENCES SUIVANTES : A) UNE GRANDE CONTROLABILITE DE L'APPLICATION DES SIGNAUX DE TEST, CAR ILS PEUVENT ETRE APPLIQUES INDIVIDUELLEMENT OU SIMULTANEMENT, B) L'APPLICATION DE TELS SIGNAUX DE TEST NE REQUIERT PLUS L'UTILISATION DE COMMUTATEURS, CE QUI DIMINUE LES DEGRADATIONS DES PERFORMANCES INTRODUITES PAR LE CIRCUIT DE TEST, ET C) UNE GRANDE OBSERVABILITE DE LA REPONSE DE TEST EST ACCOMPLIE, CE QUI MINIMISE LA PROBABILITE DE DECISION ERRONEE DE TEST, MAXIMISE LE TAUX DE COUVERTURE DE DEFAUTS, ET REDUIT LE TEMPS ET LE COUT DE TEST. LE DEUXIEME OBJECTIF POURSUIT L'OPTIMISATION DU PROBLEME DE LA MESURE DE LA REPONSE DE TEST, CE QUI EST ABORDE PAR L'UTILISATION DES CIRCUITS DE TRAITEMENT DE COURANT AFIN D'ANALYSER LA REPONSE DE TEST. CELA REPRESENTE CERTAINS AVANTAGES CONSIDERABLES PAR RAPPORT AUX TECHNIQUES CLASSIQUES. EN OUTRE, L'IMPACT DU CIRCUIT DE TEST SUR LES PERFORMANCES DU CIRCUIT TESTE EST NEGLIGEABLE. LE TROISIEME OBJECTIF VISE L'AUGMENTATION DE L'OBSERVABILITE DES BLOCS ANALOGIQUES DANS LES CIRCUITS MIXTES, CE QUI A ETE ACCOMPLI EN UTILISANT DES SIGNAUX AC/DC DE TEST A PARTIR DE DETECTEURS INTEGRES. LES SIGNAUX AC DE TEST PERMETTENT LA DETECTION DES ERREURS PENDANT L'OPERATION DES AMPLIFICATEURS OPERATIONNELS HAUTE-FREQUENCE. LES SIGNAUX DC DE TEST PERMETTENT DE DETECTER LES FAUTES QUI SONT DIFFICILES A DETECTER LORSQU'ON UTILISE LES SIGNAUX DE TEST SINUSOIDAUX DE TENSION. ENFIN, NOUS PROPOSONS L'INTEGRATION DES TECHNIQUES NOUVELLES DE BIST DANS UN ENVIRONNEMENT DE CAO, EN UTILISANT LES LANGAGES HAUT-NIVEAU DE DESCRIPTION COMPORTEMENTALE ANALOGIQUE.
Author: Guillaume Prenat
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Languages : fr
Pages : 144
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Cette thèse de doctorat présente une technique de BIST dont l'interface est totalement numérique, pour le test fréquentiel de circuits analogiques et mixtes. L'objectif de cette approche est de faciliter les techniques de test à bas coût des Systèmes sur Puce, rendant le test des blocs mixtes compatibles avec l'utilisation de testeurs numériques. La génération de signal de test analogique est réalisée sur la puce elle-même par un filtrage passe-bas d'un train binaire encodé par un modulateur Sigma Delta. L'analyse harmonique de la réponse analogique est également réalisée sur la puce en utilisant une modulation par un signal carré et une modulation par un modulateur Sigma Delta. La génération de signal analogique et l'analyse de la réponse du circuit sous test étant programmables numériquement sur la puce, la compatibilité avec un testeur numérique à faible coût est assurée. L'optimisation des signatures de test est discutée en détail pour trouver un compromis entre temps et qualité du test.
Author: Nicolas Mechouk
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Languages : fr
Pages : 0
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Le test de circuits analogiques et mixtes est de plus en plus difficile du fait de l'intégration d'un nombre croissant de composants complexes au sein d'un même système. Les techniques de BIST permettent la réalisation d'un test efficace en intégrant au système les ressources nécessaires au test. Dans cette thèse, nous présentons une structure BIST pour les Convertisseurs Analogiques-Numériques (CAN) tout numérique. Le générateur de stimuli est un oscillateur Sigma-Delta numérique délivrant, après un simple filtrage analogique, une sinusoïde. L'analyse de la réponse se fait au moyen d'un banc de filtres numériques séparant les différentes composantes harmoniques du signal issu du CAN. A partir de ces composantes harmoniques, différents paramètres spectraux sont calculés. Afin de valider cette structure, différents prototypes ont été conçu sur FPGA. Les résultats expérimentaux confirment la capacité de notre structure à tester efficacement un CAN 12 bits ayant un SNR de 70 dB.
Author: Hassan Ihs
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Languages : fr
Pages : 163
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CETTE THESE PROPOSE DES TECHNIQUES DE TEST INTEGRE EN DOMAINE STATIQUE (DC) DES CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE. LE PREMIER CHAPITRE PRESENTE UNE VUE GLOBALE DES PROBLEMES LIES AU TEST DES CIRCUITS MIXTES. ENSUITE, UNE REVUE DE L'ETAT DE L'ART EN MATIERE DE TEST INTEGRE DE CES CIRCUITS EST PRESENTEE. LE DEUXIEME CHAPITRE TRAITE DE LA TESTABILITE EN COURANT ET EN TENSION DES CELLULES ANALOGIQUES ELEMENTAIRES. UNE ETUDE SUR LA TESTABILITE EN COURANT DE CELLULES DE TYPE AMPLIFICATEUR OPERATIONNEL NOUS A CONDUIT A DEGAGER UNE TECHNIQUE GENERALE DE TEST POUR CE TYPE DE CELLULES. CETTE TECHNIQUE CONSISTE A SATURER LA CELLULE SOUS TEST (PAR LE CONTROLE DE CES TENSIONS D'ENTREES) ET A OBSERVER LE NUD DE TENSION INTERNE CORRESPONDANT A LA SORTIE DE SON ETAGE DIFFERENTIEL. DES TAUX DE COUVERTURE DE FAUTES PROCHES DE 100% SONT ALORS OBTENUES. ENSUITE, NOUS AVONS MIS AU POINT UN CAPTEUR DE TENSION ORIGINAL PERMETTANT L'ANALYSE COMPLETE DE LA SIGNATURE ISSUE DU NUD SOUS TEST. CE CAPTEUR OFFRE LA POSSIBILITE DE REALISATION DE L'ANALYSE DE SIGNATURE A TRES FAIBLE COUT EN SURFACE DE SILICIUM AJOUTEE. LE TROISIEME CHAPITRE EST CONSACRE AU TEST INTEGRE DES CIRCUITS A CAPACITE COMMUTEES. APRES UN BREF RAPPEL DE LA TECHNIQUE DES CAPACITES COMMUTEES, DEUX TECHNIQUES DE TEST DE CES CIRCUITS TIRANT PROFIT DE LEUR NATURE PARTICULIERE ONT ETE PROPOSEES. LES DEUX TECHNIQUES UTILISENT LA POSSIBILITE DE RECONFIGURATION DES CIRCUITS A CAPACITES COMMUNAUTEES PAR DES MOYENS DE CVT POUR REALISER DES CIRCUITS FACILEMENT TESTABLES EN DC. LA PREMIERE PERMET DE MESURER DIRECTEMENT IN-SITU LES RAPPORTS CAPACITIFS INTERVENANT DANS LA FONCTION DE TRANSFERT D'UN CIRCUIT A CAPACITE COMMUTEES. LES PERFORMANCES DE CE CIRCUIT SONT ENSUITE EVALUEES PERMETTANT AINSI DE S'AFFRANCHIR DU PROBLEME DELICAT DE LA MODELISATION DE FAUTES ANALOGIQUES. LA DEUXIEME TECHNIQUE OFFRE LA POSSIBILITE DE REALISER L'INTEGRATION COMPLETE DES RESSOURCES DE TEST DES CIRCUITS A CAPACITES COMMUTEES. DEUX ALGORITHMES DE SYNTHESE HAUT NIVEAU DES RESSOURCES DE TESTABILITE MIS EN UVRE PAR LES DEUX TECHNIQUES ONT ETE PROPOSES. IL A AUSSI ETE MONTRE QU'UN DIMENSIONNEMENT ADEQUAT DES COMPOSANTS DE CVT PERMET DE MINIMISER LEUR INFLUENCE SUR LE FONCTIONNEMENT NORMAL DU CIRCUIT POUR UNE LARGE GAMME DE FREQUENCES. ENFIN, LES VALIDATIONS REALISEES MONTRENT LA VIABILITE DE CES DEUX TECHNIQUES.
Author:
Publisher: Ed. Techniques Ingénieur
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Languages : fr
Pages : 24
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Author: Matthieu Dubois
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Languages : fr
Pages : 0
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L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité de créer de nouvelles applications grâce à l'intégration de plus en plus de fonctionnalités sur une surface de plus en plus faible. Pour chaque entreprise, la compétitivité dépend du coût de fabrication mais aussi de la fiabilité du produit. Ainsi, la phase de test d'un circuit intégré, et plus particulièrement des circuits analogiques et mixtes, est le facteur prédominant dans les choix d'un compromis entre ces deux critères antagonistes, car son coût est désormais proche du coût de production. Cette tendance contraint les acteurs du marché à mettre en place de nouvelles solutions moins onéreuses. Parmi les recherches dans ce domaine, la conception en vue du test (DfT) consiste à intégrer pendant le développement de la puce, une circuiterie additionnelle susceptible d'en faciliter le test, voire d'effectuer un auto-test (BIST). Mais la sélection d'une de ces techniques nécessite une évaluation de leur capacité de différencier les circuits fonctionnels des circuits défaillants. Ces travaux de recherche introduisent une méthodologie d'estimation de la qualité d'une DfT ou d'un BIST dans le flot de conception de circuits analogiques et mixtes. Basée sur la génération d'un large échantillon prenant en compte l'impact des variations d'un procédé technologique sur les performances et les mesures de test du circuit, cette méthodologie calcule les métriques de test exprimant la capacité de chaque technique de détecter les circuits défaillants sans rejeter des circuits fonctionnels et d'accepter les circuits fonctionnels en rejetant les circuits défaillant. Ensuite, le fonctionnement d'un auto-test numérique adapté aux convertisseurs sigma-delta est présenté ainsi qu'une nouvelle méthode de génération et d'injection du stimulus de test. La qualité de ces techniques d'auto-test est démontrée en utilisant la méthodologie d'estimation des métriques de test. Enfin, un démonstrateur développé sur un circuit programmable démontre la possibilité d'employer une technique d'auto-test dans un système de calibrage intégré.
Author: Pascal Caunègre
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Languages : fr
Pages : 250
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LES RECHERCHES PRESENTES DANS CETTE THESE CONTRIBUENT AU TEST DES CIRCUITS ANALOGIQUES OU MIXTES PAR L'ETUDE DES MODELES DE FAUTES ET PAR LA REALISATION D'OUTILS DE SIMULATION DE FAUTES. LES DEFAUTS PHYSIQUES SURVENANT LORS DE LA FABRICATION DES CIRCUITS SONT INVENTORIES. DIFFERENTS MODELES ET TECHNIQUES D'INJECTION DE FAUTES PERMETTANT DE SIMULER CES DEFAUTS DANS LES CIRCUITS ANALOGIQUES SONT ENVISAGES ET EVALUES A L'AIDE DE CIRCUITS A BASE DE TRANSISTORS MOS OU BIPOLAIRES. L'EFFET CES DEFAUTS SUR UNE CELLULE LOGIQUE EST ANALYSE ET L'ADEQUATION DE MODELES DE FAUTES LOGIQUES EXISTANTS EST ETUDIEE. DE NOUVEAUX MODELES SONT INTRODUITS ET LA CONSTRUCTION D'UN CATALOGUE DE MODELES DE FAUTES EST PROPOSEE. LES COURT-CIRCUITS INTERVENANT ENTRE LES SIGNAUX ISSUS DE DEUX CELLULES LOGIQUES SONT TRAITES PAR UNE METHODE FAISANT INTERVENIR UN SIMULATEUR MIXTE ET DES MODELES COMPORTEMENTAUX DE CELLULE LOGIQUES. CETTE ETUDE EST EGALEMENT ETENDUE AUX COURT-CIRCUITS DANS LES CIRCUITS MIXTES. DES MODELES COMPORTEMENTAUX DE SYSTEMES DE TEST ANALOGIQUE SONT REALISES ET PERMETTENT DE CONCEVOIR UN BANC DE TEST VIRTUEL AIDANT A L'ECRITURE DES VECTEURS DE TEST. DES OUTILS DE SIMULATION DE FAUTES POUR CIRCUITS ANALOGIQUES OU MIXTES SONT DEVELOPPES PERMETTANT DE MESURER LE TAUX DE COUVERTURE DE FAUTES DU TEST ET DE SELECTIONNER LES VECTEURS DE TEST. L'ANALYSE DE LA SENSIBILITE DES MESURES AUX PARAMETRES DU CIRCUIT EST AUSSI MISE A PROFIT POUR CALCULER LE TAUX DE COUVERTURE DES FAUTES PARAMETRIQUES POUR DES CIRCUITS LINEAIRES
Author: François Lémery
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Languages : fr
Pages : 284
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Book Description
POUR POUVOIR INTEGRER SUR UNE SEULE PUCE DES SYSTEMES TOUJOURS PLUS COMPLEXES COMPORTANT A LA FOIS DES FONCTIONS NUMERIQUES ET ANALOGIQUES, L'UTILISATION D'UNE METHODOLOGIE DE CONCEPTION HIERARCHIQUE EST INDISPENSABLE. BASEE SUR LA MODELISATION COMPORTEMENTALE DE CHAQUE ELEMENT DU CIRCUIT, AVANT TOUT CHOIX D'ARCHITECTURE, UNE TELLE APPROCHE PERMET EN EFFET DE REDUIRE LES TEMPS DE SIMULATION, DE CONCEPTION ET D'AMELIORER LA FIABILITE. APPLIQUE AVEC SUCCES DANS LE DOMAINE DIGITAL, CE PARADIGME DOIT MAINTENANT ETRE ETENDU A L'ANALOGIQUE. CELA EST AUJOURD'HUI POSSIBLE GRACE A L'OFFRE RECENTE DE PUISSANTS LANGAGES DE MODELISATION COMPORTEMENTALE ANALOGIQUE ET MIXTE. CETTE THESE A PERMIS D'INTRODUIRE L'UTILISATION DE CES LANGAGES AU SEIN DE LA COMMUNAUTE DES CONCEPTEURS, PAR LE DEVELOPPEMENT D'UN ENVIRONNEMENT CAO D'AIDE A LA CONCEPTION DE MODELES ANALOGIQUES ET MIXTES. IL EST BASE SUR UNE BIBLIOTHEQUE FONCTIONNELLE ADAPTEE A LA MODELISATION DE CIRCUITS ELEMENTAIRES (AMPLIFICATEURS OPERATIONNELS) MAIS AUSSI DE SYSTEMES TRES COMPLEXES, TELS QU'UN SYSTEME DE SECURITE AIR-BAG. PLUSIEURS TECHNIQUES DE DESCRIPTION ONT ETE ABORDEES: MACRO-MODELISATION SPICE ET MODELISATION COMPORTEMENTALE A L'AIDE DE PLUSIEURS LANGAGES DONT LES PROPRIETES ONT ETE COMPAREES (FAS, CFAS, HDL-A ET MAST). CET ENVIRONNEMENT COMPORTE AUSSI UN OUTIL DE CARACTERISATION ANALOGIQUE QUI PERMET DE GENERER RAPIDEMENT LES PARAMETRES DES MODELES EN FONCTION DE MESURES DES PERFORMANCES DU CIRCUIT ASSOCIE, PAR DES SIMULATIONS ELECTRIQUES. EN OUTRE, POUR FACILITER LES ECHANGES DE MODELES ET TRANSFERER DES BIBLIOTHEQUES VERS DES LANGAGES DIFFERENTS, DES TRADUCTEURS AUTOMATIQUES ONT DU ETRE ELABORES, TELS QUE FAS VERS CFAS, FAS VERS MAST ET FAS VERS HDL-A
Author: François Lémery
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Languages : fr
Pages : 0
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Book Description
Pour pouvoir integrer sur une seule puce des systemes toujours plus complexes comportant a la fois des fonctions numeriques et analogiques, l'utilisation d'une methodologie de conception hierarchique est indispensable. Basee sur la modelisation comportementale de chaque element du circuit, avant tout choix d'architecture, une telle approche permet en effet de reduire les temps de simulation, de conception et d'ameliorer la fiabilite. Applique avec succes dans le domaine digital, ce paradigme doit maintenant etre etendu a l'analogique. Cela est aujourd'hui possible grace a l'offre recente de puissants langages de modelisation comportementale analogique et mixte. Cette these a permis d'introduire l'utilisation de ces langages au sein de la communaute des concepteurs, par le developpement d'un environnement cao d'aide a la conception de modeles analogiques et mixtes. Il est base sur une bibliotheque fonctionnelle adaptee a la modelisation de circuits elementaires (amplificateurs operationnels) mais aussi de systemes tres complexes, tels qu'un systeme de securite air-bag. Plusieurs techniques de description ont ete abordees: macro-modelisation spice et modelisation comportementale a l'aide de plusieurs langages dont les proprietes ont ete comparees (fas, cfas, hdl-a et mast). Cet environnement comporte aussi un outil de caracterisation analogique qui permet de generer rapidement les parametres des modeles en fonction de mesures des performances du circuit associe, par des simulations electriques. En outre, pour faciliter les echanges de modeles et transferer des bibliotheques vers des langages differents, des traducteurs automatiques ont du etre elabores, tels que fas vers cfas, fas vers mast et fas vers hdl-a.
Author: Corinne Daujan
Publisher:
ISBN:
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Languages : fr
Pages : 158
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Book Description
LE DEVELOPPEMENT DE LA MICROELECTRONIQUE A ETE CONSIDERABLE DEPUIS CES DIX DERNIERES ANNEES. IL SE TRADUIT PAR DES TAILLES DE COMPOSANTS EN CONSTANTE DIMINUTION OFFRANT DES POSSIBILITES D'INTEGRATION, POUR LES CIRCUITS INTEGRES, A TRES GRANDE ECHELLE. CETTE EVOLUTION A EU LIEU CONJOINTEMENT AVEC, ENTRE AUTRE, LE DEVELOPPEMENT DE NOUVEAUX LOGICIELS DE CAO, ET DE METHODES DE SIMULATION DE FAUTES DESTINEES A ANTICIPER LES CONSEQUENCES DES DEFAUTS DE PROCESS ET FACILITER AINSI L'INTERPRETATION DE CERTAINS RESULTATS DANS LA PHASE DE TEST DU CIRCUIT. CES METHODES, TRES AU POINT DANS LE DOMAINE DIGITAL, ONT PRIS UN CERTAIN RETARD DANS LE DOMAINE DE L'ANALOGIQUE DU A LA COMPLEXITE DE CELUI-CI. CE MANUSCRIT A POUR BUT DE PROPOSER UNE METHODE DE SIMULATION DE FAUTES ET D'ISOLATION DE FAUTES POUR LES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, BASES SUR LA TECHNIQUE DU DICTIONNAIRE DE FAUTES. ELLE EST ENTIEREMENT AUTOMATISABLE CAR NOUS AVONS CHOISI DE TRAITER LES DONNEES DE FACON BINAIRE. SON APPLICATION SUR DES CIRCUITS CONCRETS, PREALABLEMENT CONCUS POUR DES APPLICATIONS SPECIFIQUES, A PERMIS DE DETERMINER LES AVANTAGES AINSI QUE LES LIMITES DE CETTE METHODE.
