Author: Etienne Loiez
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Author: Etienne Loiez
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Languages : fr
Pages : 226

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Le diagnostic de systèmes analogiques soulève de nombreuses difficultés. La méthode du diagnostic à base de modèles, introduite en 1987 par de Kleer, Williams et Reiter, permet d'en résoudre certaines. Cette approche a révolutionné le diagnostic automatique notamment parce qu'elle nécessite uniquement la description de la structure des systèmes et des modèles de bon fonctionnement des composants. Un problème à résoudre est la modélisation des grandeurs caractéristiques des systèmes analogiques. Celles-ci varient continûment dans le temps alors que les appareils de mesure fournissent des données discrètes. Ceci rend difficile l'encadrement de la dérivée des grandeurs et a fortiori le test des équations différentielles décrivant le comportement des systèmes. Cette thèse est consacrée a l'étude d'une nouvelle modélisation: les suites de bandes temporelles. Modéliser une grandeur sur une fenêtre temporelle donnée consiste à l'encadrer par deux fonctions polynomiales par morceaux. Afin d'utiliser cette modélisation dans le cadre du diagnostic, nous avons défini les opérations d'addition, de multiplication et d'intégration ainsi qu'une famille d'algorithmes permettant de vérifier la cohérence d'une équation différentielle avec les suites de bandes temporelles représentant les quantités de l'équation. Cette étude a abouti à l'établissement de deux systèmes de diagnostic. Le premier est basé sur un calcul des suites de bandes temporelles représentant les grandeurs du système à partir de celles représentant les autres grandeurs. Le deuxième consiste à générer un ensemble d'équations différentielles en éliminant de toutes les manières possibles les grandeurs non mesurables des équations initiales. La réalisation d'un tel système de diagnostic a démontré l'avantage des suites de bandes temporelles : grâce à l'opération d'intégration, l'observation des dérivées des grandeurs n'est pas nécessaire.

Author: Laszlo Monostori
Publisher: Springer
ISBN: 3540455175
Category : Computers
Languages : en
Pages : 969

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This book constitutes the refereed proceedings of the 14th International Conference on Industrial and Engineering Applications of Artificial Intelligence and Export Systems, IEA/AIE 2001, held in Budapest, Hungary in June 2001. The 104 papers presented were carefully reviewed and selected from a total of 140 submissions. The proceedings offer topical sections on searching, knowledge representation, model-based reasoning, machine learning, data mining, soft computing, evolutionary algorithms, distributed problem solving, export systems, pattern and speech recognition, vision language processing, planning and scheduling, robotics, autonomous agents, design, control, manufacturing systems, finance and business, software engineering, and intelligent tutoring.

Author: Amar Bengharbi
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Languages : fr
Pages : 296

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LE PROBLEME DU TEST ET DIAGNOSTIC A TOUJOURS ETE UN THEME DE RECHERCHE ET DE DEVELOPPEMENT IMPORTANT DANS LE DOMAINE DE L'ELECTRONIQUE. EN EFFET, LE TEST A UNE PLACE ESSENTIELLE DANS LA FABRICATION ET LA MAINTENANCE DES CIRCUITS ELECTRONIQUES. ALORS QUE LE TEST DES CIRCUITS NUMERIQUES A FAIT L'OBJET DE NOMBREUSES ETUDES, QUI ONT PERMIS LA MISE AU POINT DE DIFFERENTES METHODES, LE TEST DES CIRCUITS ANALOGIQUES ET MIXTES (ANALOGIQUE/DIGITALE) N'A PAS CONNU CE MEME ESSOR. A L'HEURE ACTUELLE, ON RECENSE QUELQUES TRAVAUX SUR LE PROBLEME DU TEST DES CIRCUITS ANALOGIQUES. CEPENDANT, LA MAJORITE DES METHODES PROPOSEES PRESENTENT DES LIMITATIONS ET DES DIFFICULTES DE MISE EN OEUVRE LIEES AU PROBLEME DE LA TOLERANCE, LA MODELISATION ET LA NON-LINEARITE DES COMPOSANTS. CE TRAVAIL PRESENTE, D'UNE PART, UNE APPLICATION DES METHODES D'IDENTIFICATION AU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ELECTRONIQUES ANALOGIQUES ET D'AUTRE PART, UNE ETUDE D'APPROCHES NEURONALES POUR LE TEST ET DIAGNOSTIC DE CES DERNIERS. DANS UN PREMIER TEMPS, UNE ETUDE THEORIQUE DES METHODES D'IDENTIFICATION CLASSIQUE EST EXPOSEE. NOUS AVONS EXAMINE LES DIFFERENTS CHOIX POUR ADAPTER CES METHODES AU PROBLEME DU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ANALOGIQUES. A TRAVERS DES EXEMPLES DE SIMULATION SUR DES CIRCUITS LINEAIRES, NOUS AVONS VALIDE CES APPROCHES. COMPTE TENU DES LIMITATIONS CONSTATEES SUR CES METHODES, NOUS AVONS PROPOSE D'ETUDIER DES APPROCHES BASEES SUR LES RESEAUX DE NEURONES AFIN DE CONTOURNER CES LIMITATIONS. UNE BREVE ETUDE THEORIQUE DES RESEAUX DE NEURONES ET DE CERTAINS MODELES NEURONAUX A ETE EXPOSEE. A LA SUITE DE CETTE ETUDE, NOUS AVONS PROPOSE PLUSIEURS APPROCHES UTILISANT CES TECHNIQUES (RESEAUX DE NEURONES : BACKPROPAGATION, LVQ, RBF, SYSTEMES MULTI-RESEAUX) POUR L'IDENTIFICATION ET LA CLASSIFICATION EN VUE DU TEST ET DIAGNOSTIC DES CIRCUITS ANALOGIQUES. CES APPROCHES ONT ETE VALIDEES PAR SIMULATION ET EXPERIMENTATION POUR DES SIMPLE ET DOUBLE-DEFAUTS. LES AVANTAGES DES APPROCHES NEURONALES PROPOSEES DANS CE TRAVAIL SONT : LA DISPENSE DE LA MODELISATION MATHEMATIQUE DU CIRCUIT, LA DIMINUTION DU NOMBRE DE POINTS DE TEST, LA POSSIBILITE D'APPLICATION DE TELLES TECHNIQUES A LA FOIS A DES CIRCUITS LINEAIRES ET NON-LINEAIRES.

Author: Amar Bengharbi
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Languages : fr
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Author: Firas Mohamed
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Languages : fr
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Les circuits et systemes analogiques sont de plus en plus utilises dans le cadre d'applications nouvelles. Ils deviennent egalement plus complexes, ce qui cree la necessite de disposer de methodes automatiques pour leurs tests et leurs diagnostics qui a eux deux representent un probleme crucial dans ce domaine. Bien que le test et le diagnostic des circuits digitaux ait ete developpe avec succes au point qu'il a pu etre automatise, son developpement pour les ca en est encore a ses premiers pas. Il y a deux raisons principales a cette situation, il n'y avait pas un besoin pressant dans l'industrie jusqu'a recemment, d'une part, et d'autre part, la nature electrique des ca est tres complexe. Cette these, qui se place dans ce contexte, a pour objectif de developper une nouvelle approche pour le test et le diagnostic des ca et mixtes. Une voie relativement peu exploree, mais prometteuse eu egard aux resultats obtenus pour le diagnostic d'autres dispositifs et systemes dynamiques, consiste en l'etude d'approches de l'ia pour la resolution de problemes. Nous avons etudie les differentes approches possibles et notamment les approches suivantes : l'approche a base de modeles profonds, l'approche qualitative et l'approche a base de logique floue. Le resultat de cette these a donne lieu a une nouvelle approche developpee utilisant la logique floue et ses techniques. Cette nouvelle approche a ete implementee dans un systeme nomme flames. Flames, qui est concu pour faire le diagnostic des ca, a apporte plusieurs ameliorations de l'etat de l'art notamment en definissant les tolerances comme des intervalles flous. Il est aussi capable de realiser la simulation des circuits et de choisir les meilleurs points a tester lorsque le diagnostic reste ambigu. Cette derniere possibilite est realisee par une approche semi-qualitative a base du raisonnement qualitatif et de logique floue. Il est possible de la developper pour le test et le diagnostic des systemes mixtes, puisqu'elle s'applique aux circuits digitaux egalement. Finalement, les differents resultats obtenus confirment la validite de l'approche developpee et implementee. Mots-clefs : test et diagnostic, circuits analogiques, logique floue, approches d'intelligence artificielle.

Author: Firas Mohamed
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Languages : fr
Pages : 160

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LES CIRCUITS ET SYSTEMES ANALOGIQUES SONT DE PLUS EN PLUS UTILISES DANS LE CADRE D'APPLICATIONS NOUVELLES. ILS DEVIENNENT EGALEMENT PLUS COMPLEXES, CE QUI CREE LA NECESSITE DE DISPOSER DE METHODES AUTOMATIQUES POUR LEURS TESTS ET LEURS DIAGNOSTICS QUI A EUX DEUX REPRESENTENT UN PROBLEME CRUCIAL DANS CE DOMAINE. BIEN QUE LE TEST ET LE DIAGNOSTIC DES CIRCUITS DIGITAUX AIT ETE DEVELOPPE AVEC SUCCES AU POINT QU'IL A PU ETRE AUTOMATISE, SON DEVELOPPEMENT POUR LES CA EN EST ENCORE A SES PREMIERS PAS. IL Y A DEUX RAISONS PRINCIPALES A CETTE SITUATION, IL N'Y AVAIT PAS UN BESOIN PRESSANT DANS L'INDUSTRIE JUSQU'A RECEMMENT, D'UNE PART, ET D'AUTRE PART, LA NATURE ELECTRIQUE DES CA EST TRES COMPLEXE. CETTE THESE, QUI SE PLACE DANS CE CONTEXTE, A POUR OBJECTIF DE DEVELOPPER UNE NOUVELLE APPROCHE POUR LE TEST ET LE DIAGNOSTIC DES CA ET MIXTES. UNE VOIE RELATIVEMENT PEU EXPLOREE, MAIS PROMETTEUSE EU EGARD AUX RESULTATS OBTENUS POUR LE DIAGNOSTIC D'AUTRES DISPOSITIFS ET SYSTEMES DYNAMIQUES, CONSISTE EN L'ETUDE D'APPROCHES DE L'IA POUR LA RESOLUTION DE PROBLEMES. NOUS AVONS ETUDIE LES DIFFERENTES APPROCHES POSSIBLES ET NOTAMMENT LES APPROCHES SUIVANTES : L'APPROCHE A BASE DE MODELES PROFONDS, L'APPROCHE QUALITATIVE ET L'APPROCHE A BASE DE LOGIQUE FLOUE. LE RESULTAT DE CETTE THESE A DONNE LIEU A UNE NOUVELLE APPROCHE DEVELOPPEE UTILISANT LA LOGIQUE FLOUE ET SES TECHNIQUES. CETTE NOUVELLE APPROCHE A ETE IMPLEMENTEE DANS UN SYSTEME NOMME FLAMES. FLAMES, QUI EST CONCU POUR FAIRE LE DIAGNOSTIC DES CA, A APPORTE PLUSIEURS AMELIORATIONS DE L'ETAT DE L'ART NOTAMMENT EN DEFINISSANT LES TOLERANCES COMME DES INTERVALLES FLOUS. IL EST AUSSI CAPABLE DE REALISER LA SIMULATION DES CIRCUITS ET DE CHOISIR LES MEILLEURS POINTS A TESTER LORSQUE LE DIAGNOSTIC RESTE AMBIGU. CETTE DERNIERE POSSIBILITE EST REALISEE PAR UNE APPROCHE SEMI-QUALITATIVE A BASE DU RAISONNEMENT QUALITATIF ET DE LOGIQUE FLOUE. IL EST POSSIBLE DE LA DEVELOPPER POUR LE TEST ET LE DIAGNOSTIC DES SYSTEMES MIXTES, PUISQU'ELLE S'APPLIQUE AUX CIRCUITS DIGITAUX EGALEMENT. FINALEMENT, LES DIFFERENTS RESULTATS OBTENUS CONFIRMENT LA VALIDITE DE L'APPROCHE DEVELOPPEE ET IMPLEMENTEE. MOTS-CLEFS : TEST ET DIAGNOSTIC, CIRCUITS ANALOGIQUES, LOGIQUE FLOUE, APPROCHES D'INTELLIGENCE ARTIFICIELLE.

Author: International Joint Conferences on Artificial Intelligence
Publisher: Morgan Kaufmann
ISBN: 9781558604803
Category : Artificial intelligence
Languages : en
Pages : 1720

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Author: GILLES.. MOUROT
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Languages : fr
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LE TRAVAIL PRESENTE EST CONSACRE AU DIAGNOSTIC DES SYSTEMES INDUSTRIELS PAR RECONNAISSANCE DES FORMES. LES PRINCIPES DU DIAGNOSTIC PAR RECONNAISSANCE DES FORMES SONT PRESENTES DANS LE CHAPITRE I. LA PREMIERE PARTIE DECRIT LES DEUX GRANDES ETAPES D'UN SYSTEME DE DIAGNOSTIC PAR RECONNAISSANCE DES FORMES, A SAVOIR L'APPRENTISSAGE DU SYSTEME DE DIAGNOSTIC ET DE SON EXPLOITATION EN LIGNE, EN INSISTANT SUR LE CARACTERE ADAPTATIF D'UN TEL SYSTEME. LES DEUX PARTIES SUIVANTES SONT CONSACREES A L'ETUDE DE LA CAPACITE DE LA RECONNAISSANCE DES FORMES A RESOUDRE LE PROBLEME DU DIAGNOSTIC DE SYSTEMES INDUSTRIELS. POUR CELA, UNE REVUE DES DIFFERENTES METHODES EST PRESENTEE EN METTANT L'ACCENT SUR LES CONSIDERATIONS THEORIQUES ET PRATIQUES AUXQUELLES UN UTILISATEUR EST CONFRONTE. LES CRITERES PRIS EN COMPTE SONT LES PROPRIETES ET LES DOMAINES D'APPLICATION DES METHODES DE RECONNAISSANCE DES FORMES, L'INFLUENCE DE LA TAILLE DE L'ENSEMBLE D'APPRENTISSAGE ET DU NOMBRE DE VARIABLES, AINSI QUE LEURS ROBUSTESSES. A CES CRITERES S'AJOUTENT DES CONTRAINTES SUPPLEMENTAIRES LIEES A LA COMPLEXITE DES METHODES ET A LEURS COUTS D'UTILISATION. DANS LE DEUXIEME CHAPITRE, NOUS ETUDIONS LE PROBLEME DE LA CONSTITUTION DE L'ENSEMBLE D'APPRENTISSAGE DANS LE CAS NON SUPERVISE. CETTE ETAPE EST CRUCIALE POUR LES PERFORMANCES DU SYSTEME DE DIAGNOSTIC ET ELLE EST PARTICULIEREMENT DIFFICILE A RESOUDRE DANS CE CONTEXTE. APRES AVOIR POSITIONNE LE PROBLEME EN PRESENTANT UNE REVUE DES DIFFERENTES PROCEDURES ET METHODES UTILISEES, NOUS PROPOSONS UNE PROCEDURE D'APPRENTISSAGE NON SUPERVISE POUR PALLIER LES PRINCIPAUX INCONVENIENTS DES METHODES DECRITES. CETTE PROCEDURE EST BASEE PRINCIPALEMENT SUR LA CLASSIFICATION FLOUE DE L'ENSEMBLE DES DONNEES, SUR LA VALIDATION FLOUE ET L'INTERPRETATION DE LA CLASSIFICATION FLOUE OBTENUE. UNE REVUE DES DIFFERENTES METHODES FLOUES DE CLASSIFICATION ET DE VALIDATION EST PRESENTEE AINSI QU'UNE ETUDE THEORIQUE ET PRATIQUE DE LEURS PROPRIETES

Author: Alexandre Philippot
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Languages : fr
Pages : 210

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Le diagnostic des défaillances des systèmes industriels est à l'origine de nombreux travaux depuis ces dernières années. Il est défini comme l'opération permettant de détecter et de localiser un défaut. La détection de défauts consiste à rendre une décision sur l'état du système qu'il soit en fonctionnement normal ou défaillant. Cette opération est ensuite suivie d'une étape de localisation du défaut afin d'identifier ses causes et son origine. Ce mémoire de thèse présente une approche décentralisée avec coordinateur pour le diagnostic des Systèmes à Evénements Discrets (SED) et plus particulièrement pour les systèmes manufacturiers composés de capteurs et d'actionneurs discrets. Cette approche considère la Partie Opérative (PO) comme un ensemble d'éléments composé d'un actionneur et d'un ensemble de capteurs. La construction des diagnostiqueurs s'appuie sur une modélisation modulaire des éléments de la Partie Opérative, d'un modèle des spécifications de la Partie Commande (PC) et d'une information temporelle liée à la réactivité des actionneurs. Chaque diagnostiqueur représente un observateur de l'état du système affecté d'une étiquette de décision, cette décision étant le résultat de l'observation des événements, des conditions sur les états du système et/ou sur le temps de retard entre événements. Afin de définir la capacité de l'ensemble des diagnostiqueurs locaux à diagnostiquer un ensemble de défauts dans un délai fini, une notion de codiagnosticabilité a été établie. Dans cette thèse, cette notion tient compte de la modélisation des défauts à base d'événements, à base d'états et à base d'informations temporelles. Elle détermine ainsi l'ensemble des défauts que la structure décentralisée peut diagnostiquer. L'ensemble des décisions locales doit être ensuite agrégé afin d'obtenir une décision globale sur l'état du système. Cette fusion est réalisée par un coordinateur construit à partir d'un ensemble de règles permettant de résoudre les différents problèmes d'indécision et d'ambiguïté entre les diagnostiqueurs locaux. Ce coordinateur permet d'obtenir des performances de diagnostic équivalentes à celles d'un diagnostiqueur centralisé. Deux exemples d'applications manufacturières illustrent l'efficacité et l'intérêt de la structure décentralisée en terme d'explosion combinatoire. Un simulateur basé sur Stateflow de Matlab permet de tester et valider l'approche proposée.